電子情報技術産業協会(電子情報技術産業協会規格)

発行元の規格情報: http://www.jeita.or.jp(一般社団法人 電子情報技術産業協会)

所蔵規格一覧

規格番号 タイトル 備考 ファイルNO
EIAJ AE-2001A:1995 制御用シリアルインタフェース(物理層)の接続標準 NO.1
EIAJ AE-4006A:2001 ボルト締めランジュバン型超音波振動子の振動特性の測定法 NO.1
EIAJ AE-5007:1994 医用タッチプルーフ形電極リードコネクタ NO.1
EIAJ AE-5008:1995 医用電気機器の個別規格の様式 NO.1
JEITA AE-5009:2011 眼振計 NO.1
JEITA AE-5010:2012 機能検査オキシメータ 安全と基本性能に関する個別要求事項 NO.1
EIAJ AE-5201A:2002 小電力医用テレメータの運用規定 NO.1
EIAJ AE-6008:1997 リアルタイムパルス反射法超音波診断装置の性能試験方法 NO.1
JEITA AER-4001:2001 超音波洗浄機用振動子の測定法 NO.1
JEITA AER-4002:2003 フェライト磁歪振動子の測定法及び形状 NO.1
EIAJ AER-6002:1998 超音波画像診断装置のEMC試験方法 NO.1
JEITA AER-6009:2005 超音波振動子表面温度測定法 NO.1
EIAJ AEX-2001:1995 ファジィ推論エンジン性能・仕様表現要領 NO.1
EIAJ AEX-2002:1996 ファジィシステム記述言語標準仕様 NO.1
JEITA CP-1104A:2005 AV機器の表示用語及び図記号 付録CD-ROMあり 公開
JEITA CP-1104A-1:2010 AV機器の表示用語及び図記号(追補1) NO.1
JEITA CP-1105:2009 AV機器のオーディオ信号に関する特性表示方法 NO.1
JEITA CP-1203A:2007 AV機器のアナログ信号の接続要件 NO.1
JEITA CP-1205A:2001 赤外線空間伝送システムの副搬送波周波数割当 NO.1
JEITA CP-1208:2004 赤外線アナログ音声・映像伝送システム NO.2
JEITA CP-1209:2004 赤外線空間データ伝送システム NO.2
JEITA CP-1212:2002 デジタルオーディオ用オプティカルインタフェース(民生用) 旧EIAJ CP-1201改正 NO.2
JEITA CP-1221:2007 可視光通信システム NO.2
JEITA CP-1222:2007 可視光IDシステム NO.2
JEITA CP-1301:2006 AV機器のオーディオ信号に関する測定方法 NO.2
EIAJ CP-2102:1992 オーディオアンプの定格及び性能の表示 旧STC-019 NO.2
EIAJ CP-2150:2000 ディジタルオーディオ機器の測定方法 NO.2
EIAJ CP-2201:1994 AMステレオ放送受信機試験方法 NO.2
EIAJ CP-2301A:2000 DATレコーダの測定方法 NO.2
EIAJ CP-2302A:2000 DATレコーダ測定用テープレコード NO.2
EIAJ CP-2303A:2000 DATレコーダの特殊性能試験方法 NO.2
EIAJ CP-2304A:2000 DATレコーダ特殊性能試験用テープレコード NO.2
EIAJ CP-2307:1999 DATカセットシステム 薄手テープ及びカセット認識穴 NO.2
EIAJ CP-2313A:1997 定格及び性能の表示(カセット式テープレコーダ) NO.2
EIAJ CP-2316:2005 磁気テープアナログ録音再生システム NO.2
JEITA CP-2318:2010 放送用音声ファイルフォーマット NO.2
JEITA CP-2319:2012 放送用音声ポン出しプレイリストフォーマット NO.3
JEITA CP-2402A:2002 CDプレーヤの測定方法 NO.3
JEITA CP-2403A:2002 CDプレーヤの測定用ディスク NO.3
JEITA CP-2404:2001 ミニディスクレコーダの測定方法 NO.3
JEITA CP-2903B:2012 防磁形スピーカシステムの分類及び測定方法 NO.3
JEITA CP-2905B:2003 ポータブル・オーディオ機器の電池持続時間の測定方法 NO.3
JEITA CP-3202B:2009 ビデオカメラ及びビデオ一体型カメラ仕様標準 NO.3
JEITA CP-3203:2002 ビデオカメラ用テストチャート仕様書 NO.3
JEITA CP-3351:2002 DVDプレーヤの測定方法 NO.3
JEITA CP-3451B:2010 ディジタルスチルカメラ用画像ファイルフォーマット規格Exif 2.21 統合版 本体CD-ROM
CIPA DC-008-2010
書庫
JEITA CP-3451B:2010 Exchangeable image file format for digital still cameras: Exif Unified Version 2.3 英文のみ
本体CD-ROM
CIPA DC-008-2010
書庫
JEITA CP-3461B:2010 カメラファイルシステム規格DCF2.0統合版 本体CD-ROM
CIPA DC-009-2010
書庫
JEITA CP-3461B:2010 Design rule for Camera File system:DCF Unified Version 2.0 英文のみ
本体CD-ROMCIPA DC-009-2010
書庫
JEITA CP-3901A:2010 デジタルカラー写真プリント画像保存性試験方法 本体CD-ROM
英文別記
中文別記
書庫
Digital Color Photo Print Stability Evaluation
数?彩色照片印刷物的保存性??方法
JEITA CP-4104A:2005 テレビ機器の操作方向 NO.3
JEITA CP-4108B:2012 ハイビジョンディスプレイ試験方法 NO.3
EIAJ CP-4120:2000 Interface between Digital Tuner and Television Receiver D-Connector EIAJ CP-4120の英訳版 NO.3
JEITA CP-4120A:2010 デジタルチューナとテレビジョン受信機のD端子接続 NO.3
JEITA CP-4401B:2010 CSデジタルテレビ放送受信機の試験方法 NO.3
JEITA CP-5102B:2006 衛星放送受信アンテナ試験方法(機械的及び環境的性能) NO.3
JEITA CP-5104C:2011 衛星放送受信アンテナ試験方法(電気的性能) NO.3
JEITA CP-5110A:2012 デジタル衛星放送受信信号のCN比測定方法 NO.3
JEITA CP-5111:2009 地上デジタルテレビジョン受信信号の測定方法 NO.3
JEITA CP-5112:2011 地上・衛星テレビジョン放送及びFM放送の受信アンテナ性能表示方法 NO.4
JEITA CP-5113:2011 地上デジタルテレビジョン放送及びFM放送受信アンテナ試験方法 NO.4
JEITA CP-5205B:2011 ホーム受信システム機器の測定方法 NO.4
JEITA CP-5206C:2011 ホーム受信システム機器の性能表示方法 NO.4
JEITA CP-5207A:2009 衛星放送IF伝送システム測定方法 NO.4
JEITA CP-6101:2012 デジタルモニタインタフェース GVIF NO.4
EIAJ CPR-1202:1995 アスペクト比の異なる映像信号の識別信号と伝送方法(Ⅰ) NO.4
EIAJ CPR-1204:1997 VBIを用いたビデオID信号伝送方法(525ラインシステム) NO.4
EIAJ CPR-1204-1:1998 VBIを用いたビデオID信号伝送方法(525Pシステム)(追補) NO.4
EIAJ CPR-1204-2:2000 VBIを用いたビデオID信号伝送方法(750p、1125iシステム) NO.4
JEITA CPR-1205:2002 デジタルオーディオインタフェース関連規格ガイド 旧EIAJ CP-1201改正 NO.4
JEITA CPR-1206:2011 CSデジタル放送向けHD録画デジタルインタフェース技術レポート NO.4
JEITA CPR-1206-1:2012 CSデジタル放送向けHD録画デジタルインタフェース技術レポート(追補1) NO.4
EIAJ CPR-1901:1992 音声受信機・テレビジョン受信機及び関連機器の妨害波の許容値及び測定方法 旧CPC-002改正 NO.4
EIAJ CPR-1902:1997 AV機器用コネクタのピンアサインメント(コネクタピンの信号割り付け) NO.4
EIAJ CPR-2202:1992 緊急警報受信機試験方法 旧CPZ-001 NO.4
EIAJ CPR-2204:1993 チューナの定格及び性能の表示 旧STC-018改正 NO.4
EIAJ CPR-2312:1991 カセット式テープレコーダの連続動作性能および耐久性 NO.5
JEITA CPR-2601:2010 メモリオーディオの音質表示 NO.5
JEITA CPR-3104:2012 録画基準画像 NO.5
JEITA CPR-3451A:2010 デジタルカメラ(ビデオ/スチル)の動画及び音声の圧縮記録表示方法 NO.5
JEITA CPR-4101A:2005 衛星放送受信機の表示と定格 NO.5
JEITA CPR-5103A:2006 衛星放送受信アンテナのニアフィールド測定法 NO.5
JEITA CPR-5104A:2009 CSデジタル放送受信用アンテナの定格と所要性能 NO.5
JEITA CPR-5105A:2011 BS・110度CS放送受信アンテナの定格と所要性能 NO.5
JEITA CPR-5106A:2011 地上デジタルテレビジョン放送受信アンテナの電気特性 NO.5
JEITA CPR-5204F:2011 ホーム受信システム機器 NO.5
JEITA CPR-6101:2012 ディスプレイモニタインタフェース概要 NO.5
JEITA CPX-1209:2001 赤外線高速リモコンシステム 公開
JEITA ED-2502B:2011 液晶表示デバイスの画面サイズ呼称方法 英訳併記 NO.5
Defining method of display size for Liquid Crystal Display devices
JEITA ED-2511B:2007 液晶表示デバイスに関する用語及び文字記号 NO.5
JEITA ED-2521B:2009 液晶表示パネル及びその構成材料の測定方法 NO.5
EIAJ ED-2522:1995 マトリクス形液晶表示モジュール測定方法(バックライトを用いる液晶表示モジュール) NO.5
EIAJ ED-2523:2001 反射型液晶表示モジュール測定方法(マトリクス型液晶表示モジュール) NO.5
EIAJ ED-2531B:2004 液晶表示デバイスの環境試験方法 NO.5
EIAJ ED-2700:1997 カラープラズマディスプレイデバイスの画面サイズ呼称方法 英訳併記 NO.6
Defining method of display size for Colour Plasma Display Device
EIAJ ED-2701:2003 カラープラズマディスプレイデバイスに関する用語及び文字記号 英訳併記 NO.6
Terminology and letter symbols for Colour Plasma Display Devices
JEITA ED-2702:2011 プラズマディスプレイデバイスに関する用語及び文字記号 英訳併記 NO.6
Terminology and letter symbols for Plasma Display Devices
EIAJ ED-2710A:2002 カラープラズマディスプレイモジュール測定方法 英訳併記 NO.6
