日本産業標準調査会(日本産業規格(旧:日本工業規格))

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規格番号標題備考ハンドブック情報
タイトル年版巻号
JIS C 60721-1:1995環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさの分類電子Ⅰ200721
JIS C 60721-1:2009環境条件の分類-第1部:環境パラメータとその厳しさ電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-1:2009環境条件の分類-第1部:環境パラメータとその厳しさ電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-2-1:1995環境条件の分類 自然環境の条件-温度及び湿度電子Ⅰ200721
JIS C 60721-2-1:1995環境条件の分類 自然環境の条件-温度及び湿度電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-2-1:1995環境条件の分類 自然環境の条件-温度及び湿度電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-2-2:1996環境条件の分類 自然環境の条件-降水及び風電子Ⅰ200721
JIS C 60721-2-2:1996環境条件の分類 自然環境の条件-降水及び風電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-2-2:1996環境条件の分類 自然環境の条件-降水及び風電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-2-3:1997環境条件の分類 自然環境の条件-気圧電子Ⅰ200721
JIS C 60721-2-3:1997環境条件の分類 自然環境の条件-気圧電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-2-3:1997環境条件の分類 自然環境の条件-気圧電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-2-4:1999環境条件の分類-自然環境の条件-日射及び温度電子Ⅰ200721
JIS C 60721-2-4:1999環境条件の分類-自然環境の条件-日射及び温度電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-2-4:1999環境条件の分類-自然環境の条件-日射及び温度電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-2-5:2004環境条件の分類-第2-5部:自然環境の条件-じんあい、砂及び塩霧電子Ⅰ200721
JIS C 60721-2-5:2004環境条件の分類-第2-5部:自然環境の条件-じんあい、砂及び塩霧電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-2-5:2004環境条件の分類-第2-5部:自然環境の条件-じんあい、砂及び塩霧電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-2-7:2006環境条件の分類-第2部:自然環境の条件-第7節:動植物系電子Ⅰ200721
JIS C 60721-2-7:2006環境条件の分類-第2部:自然環境の条件-第7節:動植物系電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-2-7:2006環境条件の分類-第2部:自然環境の条件-第7節:動植物系電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-2-8:2007環境条件の分類-第2-8部:自然環境の条件-火災電子Ⅰ200721
JIS C 60721-2-8:2007環境条件の分類-第2-8部:自然環境の条件-火災電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-2-8:2007環境条件の分類-第2-8部:自然環境の条件-火災電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-2-9:2015環境条件の分類-第2-9部:自然環境の条件-測定した衝撃及び振動のデータによる環境条件の規定:保管、輸送及び使用中の条件電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-3-0:1995環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 通則電子Ⅰ200721
JIS C 60721-3-0:1995環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 通則電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-3-0:1996環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 通則電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-3-1:1997環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 保管条件電子Ⅰ200721
JIS C 60721-3-1:2009環境条件の分類-第3-1部:環境パラメータ及びその厳しさのグループ別分類-保管条件電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-3-1:2009環境条件の分類-第3-1部:環境パラメータ及びその厳しさのグループ別分類-保管条件電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-3-2:2001環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさの分類 輸送条件電子Ⅰ200721
JIS C 60721-3-2:2001環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさの分類-輸送条件電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-3-2:2001環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさの分類-輸送条件電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-3-3:1997環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋内固定使用の条件電子Ⅰ200721
JIS C 60721-3-3:1997環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋内固定使用の条件電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-3-3:1997環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋内固定使用の条件電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-3-4:1997環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋外固定使用の条件電子Ⅰ200721
JIS C 60721-3-4:1997環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋外固定使用の条件電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-3-4:1997環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋外固定使用の条件電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-3-5:2004環境条件の分類-第3-5部:環境パラメータとその厳しさのグループ別分類-車載機器の条件電子Ⅰ200721
JIS C 60721-3-5:2004環境条件の分類-第3-5部:環境パラメータとその厳しさのグループ別分類-車載機器の条件電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-3-5:2004環境条件の分類-第3-5部:環境パラメータとその厳しさのグループ別分類-車載機器の条件電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-3-6:2006環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類-第3-6部:船舶搭載機器の条件電子Ⅰ200721
JIS C 60721-3-6:2006環境条件の分類-第3-6部:環境パラメータとその厳しさのグループ別分類-船舶搭載機器の条件電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-3-6:2006環境条件の分類-環境パラメータとその厳しさのグループ別分類-第3-6部:船舶搭載機器の条件電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-3-7:1999環境条件の分類-環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 携帯及び移動使用の条件電子Ⅰ200721
JIS C 60721-3-7:1999環境条件の分類-環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 携帯及び移動使用の条件電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-3-7:1999環境条件の分類-環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 携帯及び移動使用の条件電子Ⅰ 試験201521
JIS C 60721-3-9:2000環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 製品内部の環境条件電子Ⅰ200721
JIS C 60721-3-9:2000環境条件の分類-環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 製品内部の環境条件電子Ⅰ 試験201121
JIS C 60721-3-9:2000環境条件の分類-環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 製品内部の環境条件電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61000-3-2-3-2:2003電磁両立性-第3-2部:限度値-高周波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20A以下の機器)電磁両立性(EMC)200470
