〔ハンドブック収録〕JIS C 5261~

日本工業標準調査会(日本工業規格)

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規格番号標題備考ハンドブック情報
タイトル年版巻号
JIS C 5261:1973電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子19818
JIS C 5261:1973電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子19828
JIS C 5261:1973電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子19868
JIS C 5261:1987電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5261:1987電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子19898
JIS C 5261:1987電子機器用可変抵抗器の試験方法 電子19908
JIS C 5261:1987電子機器用可変抵抗器の試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5261:1987電子機器用可変抵抗器の試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5261:1993電子機器用可変抵抗器の試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5261:1993電子機器用可変抵抗器の試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5261:1993電子機器用可変抵抗器の試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5301:1969電子機器用低周波変成器通則 電子19818
JIS C 5301:1969電子機器用低周波変成器通則 電子19828
JIS C 5301:1969電子機器用低周波変成器通則 電子19868
JIS C 5301:1969電子機器用低周波変成器通則 電子19898
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則 電子 部品編19919
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則 電子19908
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則電子 部品編19929
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則電子 部品編19939
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則電子 部品編19959
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則電子 部品編19979
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則電子 部品編19989
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5301:1989電子機器用低周波変成器通則電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5310:1972電子機器用電源変圧器通則 電子 部品編19919
JIS C 5310:1972電子機器用電源変圧器通則 電子19818
JIS C 5310:1972電子機器用電源変圧器通則 電子19828
JIS C 5310:1972電子機器用電源変圧器通則 電子19868
JIS C 5310:1972電子機器用電源変圧器通則 電子19898
JIS C 5310:1972電子機器用電源変圧器通則 電子19908
JIS C 5310:1972電子機器用電源変圧器通則電子 部品編19929
JIS C 5310:1972電子機器用電源変圧器通則電子 部品編19939
JIS C 5310:1972電子機器用電源変圧器通則電子 部品編19959
JIS C 5310:1997電子機器用電源変圧器品目別通則電子 部品編19979
JIS C 5310:1997電子機器用電源変圧器品目別通則電子 部品編19989
JIS C 5310:1997電子機器用電源変圧器品目別通則電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5310:1997電子機器用電源変圧器品目別通則電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5310:1997電子機器用電源変圧器品目別通則電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5310:1997電子機器用電源変圧器品目別通則電子Ⅲ-1 部品201123-1
JIS C 5310:1997電子機器用電源変圧器品目別通則電子Ⅲ-1200723-1
JIS C 5311:1977電子機器用電源変圧器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5311:1977電子機器用電源変圧器試験方法 電子19818
JIS C 5311:1977電子機器用電源変圧器試験方法 電子19828
JIS C 5311:1977電子機器用電源変圧器試験方法 電子19868
JIS C 5311:1977電子機器用電源変圧器試験方法 電子19898
JIS C 5311:1977電子機器用電源変圧器試験方法 電子19908
JIS C 5311:1977電子機器用電源変圧器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5311:1977電子機器用電源変圧器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子Ⅰ 試験200121
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子Ⅰ 試験200221
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子Ⅰ 試験200321
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子Ⅰ 試験200421
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子Ⅲ-1 部品201123-1
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子Ⅲ-1200723-1
JIS C 5311:1994電子機器用電源変圧器試験方法電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5320:1972電子機器用高周波コイルおよび中間周波変成器通則 電子19818
JIS C 5320:1972電子機器用高周波コイルおよび中間周波変成器通則 電子19828
JIS C 5320:1972電子機器用高周波コイルおよび中間周波変成器通則 電子19868
JIS C 5320:1987電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子 部品編19919
JIS C 5320:1987電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子19898
JIS C 5320:1987電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則 電子19908
JIS C 5320:1987電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子 部品編19929
JIS C 5320:1987電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子 部品編19939
JIS C 5320:1994電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子 部品編19959
JIS C 5320:1994電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子 部品編19979
JIS C 5320:1994電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子 部品編19989
JIS C 5320:1994電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5320:1994電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5320:1994電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5320:1994電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子Ⅲ-1 部品201123-1
JIS C 5320:1994電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則電子Ⅲ-1200723-1
JIS C 5321:1976電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子19818
JIS C 5321:1976電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子19828
JIS C 5321:1976電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子19868
JIS C 5321:1976電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子19898
JIS C 5321:1976電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子19908
JIS C 5321:1990電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5321:1990電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5321:1990電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5321:1990電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5321:1990電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5321:1997電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5321:1997電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5321:1997電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子Ⅰ 試験200121
JIS C 5321:1997電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子Ⅰ 試験200221
JIS C 5321:1997電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子Ⅰ 試験200321
JIS C 5321:1997電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子Ⅰ 試験200421
JIS C 5321:1997電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子Ⅲ-1 部品201123-1
JIS C 5321:1997電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子Ⅲ-1200723-1
JIS C 5321:1997電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5381-1:2004低圧電圧システムに接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品201119
JIS C 5381-1:2004低圧配電システムに接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法電気設備Ⅰ200719
JIS C 5381-11:2014低圧サージ防護デバイス-第11部:低圧電圧システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品201519
JIS C 5381-12:2004低圧配電システムに接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準電気設備Ⅰ200719
JIS C 5381-12:2004低圧配電システムに接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品201119
JIS C 5381-12:2014低圧サージ防護デバイス-第12部:低圧電圧システムに接続する低圧サージ防護デバイスの選定及び適用基準電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品201519
JIS C 5381-21:2004通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法電気設備Ⅰ200719