Measuring methods for colour plasma display modules
JEITA ED-2712:2009 プラズマディスプレイモジュール測定方法(Ⅱ)-セル欠点、焼付き、輝度寿命- 英訳併記 NO.6
Measuring methods for plasma display modules(Ⅱ) -Cell defectImage sticking and Luminance lifetime-"
JEITA ED-2713:2010 プラズマディスプレイモジュール測定方法(Ⅲ)-動画表示消費電力、パネル発光効率- 英訳併記 NO.6
Measuring methods for plasma display modules(Ⅲ) -Module power consumption using video signal and panel luminous efficacy-
JEITA ED-2714:2011 プラズマディスプレイモジュール測定方法(Ⅳ)-視野角、ストリーキング、フリッカ、動画解像度- 英訳併記 NO.6
Measuring methods for plasma display modules(Ⅳ) -Viewing angle Image streaking Flicker and Moving picture resolution-
JEITA ED-2715:2011 プラズマディスプレイモジュール測定方法(Ⅴ)-音響ノイズ- 英訳併記 NO.6
Measuring methods for plasma display modules(Ⅳ) -Acoustic noise-
EIAJ ED-2720:2004 プラズマディスプレイモジュールのメカニカルインタフェース 英訳併記 NO.6
Mechanical interface for plasma display modules
JEITA ED-2721:2008 プラズマディスプレイモジュールの電気インタフェース 英訳併記 NO.6
Electrical interface for plasma display modules
JEITA ED-2730:2006 プラズマディスプレイモジュールの環境試験方法 英訳併記 NO.6
Climatic and mechanical testing methods for plasma display modules
JEITA ED-2731:2012 プラズマディスプレイモジュール環境試験方法(Ⅱ)-パネル強度- 英訳併記 NO.6
Climatic and mechanical testing methods for plasma display modules(Ⅱ)-Panel strength-
EIAJ ED-2800:2003 有機ELデバイスに関する用語及び文字記号 英訳併記 NO.7
Terms definition and Letter symbols for Organic EL Devices
EIAJ ED-2810:2005 有機ELディスプレイモジュール測定方法 英訳併記 NO.7
Measuring methods for Organic EL display modules
EIAJ ED-4002A:2006 個別半導体デバイス用語 NO.7
EIAJ ED-4352:1995 マイクロ波半導体電力増幅器測定方法 NO.7
EIAJ ED-4353:1993 マイクロ波半導体集積回路(周波数変換器)測定方法 NO.7
EIAJ ED-4354:1993 マイクロ波半導体集積回路(周波数分周器)測定方法 NO.7
EIAJ ED-4357A:2000 マイクロ波トランジスタ測定方法 NO.7
EIAJ ED-4358:1999 マイクロ波半導体スイッチ測定方法 英訳併記 NO.7
Measuring methods of microwave semiconductor switch
EIAJ ED-43592005 マイクロ波半導体デバイスの特性及び測定方法 本体CD-ROM
英訳別記
書庫
Measuring Methods of Microwave Semiconductor Devices
EIAJ ED-4511A:2002 整流ダイオードの定格・特性及び試験方法 NO.7
EIAJ ED-4521:1994 3端子サイリスタの定格・特性及び試験方法 NO.7
EIAJ ED-4522:1995 ターンオフサイリスタの定格・特性及び試験方法 NO.7
EIAJ ED-4541A:1999 パワートランジスタの定格・特性及び試験方法 英訳併記 NO.7
Essential ratings characteristics and testing methods for high power transistors
EIAJ ED-4561A:1999 電界効果パワートランジスタの定格・特性及び試験方法 英訳併記 NO.7
Essential ratings characteristics and testing methods for high power field effect transistors
EIAJ ED-4562A:2000 絶縁ゲートバイポーラトランジスタの定格・特性及び試験方法 NO.8
EIAJ ED-4701/001:2001 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(基本事項) 英訳併記 NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (General)
EIAJ ED-4701/100:2001 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験Ⅰ) 英訳併記 NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test Ⅰ)
EIAJ ED-4701/200:2001 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験Ⅱ) 英訳併記 NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test Ⅱ)
EIAJ ED-4701/300:2001 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ) 英訳併記 NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)
EIAJ ED-4701/300-1:2003 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ)(追補1) 英訳併記 NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)(Amendment 1)
EIAJ ED-4701/300-2:2004 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ)(追補2) 英訳併記 NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)(Amendment 2)
EIAJ ED-4701/300-3:2006 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ)(追補3) 英訳併記 NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)(Amendment 3)
JEITA ED-4701/300-4:2010 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ)(追補4) 英訳併記 NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)(Amendment 4)
EIAJ ED-4701/303:2008 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(はんだ付け性試験) 英訳併記 NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Solderability)
EIAJ ED-4701/400:2001 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅱ) 英訳併記 NO.9
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅱ)
EIAJ ED-4701/400-1:2005 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅱ)(追補1) 英訳併記 NO.9
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅱ)(Amendment 1)
EIAJ ED-4701/500:2001 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(その他の試験) 英訳併記 NO.9
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Miscellaneous)
JEITA ED-4702B:2009 表面実装半導体デバイスの機械的強度試験方法 英訳併記 NO.9
Mechanical stress test methods for semiconductor surface mounting devices
EIAJ ED-4703:1994 半導体デバイスの工程内評価及び構造解析方法 NO.9
EIAJ ED-4703-1:1995 半導体デバイスの工程内評価及び構造解析方法(追補1) NO.9
JEITA ED-4704A:2011 半導体デバイスのウエハープロセスの信頼性試験方法 英訳併記 NO.9
Wafer Level Reliability test methods for semiconductor devices
JEITA ED-4705:2009 FLASHメモリの信頼性試験方法 英訳併記 NO.9
Testing Standards for Reliability of Flash Memory
EIAJ ED-4901A:1996 LED及びフォトカプラ用語 英訳併記 NO.9
Terms and Definitions for LEDs and Photocouplers
JEITA ED-4912:2008 発行ダイオード NO.9
EIAJ ED-4921A:1998 フォトカプラ測定方法 英訳併記 NO.10
Measuring methods for Photocouplers
EIAJ ED-5101A:2003 音声出力用集積回路測定方法 NO.10
EIAJ ED-5102A:2003 テレビジョン受信機用集積回路測定方法 NO.10
EIAJ ED-5103A:2003 リニア集積回路測定方法(演算増幅器及びコンパレータ) NO.10
EIAJ ED-5301:1996 固体撮像素子測定方法 NO.10
EIAJ ED-5302:2001 I/Oインタフェースモデル記述標準(IMIC) 英訳併記 NO.10
Standard for I/O Interface Model for Integrated Circuits(IMIC)
EIAJ ED-5511:1995 シンクロナス・グラフィックRAM及びシンクロナス・ビデオRAM標準機能仕様 NO.10
EIAJ ED-5512:1996 3.3Vスタブ直列終端型論理(SSTL_3)標準機能仕様(電源電圧3.3Vデジタル集積回路インタフェース標準) 英訳併記
(付属書を除く)
NO.10
Stub Series Terminated Logic for 3.3Volts (SSTL_3) (A 3.3V Supply Voltage based Interface Standard for Digital Ics)
