-- 日本電子部品信頼性センター/編 -- 日本電子部品信頼性センター -- 2009.3 -- --

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 状態
県川 川書凍結 /549.7/104/2008 81396483 図書

資料詳細

タイトル 負バイアス温度不安定性(NBTI)現象とランダム・テレグラフ・シグナル(RTS)ノイズ現象
タイトルカナ フ バイアス オンド フアンテイセイ NBTI ゲンショウ ト ランダム テレグラフ シグナル RTS ノイズ ゲンショウ
叢書名 故障物理研究委員会研究成果報告書
叢書名カナ コショウ ブツリ ケンキュウ イインカイ ケンキュウ セイカ ホウコクショ
叢書巻次 平成20年度
責任表示 日本電子部品信頼性センター /編  
出版地 東京
出版者 日本電子部品信頼性センター  
出版年 2009.3
ページ数 137p
大きさ 30cm
タイトル注記(タイトルに関する注記) 一般注記:文献あり
採用分類表 9
採用分類表による分類記号 549.7
言語等 日本
出版国 日本
一般件名 大規模集積回路
URL https://www.klnet.pref.kanagawa.jp/winj/opac/switch-detail-iccap.do?bibid=1103798524