JIS C 61000-3-2:2005電磁両立性-第3-2部:限度値-高周波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20A以下の機器)電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-3-2:2011電磁両立性-第3-2部:限度値-高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20A以下の機器)電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-3-2:2011電磁両立性-第3-2部:限度値-高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20A以下の機器)電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-2:1999電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第2節:静電気放電イミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-2:1999電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第2節:静電気放電イミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-2:2012電磁両立性-第4-2部:試験及び測定技術-静電気放電イミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-3:2005電磁両立性-第4-3部:試験及び測定技術-放射無線周波電磁界イミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-3:2005電磁両立性-第4-3部:試験及び測定技術-放射無線周波電磁界イミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-3:2012電磁両立性-第4-3部:試験及び測定技術-放射無線周波電磁界イミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-4:1999電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第4節:電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-4:2007電磁両立性-第4-4部:試験及び測定技術-電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-4:2015電磁両立性-第4-4部:試験及び測定技術-電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-5:1999電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第5節:サージイミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-5:2009電磁両立性-第4-5部:試験及び測定技術-サージイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-5:2009電磁両立性-第4-5部:試験及び測定技術-サージイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-6:2006電磁両立性-第4-6部:試験及び測定技術-無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-6:2006電磁両立性-第4-6部:試験及び測定技術-無線周波電磁界によって誘導された伝導妨害に対するイミュニティ電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-6:2017電磁両立性-第4-6部:試験及び測定技術-無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-7:1997電磁両立性 第4部:試験及び測定技術 第7節:電力供給システム及びこれに接続する機器のための高調波及び次数間高調波測定方法及び計装に関する指針電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-7:2007電磁両立性-第4-7部:試験及び測定技術電力供給システム及びこれに接続する機器のための高調波及び次数間高調波測定方法及び計装に関する指針電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-7:2017電磁両立性-第4-7部:試験及び測定技術-電力供給システム及びこれに接続する機器のための高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-8:2003電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第8節:電源周波数磁界イミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-8:2003電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第8節:電源周波数磁界イミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-8:2016電磁両立性-第4-8部:試験及び測定技術-電源周波数磁界イミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-11:2003電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第11節:電圧ディップ、短時間停電及び電圧変化に対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-11:2008電磁両立性-第4-11部:試験及び測定技術-電圧ディップ、短時間停電及び電圧変化に対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-11:2008電磁両立性-第4-11部:試験及び測定技術-電圧ディップ、短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-14:2004電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第14節:電圧変動イミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-14:2004電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第14節:電圧変動イミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-16:2004電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第16節:直流から150kHzまでの伝導コモンモード妨害に対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-16:2004電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第16節:直流から150kHzまでの伝導コモンモード妨害に対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-16:2017電磁両立性-第4-16部:試験及び測定技術-直流から150kHzまでの伝導コモンモード妨害に対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-17:2004電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第17節:直流入力電源端子におけるリプルに対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-17:2004電磁両立性-第4部:試験及び測定技術-第17節:直流入力電源端子におけるリプルに対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-20:2006電磁両立性-第4-20部:試験及び測定技術-TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及びイミュニティ試験電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-4-20:2006電磁両立性-第4-20部:試験及び測定技術-TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及びイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-20:2014電磁両立性-第4-20部:試験及び測定技術-TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及びイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-22:2014電磁両立性-第4-22部:試験及び測定技術-全電波無響室(FAR)における放射エミッション及びイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-4-34:2008電磁両立性-第4-34部:試験及び測定技術-1相当たりの入力電流が16Aを超える電気機器の電圧ディップ、短時間停電及び電圧変化に対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-4-34:2017電磁両立性-第4-34部:試験及び測定技術-1相当たりの入力電流が16Aを超える電気機器の電圧ディップ、短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-6-1:2003電磁両立性-第6部:共通規格-第1節:住宅、商業及び軽工業環境におけるイミュニティ電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-6-1:2008電磁両立性-第6-1部:共通規格-住宅、商業及び軽工業環境におけるイミュニティ電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-6-1:2008電磁両立性-第6-1部:共通規格-住宅、商業及び軽工業環境におけるイミュニティ電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61000-6-2:2003電磁両立性-第6部:共通規格-第2節:工業環境におけるイミュニティ電磁両立性(EMC)200770
JIS C 61000-6-2:2008電磁両立性-第6-2部:共通規格-工業環境におけるイミュニティ電磁両立性(EMC)201170
JIS C 61000-6-2:2008電磁両立性-第6-2部:共通規格-工業環境におけるイミュニティ電磁両立性(EMC)201770