EIAJ ED-5513:1998 2.5Vスタブ直列終端型論理(SSTL_2)標準機能仕様(電源電圧2.5Vデジタル集積回路インタフェース標準) NO.10
Stub Series Terminated Logic for 2.5Volts (SSTL_2) (A 2.5V Supply Voltage based Interface Standard for Digital Ics)
EIAJ ED-5514:1998 プロセッサ搭載メモリ・モジュール(PEMM)動作仕様標準 英訳併記 NO.10
Processor Enhanced Memory Module (PEMM) Standard for Processor Enhanced Memory Module Functional Specifications
EIAJ ED-5515:1998 2.5Vスタブ直列終端型論理(SSTL_2)差動入力信号規格 英訳併記 NO.10
Stub Series Terminated Logic for 2.5Volts (SSTL_2)Differential Input Signal Specifications
JEITA ED-7300A:2008 半導体パッケージ外形規格作成に関する基本事項 英訳併記 NO.10
Recommended practice on standard for the preparation of outline drawings of semiconductor package
JEITA ED-7301A:2007 集積回路パッケージ個別規格作成マニュアル 英訳併記 NO.11
Manual for preparation of individual standards of integrated circuits packages
JEITA ED-7302A:2007 集積回路パッケージデザインガイド作成マニュアル 英訳併記 NO.11
Manual for preparation of design guides of integrated circuits packages
JEITA ED-7303C:2008 集積回路パッケージの名称及びコード 英訳併記 NO.11
Names and Codes for Integrated Circuits Packages
EIAJ ED-7304:1997 BGA規定寸法の測定方法 英訳併記 NO.11
Measuring Method for Package Dimensions of Ball Grid Array (BGA)
EIAJ ED-7304-1:1997 SOP規定寸法の測定方法 英訳併記 NO.11
Measuring Method for Package Dimensions of Small Outline Package (SOP)
JEITA ED-7305A:2012 集積回路パッケージ外形指標(ガルウイングリード) 英訳併記 NO.11
Unit Design Guide for the Preparation of Package Outline Drawing of Integrated Circuits(Gullwing-Lead)
JEITA ED-7306:2007 昇温によるパッケージ反りの測定方法と最大許容値 英訳併記 NO.11
Measurement methods of package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage
EIAJ ED-7311-1:1997 集積回路パッケージ個別規格[TSOP(1)] 英訳併記 NO.11
Standard of integrated circuits package[TSOP(1)]
EIAJ ED-7311-10A:1998 集積回路パッケージ個別規格[P-BGA(キャビティダウンタイプ)] 英訳併記 NO.11
Standard of integrated circuits package 〔P-BGA(cavity down type)〕
EIAJ ED-7311-11A:1998 集積回路パッケージ個別規格(119/153ピンP-BGA) 英訳併記 NO.11
Standard of integrated circuits package (119/153pin P-BGA)
EIAJ ED-7311-12:1998 集積回路パッケージ個別規格〔52/64/80/100ピンロープロファイルクワッドフラットパッケージ(ヒートシンク露出タイプ)〕 英訳併記 NO.11
Standard of integrated circuits package (52pins 64pins 80pins and 100pins Low-profile Quad Flat Package with Exposed Heatsink)
EIAJ ED-7311-13A:2002 集積回路パッケージ個別規格(P-SON) 英訳併記 NO.11
Standard of integrated circuits package (P-SON)
EIAJ ED-7311-16A:2003 集積回路パッケージ個別規格(C-LGA) 英訳併記 NO.11
Standard of integrated circuits package (C-LGA)
EIAJ ED-7311-17:2001 集積回路パッケージ個別規格(P-ZIP) 英訳併記 NO.11
Standard of integrated circuits package (P-ZIP)
EIAJ ED-7311-18:2002 集積回路パッケージ個別規格(P-ILGA) 英訳併記 NO.11
Standard of integrated circuits package (P-ILGA)
EIAJ ED-7311-19:2002 集積回路パッケージ個別規格(P-SOP) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package (P-SOP)
EIAJ ED-7311-2:1997 集積回路パッケージ個別規格[TSOP(2)] 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package[TSOP(2)]
EIAJ ED-7311-20:2002 集積回路パッケージ個別規格(P-SSOP) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package (P-SSOP)
EIAJ ED-7311-21:2002 集積回路パッケージ個別規格(P-HSOP) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package (P-HSOP)
EIAJ ED-7311-22:2002 集積回路パッケージ個別規格(P-QFN) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package (P-QFN)
EIAJ ED-7311-23:2002 集積回路パッケージ個別規格(PGA) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package (PGA)
EIAJ ED-7311-3A:1999 集積回路パッケージ個別規格(1.0mmピッチ T-BGA) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package 〔Tape Ball Grid Array1.0mm pitch(T-BGA)〕
EIAJ ED-7311-4A:1999 集積回路パッケージ個別規格(1.27mmピッチ T-BGA) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package 〔Tape Ball Grid Array1.27mm pitch(T-BGA)〕
EIAJ ED-7311-5A:2000 集積回路パッケージ個別規格(SRAM/Flash用FBGA) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package〔SRAM/Flash Fine-pitch Ball Grid Array(FBGA)〕
EIAJ ED-7311-6:1998 集積回路パッケージ個別規格(60/90ピンFBGA) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package〔60/90pins Fine-pitch Ball Grid Array(FBGA)〕
EIAJ ED-7311-7:1998 集積回路パッケージ個別規格(0.5mmピッチP-FBGA) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package〔Plastic Fine pitch Ball Grid Array0.5mm pitch(P-FBGA)〕
EIAJ ED-7311-8:1998 集積回路パッケージ個別規格(0.8mmピッチP-FBGA) 英訳併記 NO.12
Standard of integrated circuits package〔Plastic Fine pitch Ball Grid Array0.8mm pitch(P-FBGA)〕
EIAJ ED-7311-9A:1998 集積回路パッケージ個別規格[P-BGA(キャビティアップタイプ)] 英訳併記 NO.13
Standard of integrated circuits package [P-BGA(cavity up type)]
EIAJ ED-7311-A:2002 集積回路パッケージ個別規格(P-QFP) 英訳併記 NO.13
Standard of integrated circuits package (P-QFP)
JEITA ED-7316:2008 集積回路パッケージデザインガイド ファインピッチ・ボールグリッドアレイ及びファインピッチ・ランドグリッドアレイ(FBGA and FLGA) 英訳併記 NO.13
Design guide for semiconductor packages Fine-pitch Ball Grid Array and Fine-pitch Land Grid Array (FBGA and FLGA)
JEITA ED-7324:2012 集積回路パッケージデザインガイド プラスチッククワッドフラットノンリードパッケージ(P-QFN) 英訳併記 NO.13
Design guideline of integrated circuits for Plastic Quad Flat Non-leaded package(P-QFN)
JEITA ED-7735:2010 集積回路パッケージデザインガイドシリコン・ファインピッチ・ボールグリッドアレイ及びシリコン・ファインピッチ・ランドグリッドアレイ(S-FBGA and S-FLGA) 英訳併記 NO.13
Design guide for semiconductor packages Silicon Fine-pitch Ball Grid Array and Silicon Fine-pitch Land Grid Array(S-FBGA and S-FLGA)
EIAJ ED-7401-1-4:1995 半導体パッケージ規定寸法の測定方法(集積回路) 英訳併記 NO.13
Method of Measuring Semiconductor Device Package Dimensions (Integrated Circuits)
EIAJ ED-7500A:1996 半導体デバイスの標準外形図(個別半導体) 英訳併記 NO.13
Standards for the Dimensions of Semiconductor Devices(Discrete Semiconductor Devices)
EIAJ ED-7500A-1:2002 半導体デバイスの標準外形図(個別半導体)追補1 英訳併記 NO.13
