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【図書】 半導体材料・デバイスの評価 パラメータ測定と解析評価の実際 貸出可

第３版 -- ディーター・Ｋ．・シュロゥダー／著 -- シーエムシー出版 -- ２０１２．５ -- --

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 状態
県川 川公開 /549.8/357/ 81586778 図書 〇

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タイトル 半導体材料・デバイスの評価
タイトルカナ ﾊﾝﾄﾞｳﾀｲ ｻﾞｲﾘｮｳ ﾃﾞﾊﾞｲｽ ﾉ ﾋｮｳｶ
副書名 パラメータ測定と解析評価の実際
版表示 第３版
責任表示 ディーター・Ｋ．・シュロゥダー ／著, 嶋田恭博 ／訳  
出版地 東京
出版者 シーエムシー出版  
出版年 ２０１２．５
ページ数 ５８３ｐ
大きさ ２１ｃｍ
本体価格 ２５０００円
タイトル注記（タイトルに関する注記） 原書注記：Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ　ｍａｔｅｒｉａｌ　ａｎｄ　ｄｅｖｉｃｅ　ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｚａｔｉｏｎ．３ｒｄ　ｅｄ．の翻訳　文献等：文献あり　索引あり
採用分類表 9,8
採用分類表による分類記号 549.8,549.8
ISBN 4-7813-0479-3
ISBN13桁 978-4-7813-0479-3
一般件名 半導体
URL https://www.klnet.pref.kanagawa.jp/winj/opac/switch-detail-iccap.do?bibid=1104353864

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