JIS C 61188-7:2014プリント配線板及びプリント配線板実装-設計及び使用-第7部:CADライブラリに用いる電子部品の基準点及び配置方向電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 61191-1:2006プリント配線板実装-第1部:通則-表面実装及び関連する実装技術を用いた電気機器及び電子機器用はんだ付け実装要求事項電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 61191-1:2006プリント配線板実装-第1部:通則-表面実装及び関連する実装技術を用いた電気機器及び電子機器ようはんだ付け実装要求事項電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 61191-1:2015プリント配線板実装-第1部:通則-表面実装及び関連する実装技術を用いた電気機器・電子機器用はんだ付け実装要求事項電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 61191-2:2006プリント配線板実装-第2部:部門規格-表面実装はんだ付け要求事項電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 61191-2:2006プリント配線板実装-第2部:部門規格-表面実装はんだ付け要求事項電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 61191-2:2015プリント配線板実装-第2部:部門規格-表面実装はんだ付け要求事項電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 61191-3:2006プリント配線板実装-第3部:部門規格-挿入実装はんだ付け要求事項電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 61191-3:2006プリント配線板実装-第3部:部門規格-挿入実装はんだ付け要求事項電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 61191-3:2006プリント配線板実装-第3部:部門規格-挿入実装はんだ付け要求事項電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 61191-4:2006プリント配線板実装-第4部:部門規格-端子実装はんだ付け要求事項電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 61191-4:2006プリント配線板実装-第4部:部門規格-端子実装はんだ付け要求事項電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 61191-4:2006プリント配線板実装-第4部:部門規格-端子実装はんだ付け要求事項電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 61191-6:2011プリント配線板実装-第6部:BGA及びLGAのはんだ接合部のボイド評価基準及び測定方法電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 61280-1:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-中心波長及びスペクトラム幅測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201122-2
JIS C 61280-1-3:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-中心波長及びスペクトラム幅測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201522-2
JIS C 61280-2-1:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-受信感度及びオーバロード測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201122-2
JIS C 61280-2-1:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-受信感度及びオーバロード測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201522-2
JIS C 61280-2-2:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-光アイパターン、光波長及び消光比測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201122-2
JIS C 61280-2-2:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-光アイパターン、光波長及び消光比測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201522-2
JIS C 61280-2-3:2013光ファイバ通信サブシステム試験方法-第2-3部:ジッタ及びワンダ測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201522-2
JIS C 61280-2-8:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-Q値測定を用いた低ビット誤り率の決定法電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201122-2
JIS C 61280-2-8:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-Q値測定を用いた低ビット誤り率の決定法電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201522-2
JIS C 61280-2-9:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-高密度波長分割多重システムの光信号対雑音比測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201122-2
JIS C 61280-2-9:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-高密度波長分割多重システムの光信号対雑音比測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201522-2
JIS C 61280-2-10:2012光ファイバ通信サブシステム試験方法-第2-10部:レーザ送信器の時間分解チャープ及びアルファファクタ測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201522-2
JIS C 61280-2-11:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-光信号品質強化のための強度ヒストグラフ評価を用いた平均化Q値測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201122-2
JIS C 61280-2-11:2010光ファイバ通信サブシステム試験方法-光信号品質強化のための強度ヒストグラフ評価を用いた平均化Q値測定電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201522-2
JIS C 61281-1:2010光ファイバ通信サブシステム通則電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201122-2
JIS C 61281-1:2010光ファイバ通信サブシステム通則電子Ⅱ-2オプトエレクトロニクス201522-2
JIS C 61300-1:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第1部:通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-1:2015光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第1部:通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-1:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-1部:正弦波振動試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-2:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-2部:繰返しかん合試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-2-2:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-2部:繰返しかん合試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-4:2015光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-4部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-5:2013光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-5部:光ファイバクランプ強度試験(ねじり)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-6:2014光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-6部:かん合部締結強度試験(軸方向引張り)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-7:2015光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-7部:かん合部締結強度試験(曲げモーメント)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-9:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-9部:衝撃試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-11:2015光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-11部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向圧縮)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-12:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-12部:落下衝撃試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-2-12:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-12部:落下衝撃試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-14:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-14部:光パワー損傷のしきい値試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-2-14:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-14部:光パワー損傷のしきい値試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-15:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-15部:結合部ねじり試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-17:