Standards for the Dimensions of Semiconductor Devices(Discrete Semiconductor Devices)
JEITA ED-7500A-2:2006 半導体デバイスの標準外形図(個別半導体)追補2 英訳併記 NO.13
Standards for the Dimensions of Semiconductor Devices(Discrete Semiconductor Devices)
JEITA ED-7502:2006 個別半導体パッケージ個別規格作成マニュアル 英訳併記 NO.13
Manual for the preparation of outline drawings of discrete semiconductor packages
EIAJ ED-7611:2001 TSOP用トレイ EIAJ EDX-7611改正
英訳併記
NO.13
Tray for Thin Small Outline Packages
EIAJ ED-7613:2002 BGAパッケージ用トレイ 英訳併記 NO.13
Tray for Ball Grid Array Packages
EIAJ ED-7614:2001 QFP用トレイ 英訳併記 NO.13
Tray for Quad Flat Packages
EIAJ ED-7616:2003 QFJ用トレイ 英訳併記 NO.14
Tray for Quad Flat J-Lead Packages
EIAJ ED-7631:2001 半導体製品出荷用マガジンに於けるリサイクルのための表示方法 英訳併記 NO.14
Marking method for recycle of semiconductor device packing magazines
JEITA ED-7701A:2012 半導体ソケット用語(BGALGAFBGA及びFLGA) 英訳併記 NO.14
Glossary of semiconductor socket for BGA,LGA,FBGA,and FLGA
JEITA ED-7702A:2012 テスト・アンド・バーンイン・ソケット試験方法 英訳併記 NO.14
Test Methods for Test and Burn-In Socket
JEITA ED-7715:2006 半導体ソケット個別規格オープントップ[54/64ピンTSOP(タイプ2)] 英訳併記 NO.14
Standard for open-top type socket[54/66 Pin Thin Small Outline Package(Type2)]
JEITA ED-7716:2006 半導体ソケット個別規格オープントップ(メモリ用FBGA) 英訳併記 NO.14
Standard for open-top type socket [Fine-pitch Ball Grid Array (FBGA) for Memory IC]
EIAJ EDR-2001:2000 電子ディスプレイデバイス技術ガイド(CRTLCD及びPDPの解説・用語)" NO.14
JEITA EDR-4101:2011 リードレス形シリコンダイオード NO.14
JEITA EDR-4102:2011 小信号ダイオード,小信号トランジスタ及び個別半導体デバイスの形名 NO.14
EIAJ-4301:1994 マイクロ波半導体素子測定用供試素子マウントに関する一般的注意事項 NO.14
JEITA EDR-4701C:2010 半導体デバイスの取扱いガイド 英訳併記 NO.14
Handing Guidance for Semiconductor Devices
EIAJ EDR-4702:1996 半導体デバイスの品質・信頼性試験方法規格対照表 NO.14
JEITA EDR-4703A:2008 ベアダイの品質ガイドライン 英訳併記 NO.14
Quality Guidelines for Bare Die
JEITA EDR-4704A:2007 半導体デバイスの加速寿命試験運用ガイドライン 英訳併記 NO.15
Application guide of the accelerated life test for semiconductor devices
EIAJ EDR-4705:2005 JEITAソフトエラー試験ガイドライン 英訳併記 NO.15
JEITA SER Testing Guideline
EIAJ EDR-4706:2006 FLASHメモリの信頼性ガイドライン 英訳併記 NO.15
Guide for the Reliability Specification of FLASH Memory
JEITA EDR-4707:2008 LSIの故障メカニズム及び試験方法に関する調査報告 英訳併記 NO.15
Report on Failure Mechanism of LSI and reliability test method
JEITA EDR-4708:2011 半導体集積回路 信頼性認定ガイドライン 英訳併記 NO.15
Guideline for LSI Reliability Qualification Plan
EIAJ EDR-5202:1999 ASIC基本性能評価ガイドライン 英訳併記 NO.15
ASIC performance evaluation guideline
EIAJ EDR-5504:1996 シリコンディスクRAM無し用途64Mビット級フラッシュメモリ仕様検討報告 NO.15
EIAJ EDR-7311A:2002 集積回路パッケージデザインガイド プラスチッククワッドフラットパッケージ(P-QFP) 英訳併記 NO.15
Design guideline of integrated circuits for Plastic Quad Flat Package(P-QFP)
EIAJ EDR-7312:1996 集積回路パッケージデザインガイド 薄形スモールアウトラインパッケージ(タイプⅠ)(TSOP(Ⅰ)) 英訳併記 NO.15
Design guideline of integrated circuits for Thin Small Outline Package(Type1)(TSOP(Ⅰ))
EIAJ EDR-7313:1996 集積回路パッケージデザインガイド 薄形スモールアウトラインパッケージ(タイプⅡ)(TSOP(Ⅱ)) 英訳併記 NO.15
Design guideline of integrated circuits for Thin Small Outline Package(TypeⅡ)(TSOP(Ⅱ))
EIAJ EDR-7314A:2002 集積回路パッケージデザインガイド シュリンクススモールアウトラインパッケージ(P-SSOP) 英訳併記 NO.15
Design guideline of integrated circuits for Plastic Shrink Small Outline Package(P-SOOP)
JEITA EDR-7315B:2006 集積回路パッケージデザインガイド ボールグリッドアレイ(BGA) 英訳併記 NO.15
Design guide for semiconductor packages Ball Grid Array(BGA)
EIAJ EDR-7317:1998 集積回路パッケージデザインガイド 縦形表面実装パッケージ(SVP) EIAJ ED-7424改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Surface Vertical Package(SVP)
EIAJ EDR-7318A:2002 集積回路パッケージデザインガイド プラスチックスモールアウトラインノンリードパッケージ(P-SON) 英訳併記 NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Small Outline Non-leaded package(P-SON)
EIAJ EDR-7319:1998 集積回路パッケージデザインガイド クワッドフラットJ-リードパッケージ(QFJ) 旧ED7407改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits For Quad Flat J-lead Package(QFJ)
EIAJ EDR-7320:1998 集積回路パッケージデザインガイド スモールアウトラインパッケージ(SOP) 旧ED7402-1改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Small Outline Packages(SOP)
EIAJ EDR-7321:1999 集積回路パッケージデザインガイド クワッドフラットI-リードパッケージ(QFI) 旧ED-7409改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Quad Flat I-lead package(QFI)
EIAJ EDR-7322:1999 集積回路パッケージデザインガイド プラスチックデュアルインラインパッケージ(DIP) 旧ED-7403-1改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Dual Inline Package(DIP)
EIAJ EDR-7323A:2002 集積回路パッケージデザインガイド ピングリッドアレイ(PGA) 英訳併記 NO.16
Design guideline of integrated circuits for Pin Grid Array(PGA)
EIAJ EDR-7325:1999 集積回路パッケージデザインガイド クワッドフラットノンリードパッケージ(QFN) 旧ED-7412改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Quad Flat Non-lead packages(QFN)
EIAJ EDR-7326A:2002 集積回路パッケージデザインガイド ヒートシンク付スモールアウトラインパッケージ(P-HSOP) 英訳併記 NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Small Outline Package with Heat sink(P-HSOP)
EIAJ EDR-7327:2001 集積回路パッケージデザインガイド シングル・インライン・パッケージ(SIP) 旧EIAJ ED-7413改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Single Inline Package(SIP)
EIAJ EDR-7328:2001 集積回路パッケージデザインガイド ジグザグインラインパッケージ(P-ZIP) 旧EIAJ ED-7405,ED-7405-1改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Zigzag Inline Package(P-ZIP)
EIAJ EDR-7329:2002 集積回路パッケージデザインガイド プラスチックインタースティシャルランドグリッドアレイパッケージ(P-ILGA) 英訳併記 NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Interstitial Land Grid Array package(P-ILGA)
EIAJ EDR-7330:2002 集積回路パッケージデザインガイド プラスチックスモールアウトラインJリードパッケージ(P-SOJ) 英訳併記 NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Outline J-Lead package(P-SOJ)
EIAJ EDR-7331:2002 集積回路パッケージデザインガイド クワッドテープキャリヤパッケージ及びそのキャリア(QTP and Carrier) 英訳併記 NO.17