JIS C 5381-21:2004通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの所要性能及び試験方法電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品201119
JIS C 5381-21:2014低圧サージ防護デバイス-第21部:通信及び信号回路に接続するサージ防護デバイス(SPD)の要求性能及び試験方法電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品201519
JIS C 5381-22:2007通信及び信号回線に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品201119
JIS C 5381-22:2007通信及び信号回路に接続するサージ防護デバイスの選定及び適用基準電気設備Ⅰ一般/電線・ケーブル/電線管・ダクト・附属品201519
JIS C 5401:1976電子機器用コネクタに関する通則 光学198839
JIS C 5401:1976電子機器用コネクタに関する通則 光学199139
JIS C 5401:1976電子機器用コネクタに関する通則 電子 部品編19919
JIS C 5401:1976電子機器用コネクタに関する通則 電子19818
JIS C 5401:1976電子機器用コネクタに関する通則 電子19828
JIS C 5401:1976電子機器用コネクタに関する通則 電子19868
JIS C 5401:1976電子機器用コネクタに関する通則 電子19898
JIS C 5401:1976電子機器用コネクタに関する通則 電子19908
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則光学199739
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則光学199939
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則光学機器200124
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則光学機器200224
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則光学機器200324
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則光学機器200424
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則光学機器200724
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子 部品編19929
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子 部品編19939
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子 部品編19959
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子 部品編19979
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子 部品編19989
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5401:1991電子機器用コネクタ通則電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5401-1:2005電子機器用コネクター第1部:品目別通則-能力認証電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5401-1:2005電子機器用コネクタ-第1部:品目別通則-能力認証光学機器200724
JIS C 5401-1:2005電子機器用コネクタ-第1部:品目別通則-能力認証電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5401-2:2005電子機器用コネクタ-第2部:品種別通則-丸形コネクタ-品質評価付電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5401-2-001:2005電子機器用コネクター第2-001部:丸形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5401-2-001:2005電子機器用コネクタ-第2-001部:丸形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5401-3:2005電子機器用コネクター第3部:品種別通則-角形コネクタ-品質評価付電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5401-3:2005電子機器用コネクタ-第3部:品種別通則-角形コネクタ-品質評価付電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5401-3-001:2005電子機器用コネクター第3-001部:角形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5401-3-001:2005電子機器用コネクタ-第3-001部:角形コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5401-4:2005電子機器用コネクター第4部:品種別通則-プリント配線板用コネクタ-品質評価付電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5401-4:2005電子機器用コネクタ-第4部:品種別通則-プリント配線板用コネクタ-品質評価付電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5401-4-001:2005電子機器用コネクター第4-001部:プリント配線板用コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5401-4-001:2005電子機器用コネクタ-第4-001部:プリント配線板用コネクタ-品質評価付-ブランク個別規格電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402:1975電子機器用コネクタ試験方法 電子19818
JIS C 5402:1975電子機器用コネクタ試験方法 電子19828
JIS C 5402:1975電子機器用コネクタ試験方法 電子19868
JIS C 5402:1988電子機器用コネクタ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5402:1988電子機器用コネクタ試験方法 電子19898
JIS C 5402:1988電子機器用コネクタ試験方法 電子19908
JIS C 5402:1988電子機器用コネクタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5402:1992電子機器用コネクター試験方法電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402:1992電子機器用コネクタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5402:1992電子機器用コネクタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5402:1992電子機器用コネクタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5402:1992電子機器用コネクタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5402:1992電子機器用コネクタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5402:1992電子機器用コネクタ試験方法電子Ⅰ 試験200121
JIS C 5402:1992電子機器用コネクタ試験方法電子Ⅰ 試験200221
JIS C 5402:1992電子機器用コネクタ試験方法電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-1:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第1部:一般電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-1:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第1部:一般電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-1:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1部:一般電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-1:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1部:一般電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-10-4:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第1-4部:過負荷試験-試験10d:電気的過負荷電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-10-4:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第10-4部:過負荷試験-試験10d:電気的過負荷電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-10-4:2006電子機器用コネクター試験及び測定-第10-4部:インパクト試験(可動形部品)、静的負荷試験(固定型部品)、耐久試験及び過負荷試験-試験11d:電気的過負荷(コネクタ)電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-10-4:2006電子機器用コネクタ-試験及び測定-第10-4部:インパクト試験(可動形部品)、静的負荷試験(固定形部品)、耐久試験及び過負荷試験-試験10d:電気的過負荷(コネクタ)電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-1-1:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第1-1部:一般試験-試験1a:外観電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-1-1:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-1部:一般試験-試験1a:外観電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-1-100:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第1-100部:一般-試験一覧電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-1-100:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-100部:一般-試験一覧電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-1-100:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第1-100部:一般-試験一覧電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-1-100:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-100部:一般-試験一覧電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-1:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-11-1:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-1:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-11-1:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-1部:耐候性試験-試験11a:一連耐候性電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-10:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-10部:耐候性試験-試験11j:低温電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-10:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-10部:耐候性試験-試験11j:低温電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-11:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-11部:耐候性試験-試験11k:減圧電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-11:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-11部:耐候性試験-試験11k:減圧電