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-17部:低温試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-2-17:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-17部:低温試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-18:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-18部:高温試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-2-18:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-18部:高温試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-19:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-19部:高温高湿試験(定常状態)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-2-19:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-19部:高温高湿試験(定常状態)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-21:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-21部:混合温湿度サイクル試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-22:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-22部:温度サイクル試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-26:2013光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-26部:塩水噴霧試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-27:2014光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-27部:ダスト試験(層流)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-45:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-45部:浸水試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-2-45:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-45部:浸水試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-46:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-46部:湿熱サイクル試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-2-46:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-46部:湿熱サイクル試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-47:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-47部:熱衝撃試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-2-48:2010光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-47部:温湿度サイクル試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-2-48:2010光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第2-47部:温湿度サイクル試験電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-1:2013光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-1部:外観検査及び機械的検査電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-2:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-3:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-3部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-3-3:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-3部:挿入損失及び反射減衰量変化のモニタ方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-4:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-4部:挿入測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-3-4:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-4部:損失測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-6:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-6部:反射減衰量測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-3-6:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-6部:反射減衰量測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-7:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-7部:シングルモード光部品の光損失及び反射減衰量の波長依存性測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-11:2013光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-8部:結合力及び離脱力測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-15:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-15部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂点偏心量測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-16:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-16部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半径測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-17:2013光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-17部:斜め研磨光ファイバコネクタのフェルール端面角度測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-20:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-3-20:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-20部:波長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-22:2014光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-22部:フェルール押圧力測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-23:2013光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-23部:フェルール端面からの光ファイバ引込み量測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-24:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-24部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタのキー位置精度測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-25:2014光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-25部:フェルール及び光ファイバ取付け直角PC端面フェルールの同心度測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-26:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-26部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-3-26:2011光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-26部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-27:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-27部:多心光ファイバコネクタプラグの穴位置測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-28:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-28部:過渡損失測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-3-28:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-28部:過渡損失測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-30:2010光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-30部:多芯光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバー位置測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-3-30:2010光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-30部:多芯光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-31:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-31部:光ファイバ光源の結合パワー比測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 