Design guideline of integrated circuits for Quad Tape Carrier packages and Carrier(QTP and Carrier)
EIAJ EDR-7332:2002 集積回路パッケージデザインガイド デュアルテープキャリアパッケージ(タイプ1,タイプ2)(DTP(1)DTP(2)) 英訳併記 NO.17
Design guideline of integrated circuits for Dual Tape Carrier packages (Type 1,Type 2 ,)(DTP(1),DTP(2))
JEITA EDR-7333:2008 積層パッケージデザインガイド ファインピッチ・ボールグリッドアレイ及びファインピッチ・ランドグリッドアレイ(P-PFBGA and P-PFLGA) 英訳併記 NO.17
Design Guide for Stacked Packages Fine-pitch Ball Grid Array and Fine-pitch Land Grid Array (P-PFBGA and P-PFLGA)
JEITA EDR-7334:2008 代表的熱変形測定方式の比較評価結果 英訳併記 NO.17
Evaluation results of typical measurement methods of temperature dependent warpage
JEITA EDR-7335:2010 半導体パッケージ用語集(第一部 パッケージ名称及び部位名称) NO.17
JEITA EDR-7336:2010 半導体製品におけるパッケージ熱特性ガイドライン NO.17
EIAJ EDR-7602:2000 集積回路用トレイデザインガイド 英訳併記 NO.17
Design guideline of tray integrated circuits
EIAJ EDR-7603:2000 BGA用低スタックトレイデザインガイド 英訳併記 NO.17
Design guideline of low stacking profile tray for Ball Grid Array packages
EIAJ EDR-7604:2004 トレイ測定法テクニカルレポート 英訳併記 NO.17
Technical Report for Measuring Method of Tray
EIAJ EDR-7605:2004 半導体包装の鉛フリー表示方法ガイド 英訳併記 NO.17
Making guideline of packing for lead-free semiconductor device
EIAJ EDR-7711:1999 半導体ソケットデザインガイド オープントップタイプボールグリッドアレイ(BGA) 英訳併記 NO.17
Design guideline of open-top type socket for Ball Grid Array(BGA)
JEITA EDR-7712:2001 半導体ソケットデザインガイド オープントップタイプ ファインピッチ・ボールグリッドアレイ/ファインピッチ・ランドグリッドアレイ(FBGA/FLGA)" 英訳併記 NO.17
Design guideline of open-top type socket for Fine-pitch Ball Grid Array and Land Grid Array(FBGA/FLGA)
JEITA EDR-7713:2002 半導体ソケットデザインガイドクラムシェルタイプ ファインピッチ・ボールグリッドアレイ/ファインピッチ・ランドグリッドアレイ(FBGA/FLGA) 英訳併記 NO.17
Design guideline of clamshell type socket for Fine-pitch Ball Grid Array and Fine-pitch Land Grid Array (FBGA/FLGA)
JEITA EDR-7714:2008 半導体ソケットデザインガイド クラムシェルタイプ ボールグリッドアレイ/ランドグリッドアレイ(BGA/LGA) 英訳併記 NO.17
Design guideline of clamshell type socket for Ball Grid Array and Land Grid Array (BGA/LGA)
JEITA EDR-7717:2010 半導体ソケット位置決めシミュレーション技術レポート[FLGAタイプソケット] NO.18
JEITA EDX-7311-24:2008 パッケージ積層時の昇温による反り測定方法と最大積層許容値 英訳併記 NO.18
Measurement methods and maximum warpage allowance for soldering stacked packages at elevated temperature
JEITA EM-3501:2002 シリコン単結晶の結晶方位の測定方法 旧JEIDA-18-2000
英訳付属
NO.18
JEITA EM-3501:2000 Standard methods for determining the orientation of a semiconductor silicon single crystal
JEITA EM-3503:2002 赤外吸収によるシリコン結晶中の置換型炭素原子濃度の標準測定法 旧JEIDA-56-1998
英訳付属
NO.18
Standard test method for substitutional atomic carbon content of silicon by infrared absorption
JEITA EM-3506:2003 短波長励起マイクロ波光導電減衰法によるシリコンエピタキシャルウェーハ(p/p+n/n+)のエピ層の再結合ライフタイム測定方法 英訳付属 NO.18
The measurement method for recombination lifetime of the epilayer of the silicon epitaxial wafer (p/p+n/n+) by the short wavelength excitation microwave photoconductive decay method"
JEITA EM-3508:2005 熱処理CZシリコンウェーハの内部微小欠陥密度及び無欠陥幅の計測方法 英訳付属 NO.18
Test Method for Bulk Micro Defect Density and Denuded Zone Width in Annealed Silicon Wafers
JEITA EM-3509:2005 表面起電力法によるシリコンウェーハの少数キャリア拡散長測定のための試料の前処理法 英訳付属 NO.18
Sample preparation method for minority carrier diffusion length measurement in silicon wafers by surface photovoltage method
JEITA EM-3510:2007 シリコン・ウェーハのエッジ・ロールオフの測定方法 NO.18
JEITA EM-3511:2009 表面光起電力法を利用したp型シリコンウェーハ中のFe濃度測定法 英訳付属 NO.18
Method for measuring Fe concentration in p-type silicon wafers by using surface photovoltage method
JEITA EM-3512:2009 シリコン結晶中の窒素濃度測定法 NO.18
JEITA EM-3601A:2004 高純度多結晶シリコン標準品規格 英訳付属 NO.18
Standard specification for high purity polycrystalline silicon
JEITA EM-3602:2002 シリコン鏡面ウェーハの寸法規格に関する標準仕様 旧JEIDA-27-1999
英訳付属
NO.18
Standard specification for dimensional properties of silicon wafers with specular surfaces
JEITA EM-3603B:2006 SOIウェーハの規格と標準測定法方法 英訳付属 NO.18
Standard of SOI wafers and metrogy
JEITA EM-3604:2005 厚膜SOIウェーハ標準仕様 英訳付属 NO.19
Standard specification for thick film SOI wafers
JEITA EM-4501:2010 圧電セラミック振動子の電気的試験方法 旧EMAS-6100 NO.19
JEITA EM-4502:2012 磁気シールドルームの超低周波(1Hz以下)環境変動磁気ノイズに対する遮蔽性能評価法 NO.19
EMAS-4202:2000 ガラスビート法によるチタン酸バリウムのBa/Tiモル比の蛍光X線分析方法 NO.19
EMAS-4203:2000 ブリケット法によるチタン酸バリウムのBa/Tiモル比の蛍光X線分析方法 NO.19
EMAS/P-5007:2001 縦置き薄型トランス用フェライト磁心(BM形)の寸法 NO.19
EMAS-9101:1995 吸水率、見掛気孔率、かさ密度及び見掛密度 ※EMAS-9101~9012合冊 NO.19
EMAS-9102:1995 表面粗さ ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9103:1995 曲げ強さ ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9104:1995 弾性率 ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9105:1995 硬さ ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9106:1995 平均線膨張係数 ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9107:1995 熱衝撃耐力 ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9108:1995 熱拡散率、比熱容量及び熱伝導率 ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9109:1995 体積抵抗率及び表面抵抗率 ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9110:1995 絶縁破壊の強さ ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9111:1995 比誘電率及び誘電正接 ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9112:1995 形状特性 ※EMAS-9101~9012合冊
JEITA EMR-3001:2004 エッジロールオフがCMPのパフォーマンスに与えるインパクトに関する調査研究報告書 英訳付属 NO.19
The Impact of Edge roll-off on CMP performance
JEITA ET-2301B:2009 CATVシステム・機器測定方法 NO.19
JEITA ET-2303B:2008 CATV施設のシンボルマーク NO.19
JEITA ET-2306A:2004 デジタルCATVシステム・機器測定方法 NO.19
JEITA ET-2502A:2010 DCプラグ・ジャックを用いる機器に関する表示事項及び表示方法 英訳付属 NO.19
Designation items and methods for equipment using low voltage d.c. power supply plugs and jacks