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-12:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-12部:耐候性試験-試験11m:温湿度サイクル電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-12:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-12部:耐候性試験-試験11m:温湿度サイクル電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-13:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-13部:耐候性試験-試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-13:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-13部:耐候性試験-試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-14:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-11-14:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-11-14:2006電子機器用コネクター試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-14:2006電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-14部:耐候性試験-試験11p:単一ガス流腐食電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-2:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-2部:耐候性試験-試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-2:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-2部:耐候性試験-試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-3:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-3部:耐候性試験-試験11c:高温高湿(定常)電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-3:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-3部:耐候性試験-試験11c:高温高湿(定常)電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-4:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-4部:耐候性試験-試験11d:温度急変電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-4:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-4部:耐候性試験-試験11d:温度急変電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-5:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-5部:耐候性試験-試験11e:カビの成長電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-5:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-5部:耐候性試験-試験11e:かびの成長電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-6:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-6部:耐候性試験-試験11f:腐食、塩水噴霧電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-6:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-6部:耐候性試験-試験11f:腐食、塩水噴霧電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-7:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐植電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-11-7:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐食電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-11-7:2006電子機器用コネクター試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐食電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-7:2006電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-7部:耐候性試験-試験11g:混合ガス流腐食電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-8:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-11-8:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-8:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-11-8:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-8部:耐候性試験-試験11h:砂じん電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-11-9:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第11-9部:耐候性試験-試験11i:高温電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-11-9:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第11-9部:耐候性試験-試験11i:高温電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-1-2:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第1-2部:一般試験-試験1b:寸法及び質量電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-1-2:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-2部:一般試験-試験1b:寸法及び質量電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-12-6:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-12-6:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-12-6:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-12-6:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-6部:はんだ付け試験-試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-12-7:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第12-7部:はんだ付け試験-試験12g:はんだ付け性、平衡法電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-12-7:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第12-7部:はんだ付け試験-試験12g:はんだ付け性、平衡法電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-1-3:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第1-3部:一般試験-試験1c:電気的接触長電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-1-3:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第1-3部:一般試験-試験1c:電気的接触長電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-1-3:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-3部:一般検査-試験-1c:電気的接触長電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-1-3:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-3部:一般検査-試験1c:電気的接触長電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-13-1:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-13-1:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-13-1:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-13-1:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第13-1部:機械的動作試験-試験13a:結合力及び離脱力電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-1-4:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第1-4部:一般試験-試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-1-4:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第1-4部:一般試験-試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-1-4:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-4部:一般検査-試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-1-4:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第1-4部:一般検査-試験-1d:コンタクトの保護効果(スクープルーフ)電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-14-7:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-14-7:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-14-7:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-14-7:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第14-7部:封止(気密性)試験-試験14g:噴射水電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-15-8:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15h:コンタクト保持機構、工具の使用に対する耐久性電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-15-8:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15h:コンタクト保持機構、工具の使用に対する耐久性電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-15-8:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)-試験15h:コンタクト保持機構、工具の使用に対する耐久性電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-15-8:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第15-8部:コネクタ試験-試験15h:コンタクト保持機構、工具の使用に対する耐久性電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-16-20:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-16-20:