61300-3-31:2009光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-31部:光ファイバ光源の結合パワー比測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-32:2013光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-32部:光受動部品の偏波モード分散測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-33:2014光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-33部:ピンゲージを用いた割りスリーブのフェルール引抜力測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-34:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-34部:ランダム接続時の挿入損失電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-36:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-36部:光ファイバコネクタフェルールの内径及び外径の測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-40:2014光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-40部:偏波面保存光ファイバ付き光ファイバコネクタプラグの偏波消光比測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61300-3-43:2012光ファイバ接続デバイス及び光受動部品-基本試験及び測定手順-第3-43部:光ファイバ光源のモードトランスファファンクション測定電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 61340-2-1:2006静電気-測定方法-材料及び製品の静電気電荷拡散性能の測定方法電子Ⅰ200721
JIS C 61340-2-1:2006静電気-測定方法-材料及び製品の静電気電荷拡散性能の測定方法電子Ⅰ 試験201121
JIS C 61340-2-1:2006静電気-測定方法-材料及び製品の静電気電荷拡散性能の測定方法電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61340-2-2:2013静電気-第2-2部:測定方法-帯電特性の測定電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61340-3-1:2006静電気-静電気の影響をシュミレーションする方法-人体モデル(HBM)-部品試験電子Ⅰ200721
JIS C 61340-3-1:2010静電気-第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法-人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形電子Ⅰ 試験201121
JIS C 61340-3-1:2010静電気-第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法-人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61340-3-2:2011静電気-第3-2部:静電気の影響をシミュレーションする方法-マシンモデル(MM)の静電気放電試験波形電子Ⅰ 試験201121
JIS C 61340-3-2:2011静電気-第3-2部:静電気の影響をシミュレーションする方法-マシンモデル(MM)の静電気放電試験波形電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61340-4-1:2008静電気-第4-1部:特定応用のための標準的な試験方法-床仕上げ材及び施工床の電気抵抗電子Ⅰ 試験201121
JIS C 61340-4-1:2008静電気-第4-1部:特定応用のための標準的な試験方法-床仕上げ材及び施工床の電気抵抗電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61340-4-3:2009静電気-第4-3部:特定応用のための標準的な試験方法-履物電子Ⅰ 試験201121
JIS C 61340-4-3:2009静電気-第4-3部:特定応用のための標準的試験方法-履物電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61340-4-4:2009静電気-第4-4部:特定応用のための標準的試験方法-フレキシブルコンテナの静電気的分類電子Ⅰ 試験201121
JIS C 61340-4-4:2009静電気-第4-4部:特定応用のための標準的試験方法-フレキシブルコンテナの静電気的分類電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61340-4-5:2007静電気-特定応用のための標準的試験方法-人体と組み合わせた履物及び床システムの静電気防止性能の評価方法電子Ⅰ 試験201121
JIS C 61340-4-5:2007静電気-特定応用のための標準的試験方法-人体と組み合わせた履物及び床システムの静電気防止性能の評価方法電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61340-4-7:2011静電気-第4-7部:特定応用のための標準的試験方法-イオナイザ電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61340-4-8:2014静電気-第4-8部:特定応用のための標準的試験方法-放電遮蔽-バッグ電子Ⅰ 試験201521
JIS C 61558-1:2008変圧器、電源装置、リアクトル及びこれに類する装置の安全性-第1部:通則及び試験電気安全201171
JIS C 61760-4:2016表面実装技術-第4部:感湿性部品の分類、包装、表示及び取扱い電子Ⅲ-1201823-1
JIS C 62024-1:2006高周波誘導部品-電気的特性及び測定方法-第1部:ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ電子Ⅲ-1200723-1
JIS C 62024-1:2011高周波誘導部品-電気的特性及び測定方法-第1部:ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ電子Ⅲ-1 部品201123-1
JIS C 62024-1:2011高周波誘導部品-電気的特性及び測定方法-第1部:ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ電子Ⅲ-1201823-1
JIS C 62024-2:2011高周波誘導部品-電気的特性及び測定方法-第2部:DC/DCコンバータ用インダクタの定格電流の決め方電子Ⅲ-1201823-1
JIS C 62025-1:2006高周波誘導部品-非電気特性及び測定方法-第1部:電子機器及び通信機器用表面実装固定インダクタ電子Ⅲ-1200723-1
JIS C 62025-1:2011高周波誘導部品-非電気特性及び測定方法-第1部:電子機器及び通信機器用表面実装固定インダクタ及びフェライトビーズ電子Ⅲ-1 部品201123-1
JIS C 62025-1:2011高周波誘導部品-非電気特性及び測定方法-第1部:電子機器及び通信機器用表面実装固定インダクタ及びフェライトビーズ電子Ⅲ-1201823-1
JIS C 62025-2:2009高周波誘導部品-非電気特性及び測定方法-第2部:非電気的特性の試験方法電子Ⅲ-1 部品201123-1
JIS C 62025-2:2009高周波誘導部品-非電気的特性及び測定方法-第2部:非電気的特性の試験方法電子Ⅲ-1201823-1
JIS C 62137-1-1:2010表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-1部:引きはがし強度試験方法電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 62137-1-1:2010表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-1部:引きはがし強度試験方法電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62137-1-2:2010表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-2部:横押しせん断強度試験方法電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 62137-1-2:2010表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-2部:横押しせん断強度試験方法電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62137-1-3:2011表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-3部:繰返し落下試験方法電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62137-1-4:2011表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-4部:繰返し曲げ試験方法電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62137-1-5:2011表面実装技術-はんだ接合部耐久性試験方法-第1-5部:せん断疲労試験方法電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62137-3:2014電子実装技術-第3部:はんだ接合部耐久性試験方法の選定指針電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62137-4:2016電子実装技術-第4部:エリアアレイ形表面実装部品のはんだ接合部耐久性試験方法電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62246-1:2016リードスイッチ-第1部:品目別通則電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62246-1-1:2016リードスイッチ-第1-1部:品質評価及び試験方法電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62739-1:2015溶融鉛フリーはんだを用いたウエーブソルダリング装置の侵食試験方法-第1部:表面処理を施さない金属材料の侵食試験方法電子Ⅲ-2 部品201823-2
JIS C 62813:2016電気・電子機器用リチウムイオンキャパシタ-電気的特性の試験方法電子Ⅲ-1201823-1