JEITA ET-5101:2010 3D単独図規格 -データムと座標系、寸法表記の省略、形状の簡略化について- NO.19
JEITA ET-7001:2005 電気・電子機器用材料、電子部品及び実装済み基板に対する特定の化学物質の含有及び非含有の表示 NO.20
JEITA ET-7102:2003 ラジアルリード線端子部品のテーピング NO.20
JEITA ET-7103A:2009 表面実装部品のプレスキャリアテーピング NO.20
JEITA ET-7200C:2010 自動実装用部品のテーピングに用いるリユースリール NO.20
EIAJ ET-7201A:1996 表面実装部品用リユースバルクケース 英訳付属 NO.20
Reusable bulk case for surface mounting devices
JEITA ET-7304A:2010 ハロゲンフリーはんだ材料の定義 NO.20
JEITA ET-7305:2010 錫ウィスカ抑制鉛フリー材料選定のガイドライン 付録CD-ROMあり NO.20
EIAJ ET-7404:1997 ソルダペーストを用いた表面実装部品のはんだ付け性試験方法(平衡法) NO.20
EIAJ ET-7405:1998 表面実装部品の耐超音波洗浄性試験方法 旧RCX-0103
英訳併記
NO.20
Test Methods of Ultrasonic Cleaning Exposure of Surface Mounting Devices
JEITA ET-7407A:2010 CSP・BGAパッケージの実装状態での環境及び耐久性試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-101A:2010 表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第101部:引きはがし強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-102A:2010 表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第102部:横押しせん断強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-103A:2010 表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第103部:トルクせん断強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-104A:2010 表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第104部:限界曲げ強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-105A:2010 表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第105部:繰返し曲げ強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-106A:2010 表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第106部:繰返し落下衝撃強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-107:2010 表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第107部:繰返し鋼球落下衝撃強度試験方法 NO.21
JEITA ET-7409/201:2005 表面実装技術-はんだ接合耐久性試験方法-鉛フリーはんだによる挿入実装(リード端子)部品のはんだ接合部の引張り強度試験方法 NO.21
JEITA ET-7409/202:2005 表面実装技術-はんだ接合耐久性試験方法-鉛フリーはんだによる挿入実装(リード端子)部品のはんだ接合部のクリープ強度試験方法 NO.21
JEITA ET-7409A:2008 表面実装部品又はリード端子部品のはんだ接合部における接合耐久性試験方法の選定方法 NO.21
JEITA ET-7411:2009 環境試験方法-電気・電子-極小表面実装部品のはんだ付け性試験方法(平衡法) NO.21
JEITA ET-7501:2003 表面実装用部品のランドパターン設計指針:一般要求事項 NO.21
JEITA ET-7501/101:2003 表面実装用部品のランドパターン設計指針:個別規格 品種別要求事項(角形端子、円筒形端子、内向きL型リボン端子、平面端子) NO.21
JEITA ET-7501/105:2006 表面実装用部品のランドパターン設計指針:個別規格 品種別要求事項(4方向Jリード) NO.21
JEITA ET-7502:2008 配線基板及びアセンブリ基板の設計構想-CADライブラリ作成のための電子部品の基準点/配置角度 NO.21
EIAJ ETR-7001:1998 表面実装用語 英訳併記 NO.21
Terms and definitions for Surface Mount Technology
EIAJ ETR-7002:1996 表面実装部品のテーピングに用いるリユースリールの回収及び再使用を推進するためのガイドライン NO.21
EIAJ ETR-7005:1997 表面実装部品用バルクケースに関する調査報告書 NO.21
EIAJ ETR-7009:2000 表面実装部品用リュースバルクケース使用上のガイドライン NO.21
JEITA ETR-7011:2001 電子部品容器包装のリユース/リサイクル表示ガイド NO.21
JEITA ETR-7013A:2009 バルク実装普及のためのガイダンス NO.22
JEITA ETR-7014:2002 抵抗器バルク実装の調査研究報告 NO.22
JEITA ETR-7015:2002 表面実装部品用小形バルクケースの評価報告 NO.22
JEITA ETR-7016:2002 バルク部品・フィーダ整合化の調査研究報告 NO.22
JEITA ETR-7016-1:2003 バルク部品・フィーダ整合化の調査研究報告 追補 1 NO.22
JEITA ETR-7017:2003 表面実装部品の連続テープによるパッケージングの課題調査報告 NO.22
JEITA ETR-7021:2004 電子・電気機器用材料、電子部品及び実装済み基板に対する鉛フリー表示のためのガイダンス NO.22
JEITA ETR-7022:2004 表面実装部品のテーピングに係わるガイダンス NO.22
JEITA ETR-7023:2007 第2世代フロー用はんだ標準化プロジェクト活動結果報告 付録CD-ROMあり NO.22
JEITA ETR-7024:2007 鉛フリーはんだ接合部の信頼性に対するボイド許容基準の標準化に関する調査報告 付録CD-ROMあり NO.22
JEITA ETR-7025:2009 表面実装部品のW8P1テーピング仕様に関する技術レポート NO.22
JEITA ETR-7026:2007 自動実装用部品の容器包装用語 NO.22
JEITA ETR-7027:2011 第2世代リフロー用ソルダペースト標準化プロジェクト活動中間報告 NO.22
EIAJ ETX-7112:2000 表面実装部品用リュースバルクケース大形ケース NO.23
JEITA IT-1002A:2011 情報システムの設備環境基準 NO.23
JEITA IT-1004A:2011 産業用情報処理・制御機器設置環境基準 NO.23
JEITA IT-3001A:2010 情報処理装置及びシステムのイミュニティ試験方法と限度値 NO.23
JEITA IT-3002A:2010 パーソナルコンピュータの瞬時電圧低下対策 NO.23
JEITA IT-3011:2003 プリンタ用標準テストパターン 付録CD-ROMあり NO.23
JEITA IT-4001:2003 音声合成システム性能評価方法 旧 JEIDA-G24-2000 NO.23
JEITA IT-4003:2005 日本語音声認識用読み記号 NO.23
JEITA IT-4005:2008 音声認識エンジン性能評価方法のガイドライン NO.23
JEITA IT-4006:2010 日本語テキスト音声合成用記号 NO.23
JEITA IT-4007:2012 音声認識応用システムのための音声コマンド設計ガイドライン NO.23
JEITA IT-4011:2004 光学式文字認識のための手書き文字(英小文字) NO.23
JEITA ITR-1001C:2011 情報システムの設備ガイド NO.23
JEITA ITR-1005A:2011 情報システム用接地に関するガイドライン NO.24
JEITA ITR-1006A:2011 情報システム室の消火設備ガイドライン NO.24
EIAJ RC-0901:1992 電子部品の製造年月及び製造年週表示記号 NO.24
JEITA RC-2002:2006 電気・電子機器用表面実装用(SMD)コンデンサの低ESL測定方法 NO.24
JEITA RC-2003:2006 電気・電子機器用リード線端子形コンデンサの低ESL測定方法 NO.24
EIAJ RC-2110:2001 固定抵抗器の高周波特性測定方法 NO.24
EIAJ RC-2112:2000 固定抵抗器の断続過負荷試験方法 NO.24
EIAJ RC-2121:1992 角形厚膜チップコンダクタ NO.24
EIAJ RC-2123A:1998 電子機器用固定抵抗器個別規格:電力形巻線固定抵抗器(角形)安定性クラス 5%-評価水準E NO.24
EIAJ RC-2125A:2001 電子機器用固定抵抗器個別規格:絶縁形金属皮膜ヒューズ固定抵抗器-形状14 安定性クラス 5%-評価水準E NO.24
EIAJ RC-2127A:2010 電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用円筒形金属皮膜コンダクタ-形状27 評価水準E NO.24
EIAJ RC-2128A:2010 電子機器用固定抵抗器個別規格:放電用固定抵抗器-形状05及び形状14 安定化クラス10% -評価水準E NO.24
EIAJ RC-2129:2000 表面実装用固定ネットワーク抵抗器(独立端子) NO.24
EIAJ RC-2130:2000 表面実装用固定ネットワーク抵抗器(共通端子) NO.24
EIAJ RC-2131A:1998 電子機器用固定抵抗器個別規格:円筒形炭素皮膜チップ固定抵抗器-形状27 安定性クラス 5%-評価水準E NO.24
EIAJ RC-2132A:1998 電子機器用固定抵抗器個別規格:円筒形金属皮膜チップ固定抵抗器-形状27 安定性クラス1%-評価水準E NO.24
JEITA RC-2133C:2010 電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用角形金属皮膜固定抵抗器-形状73 安定化クラス 1%-評価水準E NO.24
JEITA RC-2134C:2010 電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用角形金属系混合皮膜固定抵抗器-形状73安定化クラス5%-評価水準E NO.24
EIAJ RC-2135:1995 正温度特性金属皮膜固定抵抗器 NO.25
EIAJ RC-2136:1998 電子機器用固定抵抗器個別規格:炭素皮膜固定抵抗器-形状14安定性クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2137:1998 電子機器用固定抵抗器個別規格:金属皮膜固定抵抗器-形状14安定性クラス2%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2138:1998 電子機器用固定抵抗器個別規格:酸化金属皮膜固定抵抗器-形状12及び形状14安定性クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2141:1998 電子機器用固定抵抗器個別規格:電力形巻線固定抵抗器(平形ラグ端子)安定性クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2142:1998 電子機器用固定抵抗器個別規格:電力形巻線固定抵抗器(円筒形リード線端子)安定性クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2143:1998 電子機器用固定抵抗器個別規格:電力形巻線固定抵抗器(円筒形ラグ端子)安定性クラス5%-評価水準E NO.25
JEITA RC-2144:2010 電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用低抵抗値角形固定抵抗器-形状73安定化クラス5%-評価水準E NO.25
JEITA RC-2145:2004 電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用正温度特性角形金属皮膜固定抵抗器-形状73安定化クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2161:1991 電子機器用表面実装用半固定可変抵抗器の標準ランド寸法 旧EIAJ RCF-2002改正 NO.25
EIAJ RC-2162:1993 二重軸可変抵抗器の軸受及びシャフトの形状寸法 旧EIAJ RC-2684B改正 NO.25
EIAJ RC-2163:1993 電子機器用炭素系混合体可変抵抗器-絶縁シャフト形 旧EIAJ RC-2656A改正 NO.25
EIAJ RC-2164:1993 電子機器用炭素系混合体半固定ポテンショメータ-特性CA、CB、LA、LB、MA and MB 旧EIAJ RC-2657A改正 NO.25
EIAJ RC-2165:1993 電子機器用非巻線ねじ駆動形及び回転形半固定ポテンショメータ-特性Y 旧EIAJ RC-2662A改正 NO.25
EIAJ RC-2166:1993 電子機器用スライド形可変抵抗器 旧EIAJ RC-2648B改正 NO.25
EIAJ RC-2181:1993 電子機器用精密級ポテンショメータの試験方法 NO.25
EIAJ RC-2320:1992 電子機器用固定磁器コンデンサ円筒形チップ 旧RC-8006改正 NO.26
EIAJ RC-2321:1992 電子機器用固定磁器コンデンサ 種類3 旧RC-3403改正 NO.26
JEITA RC-2322A:2007 電子機器用固定コンデンサ個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサの外形寸法 NO.26
EIAJ RC-2342A:2002 コンデンサ用メタライズドポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム NO.26
EIAJ RC-2342A-1:2002 コンデンサ用メタライズドポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム 追補1 NO.26
EIAJ RC-2348A:2002 コンデンサ用メタライズドポリプロピレン(PP)フィルム NO.26
EIAJ RC-2348A-1:2004 コンデンサ用メタライズドポリプロピレン(PP)フィルム 追補1 NO.26
EIAJ RC-2352:1999 電子機器用固定コンデンサ第2部:個別規格(指針):固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準E NO.26
EIAJ RC-2361A:2000 タンタル電解コンデンサ用タンタル焼結素子の試験方法 NO.26
EIAJ RC-2362A:1999 電子機器用固定コンデンサ-第4部:個別規格(指針):固定アルミニウムTCNQ錯塩固体電解コンデンサ評価水準E 英訳併記
(解説を除く)
NO.26
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 4:Detail specification(guidance):Fixed aluminium electrolytic capacitors with TCNQ complex solid electrolyte Assesment level E
EIAJ RC-2364A:1999 アルミニウム電解コンデンサ用電極はくの試験方法 旧RC-2364
英訳併記
NO.26
Test methods of electrode foil for aluminium electrolytic capacitors
JEITA RC-2365B:2007 電子機器用固定コンデンサ-個別規格(指針):エレクトロニックフラッシュ用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準EZ 英訳併記 NO.26
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Detail specification (guidance):Fixed aluminium electrolytic capacitors with non-solid electrolyte for use in electronic flash equipment Assessment level EZ
EIAJ RC-2366A:1998 電子機器用固定コンデンサ-第4部:個別規格(指針):固定両極性アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準E NO.26
EIAJ RC-2369:2001 アルミニウム電解コンデンサ用マトリックストレイ 旧EIAJ RCX-2369改正 NO.26
JEITA RC-2371A:2004 電子機器用固定固体・非固体電解コンデンサの推奨外形寸法 EIAJ RC-2371A NO.26
EIAJ RC-2372:1997 電子機器用アルミニウム非固体電解コンデンサの気密性試験方法 NO.27
EIAJ RC-2375:2000 電子機器用固定コンデンサ 個別規格 表面実装固定タンタルコンデンサ(拡張品)、形状I評価水準E NO.27
JEITA RC-2461:2007 電子機器用固定コンデンサ-品種別通則:アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ NO.27
JEITA RC-2462:2012 電気・電子機器用リチウムイオンキャパシタの電気的特性の試験方法 NO.27
EIAJ RC-2520A:2001 電子機器用ラジアル端子形・アキシャル端子形インダクタ(二端子形高周波固定コイル) NO.27
JEITA RC-2530B:2009 電子機器用及び通信機器用表面実装固定インダクタ NO.27
EIAJ RC-2590A:1994 カップ形フェライト磁心の寸法 NO.27
EIAJ RC-2591A:1999 ねじ形フェライト磁心 RC-2591 NO.27
EIAJ RC-2592A:1999 高周波コイル及び中間周波変成器用マガジン RC-2592 NO.27
EIAJ RC-2594:1995 電子機器用電磁遅延線の試験方法 NO.27
EIAJ RC-2595:1994 放送受信機用アンテナフェライト磁心の試験方法 NO.27
EIAJ RC-2720A:1996 電子機器用トランスのピン寸法 NO.27
EIAJ RC-2723A:1996 電子機器用トランスのリーケージフラックスの測定方法 NO.27
EIAJ RC-2724A:2001 電子機器用トランスの鉄心積層板の寸法 NO.27
EIAJ RC-2726:1999 スイッチング電源用変圧器試験方法 NO.27
EIAJ RC-2727:2001 電子機器用トランスの騒音レベル測定方法 旧EIAJ RC-2722 NO.27
EIAJ RC-5121A:1997 電子機器用ディップスイッチ品種別通則 NO.27
EIAJ RC-5123:1991 電子機器用電源スイッチ NO.28
EIAJ RC-5125:1994 電子機器用スライドスイッチ NO.28
EIAJ RC-5126:2001 電子機器用タクティルプッシュスイッチ品種別通則 NO.28
EIAJ RC-5127A:2000 電子機器用ディップロータリスイッチ NO.28
EIAJ RC-5129:1996 電子機器用ロータリスイッチ品種別通則 NO.28
EIAJ RC-5130:1997 電子機器用トグルスイッチ品種別通則 NO.28
EIAJ RC-5200:1993 コネクタ用語 公開
EIAJ RC-5203A:1997 Y/C(S映像)コネクタ NO.28
JEITA RC-5204A:2011 CCTVカメラ用オートアイリスレンズコネクタ 旧EIAJ RC-5204改正 NO.28
JEITA RC-5220B:2005 高周波同軸C12形コネクタ 旧EIAJ RC-5220A改正 NO.28
EIAJ RC-5221A:1999 高周波同軸C13形コネクタ 旧RC-5221改正 NO.28
EIAJ RC-5222A:1999 高周波同軸C14形コネクタ 旧RC-5222改正 NO.28
EIAJ RC-5223A:1999 高周波同軸C15形コネクタ 旧RC-5223改正 NO.28
EIAJ RC-5224A:1997 電子機器用ID形コネクタ 旧RC-5224改正 NO.28
EIAJ RC-5226:1993 音響機器用丸形コネクタ 旧EIAJ RC-6709A改正 NO.28
JEITA RC-5231A:2010 電子機器用ピンプラグ・ジャック NO.29
EIAJ RC-5232:1997 デジタル携帯電話(PDC方式)I/Oコネクタ NO.29
EIAJ RC-5233:1999 高周波同軸BNC75Ωコネクタ 旧RCX-5233 NO.29
EIAJ RC-5234:1999 高周波同軸SMAコネクタ 旧RCX-5234 NO.29
EIAJ RC-5235:1999 高周波同軸TNCコネクタ 旧RCX-5235 NO.29
EIAJ RC-5236:1999 音響機器用ラッチロック式丸型コネクタ 旧RCX-5232 NO.29
EIAJ RC-5237:1999 デジタル放送映像信号用(Y、Pb、Pr)接続用D端子コネクタ NO.29
JEITA RC-5238A:2007 IMT-2000携帯電話用コネクタA 旧EIAJ RC-5238改正 NO.29
EIAJ RC-5239:2000 IMT-2000携帯電話用コネクタB NO.29
EIAJ RC-5240:2003 携帯電話用角形コネクタ NO.29
JEITA RC-5241:2007 電子機器用コネクタのウィスカ試験方法 NO.29
JEITA RC-5242:2008 携帯電話用複合I/Oコネクタ NO.29
EIAJ RC-5320A:1992 外部電源プラグ・ジャック(直流低電圧用・極性統一形) 旧 RC-5320改正
英訳併記
NO.29
Plugs and Jacks for coupling an external low voltage power supply (Unified polarity Type)
EIAJ RC-5321:1998 直流低電圧電源出力用ジャックと対応プラグ 英訳併記 NO.29
Jacks for low voltage DC power supply output and mating Plugs
EIAJ RC-5322:1998 車載機器用直流12/24V共用形外部電源プラグ・ジャック 英訳併記 NO.29
Plugs and Jacks for coupling DC 12/24V power to electronic equipment used in a car
EIAJ RC-5325A:2004 4極小形単頭プラグ・ジャック 英訳併記 NO.29
4-Pole miniature concentric plugs and jacks
EIAJ RC-5326:2003 AV機器用ACイントレット NO.30
JEITA RC-5327:2009 4極超小形単頭プラグ・ジャック NO.30
EIAJ RC-5720C:2006 デジタルオーディオ機器用光コネクタ 英訳併記 NO.30
Connectors for Optical Fiber Cables for Digital Audio Equipment
EIAJ RC-6600:1990 熱転写リボンカセットの形状と寸法の標準 NO.30
JEITA RC-8100B:2009 音響機器通則 NO.30
JEITA RC-8101C:2008 音響機器用語 NO.30
JEITA RC-8102B:2009 音響機器用フェライト磁石の標準寸法 NO.30
JEITA RC-8103B:2009 音響機器用鋳造磁石の標準寸法 NO.30
JEITA RC-8104B:2011 音声通信用マイクロホン及びイヤホン NO.30
JEITA RC-8105B:2009 音響機器用希土類磁石の標準寸法 NO.30
JEITA RC-8124B:2012 スピーカシステム NO.30
JEITA RC-8125A:2009 圧電スピーカ NO.30
JEITA RC-8126A:2012 増幅器内蔵スピーカシステム NO.30
JEITA RC-8127A:2012 ダイナミックスピーカ NO.30
JEITA RC-8140A:2010 ヘッドホン及びイヤホン NO.30
JEITA RC-8141A:2008 音楽鑑賞用ヘッドホン NO.30
EIAJ RC-8160A:2002 マイクロホン NO.30
JEITA RC-8162B:2005 マイクロホンの電源供給方式 NO.31
JEITA RC-8163B:2010 マイクロホン・イヤホンコード試験方法 NO.31
JEITA RC-8180C:2010 サウンダ及びブザー NO.31
JEITA RC-9130B:2007 スイッチング電源通則(AC-DC) NO.31
JEITA RC-9131B:2007 スイッチング電源試験方法(AC-DC) NO.31
EIAJ RC-9141:1995 スイッチング電源試験方法(DC-DC) NO.31
EIAJ RC-9143:1997 スイッチング電源通則(DC-DC) NO.31
EIAJ RC-9160A:1997 単一出力形直流安定化電源(リニア方式)試験方法 NO.31
JEITA RCR-1001A:2007 電気・電子機器用部品の安全アプリケーションガイド NO.31
JEITA RCR-2001:2003 評価水準EZに関するガイダンス NO.31
JEITA RCR-2002A:2006 表面実装(SMD)端子形コンデンサの低ESR/ESL測定方法の技術報告書 NO.31
JEITA RCR-2003:2005 電気・電子機器用リード線端子形アルミニウム電解コンデンサの低ESR/ESL測定方法の技術報告書 NO.31
JEITA RCR-2004:2009 ねじ端子形アルミニウム電解コンデンサの低ESL測定方法技術報告書 NO.31
EIAJ RCR-2112:1999 低抵抗値の測定方法について NO.31
EIAJ RCR-2113:2002 固定抵抗器の高周波特性測定方法の検証 NO.32
EIAJ RCR-2121A:2002 電子機器用固定抵抗器の使用上の注意事項ガイドライン(固定抵抗器の安全アプリケーションガイド) NO.32
EIAJ RCR-2121A:2006 Guideline of notabilia for fixed resistors for use in electronic equipment (Safety Application Guide for fixed resistors for use in electronic equipment) EIAJ RCR-2121Aの英訳 NO.32
EIAJ RCR-2191A:2002 電子機器用ポテンショメータの使用上の注意事項ガイドライン(ポテンショメータの安全アプリケーションガイド) NO.32
EIAJ RCR-2191A:2006 Safety Application Guide for potentiometers for use in electronic equipment EIAJ RCR-2191Aの英訳 NO.32
EIAJ RCR-2334A:2002 電子機器用半固定磁器コンデンサの使用上の注意事項ガイドライン(半磁器コンデンサの安全アプリケーションガイド) NO.32
EIAJ RCR-2335A:2006 Safety Application Guide for fixed ceramic capacitors for use in electronic equipment 最新版英訳は未発行 NO.32
JEITA RCR-2335B:2008 電子機器用固定磁器コンデンサの安全アプリケーションガイド NO.32
JEITA RCR-2335B-1:2009 電子機器用固定磁器コンデンサの安全アプリケーションガイド(追補1) NO.32
EIAJ RCR-2350B:2002 電子機器用固定プラスチックフィルムコンデンサ使用上の注意事項ガイドライン(電子機器用固定プラスチックフィルムコンデンサの安全アプリケーションガイド) NO.32
EIAJ RCR-2350C:2007 Safety Application Guide for fixed plastic film capacitors for use in electronic equipment 日本語版は未発行 NO.32
EIAJ RCR-2360A:2000 汎用インバータ用アルミニウム電解コンデンサの信頼性に関する調査報告書 NO.32
EIAJ RCR-2367B:2002 電子機器用固定アルミニウム電解コンデンサの使用上の注意事項ガイドライン(電子機器用固定アルミニウム電解コンデンサの安全アプリケーションガイド) NO.33
EIAJ RCR-2367C:2006 Safety Application Guide for fixed aluminium electrolytic capacitors for use in electronic equipment 日本語版は未発行 NO.33
EIAJ RCR-2368B:2002 電子機器用固定タンタル固体電解コンデンサの使用上の注意事項ガイドライン(電子機器用固定タンタル固体電解コンデンサの安全アプリケーションガイド) NO.33
JEITA RCR-2370B:2006 Safety Application Guide for fixed electric double layer capacitors 2370Cの英訳は未発行 NO.33
JEITA RCR-2370C:2008 電気二重層コンデンサ(EDLC)の安全アプリケーションガイド(電気二重層コンデンサの使用上の注意事項ガイドライン) NO.33
EIAJ RCR-2374:1999 タンタルチップコンデンサの使用電圧についての検討実験報告書 NO.33
EIAJ RCR-2376:1998 小形タンタルチップコンデンサの表示指針 NO.33
JEITA RCR-2501A:2006 Safety Application Guide for high frequency coils for use in electric equipment 2501Bの英訳は未発行 NO.33
JEITA RCR-2501B:2009 電子機器用高周波コイルの安全アプリケーションガイド NO.33
JEITA RCR-2502:2005 電子機器用高周波コイル用語集 NO.33
EIAJ RCR-2701A:2001 スイッチング電源トランス・コイル用語集 本体CD-ROM 書庫
EIAJ RCR-2702:2001 トランスの安全アプリケーションガイド NO.33
JEITA RCR-4800:2009 電気・電子機器用電流ヒューズの安全アプリケーションガイド NO.33
EIAJ RCR-5100:2002 電子機器用スイッチの安全アプリケーションガイド NO.33
EIAJ RCR-5201:1998 SMTコネクタのガイドライン NO.34
EIAJ RCR-5202A:2009 電子機器用コネクタの安全アプリケーションガイド NO.34
JEITA RCR-9101B:2006 スイッチング電源用語集 本体CD-ROM 書庫
JEITA RCR-9102B:2006 スイッチング電源の部品点数法による信頼度予測推奨規準(スイッチング電源のMTBF JEITA推奨算出基準) NO.34
JEITA RCR-9103A:2006 スイッチング電源の保守・点検指針 NO.34
EIAJ RCR-9105A:2003 スイッチング電源の安全アプリケーションガイド NO.34
JEITA RCX-2326:2007 電子機器用固定コンデンサ-表面実装用積層磁器コンデンサ種類2A NO.34
EIAJ RCX-9150:1993 直流電源装置の高調波電流規準 NO.34
EIAJ TT-2503A:1999 船内指令装置 NO.34
EIAJ TT-3001A:2004 導波管及びフランジ NO.34
EIAJ TT-3004A:2002 50Ω同軸管 NO.34
EIAJ TT-3005A:2002 50Ω同軸管用フランジ NO.34
EIAJ TT-3006A:2002 方形導波管 NO.34
EIAJ TT-3007A:2004 偏平導波管 NO.34
EIAJ TT-3008A:2001 円形導波管 NO.35
EIAJ TT-3009A:1999 方形導波管用フランジ NO.35
EIAJ TT-3010A:2004 偏平導波管用フランジ NO.35
EIAJ TT-3011A:2004 円形導波管用フランジ NO.35
JEITA TT-4501C:2011 トランジスタメガホンにおける通達距離及び電池持続時間の表示方法 NO.35
JEITA TT-4502B:2006 拡声装置の整合基準 NO.35
JEITA TT-4503B:2008 拡声用増幅器試験方法 NO.35
JEITA TT-4506A:2006 CCTVカメラ用レンズマウント(C及びCS)の取り付けねじ及びフランジ焦点距離 NO.35
JEITA TT-4507A:2011 拡声装置とプロオーディオ機器の表示用語 NO.35
EIAJ TT-5002:1992 オシロスコープ試験方法 NO.35
EIAJ TT-5003:1994 信号発生器の性能の表し方 旧 MA-023B NO.35
EIAJ TT-5004:1994 計測器用インタフェースシステムのためのコード、フォーマット、プロトコル及び共通コマンド ANSI/IEEE Std 488.2-1987
翻訳規格
公開
EIAJ TT-5005:1997 電子計測器環境試験規格及び試験方法 NO.35
EIAJ TT-5006:1998 電子計測器用語規格 NO.36
JEITA TT-6001:2008 ITS車載器標準仕様 NO.36
JEITA TT-6002A:2008 ITS車載器DSRC部標準仕様 NO.36
JEITA TT-6003A:2008 ITS車載器カーナビ部標準仕様 NO.36
JEITA TT-6004:2007 ITS車載器用音声合成記号 NO.36
EIAJ TTR-3002A:2001 方形フレキシブル導波管 NO.36
EIAJ TTR-3003A:2001 長尺可とう導波管 NO.36
EIAJ TTR-3012A:2003 方形導波管及びフランジの検査ゲージ NO.36
JEITA TTR-4601B:2008 CCTV機器用語 NO.36
JEITA TTR-4602B:2007 CCTV機器スペック規定方法 NO.36
JEITA TTR-4604A:2006 CCTV機器スペック規定方法(周辺機器用) NO.36
JEITA TTR-4605A:2012 CCTV機器スペック規定方法(ネットワークカメラ用) 英訳併記 NO.36
Guideline of Specification for Closed Circuit Television Equipment(For Network Camera)