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びタームネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-16-20:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-16-20:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験-試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-19-3:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5402-19-3:2002電子機器用コネクター試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-19-3:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5402-19-3:2002電子機器用コネクタ-試験及び測定-第19-3部:耐化学薬品試験-試験19c:耐液性電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-2:2005電子機器用コネクター第2部:品種別通則-丸形コネクタ-品質評価付電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-20-2:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第20-2部:耐火性試験-試験20b:耐火性電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-20-2:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第20-2部:耐火性試験-試験20b:耐火性電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-2-1:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第2-1部:導通及び接触抵抗試験-試験2a:接触抵抗-ミリボルトレベル法電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-2-1:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-1部:導通及び接触抵抗試験-試験2a:接触抵抗-ミリボルトレベル法電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-2-2:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第2-2部:導通及び接触抵抗試験-試験2b:接触抵抗-規定電流法電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-2-2:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-2部:導通及び接触抵抗試験-試験2b:接触抵抗-規定電流法電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-2-3:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第2-3部:導通及び接触抵抗試験-試験2c:接触抵抗の変動電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-2-3:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-3部:導通及び接触抵抗試験-試験2c:接触抵抗の変動電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-23-3:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第23-3部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23c:コネクタ及びアクセサリのシールド効果電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-23-3:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第23-3部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23c:コネクタ及びアクセサリのシールド効果電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-23-4:2006電子機器用コネクター試験及び測定-第23-4部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23d:時間領域での伝送経路の反射電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-23-4:2006電子機器用コネクタ-試験及び測定-第23-4部:スクリーニング及びフィルタリング試験-試験23d:時間領域での伝送線路の反射電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-2-5:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第2-5部:導通及び接触抵抗試験-試験2e:コンタクトディスターバンス電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-2-5:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-5部:導通及び接触抵抗試験-試験2e:コンタクトディスターバンス電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-2-6:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第2-6部:導通及び接触抵抗試験-試験2f:ハウジング(シェル)の導通性電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-2-6:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第2-6部:導通及び接触抵抗試験-試験2f:ハウジング(シェル)の導通性電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-3-1:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第3-1部:絶縁試験-試験3a:絶縁抵抗電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-3-1:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第3-1部:絶縁試験-試験3a:絶縁抵抗電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-4-1:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第4-1部:電圧ストレス試験-試験4a:耐電圧電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-4-1:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-1部:電圧ストレス試験-試験4a:耐電圧電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-4-2:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-4-2:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-2部:電圧ストレス試験-試験4b:部分放電電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-4-3:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第4-3部:電圧ストレス試験-試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル)電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-4-3:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第4-3部:電圧ストレス試験-試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル)電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-5-1:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第5-1部:電流容量試験-試験5a:温度上昇電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-5-1:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第5-1部:電流容量試験-試験5a:温度上昇電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-5-2:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第5-2部:電流容量試験-試験5b:電流・温度の軽減電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-5-2:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第5-2部:電流容量試験-試験5b:電流・温度の軽減電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-6-1:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第6-1部:動的ストレス試験-試験6a:加速度(定常)電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-6-1:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-1部:動的ストレス試験-試験6a:加速度(定常)電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-6-2:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第6-2部:動的ストレス試験-試験6b:バンプ電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-6-2:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-2部:動的ストレス試験-試験6b:バンプ電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-6-3:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第6-3部:動的ストレス試験-試験6c:衝撃電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-6-3:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-3部:動的ストレス試験-試験6c:衝撃電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5402-6-4:2005電子機器用コネクター試験及び測定-第6-4部:動的ストレス試験-試験6d:正弦波振動電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5402-6-4:2005電子機器用コネクタ-試験及び測定-第6-4部:動的ストレス試験-試験6d:正弦波振動電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5410:1976高周波同軸コネクタ通則 電子 部品編19919
JIS C 5410:1976高周波同軸コネクタ通則 電子19818
JIS C 5410:1976高周波同軸コネクタ通則 電子19828
JIS C 5410:1976高周波同軸コネクタ通則 電子19868
JIS C 5410:1976高周波同軸コネクタ通則 電子19898
JIS C 5410:1976高周波同軸コネクタ通則 電子19908
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子 部品編19929
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子 部品編19939
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子 部品編19959
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子 部品編19979
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子 部品編19989
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5410:1991高周波同軸コネクタ通則電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5411:1976高周波同軸C01形コネクタ 電子 部品編19919
JIS C 5411:1976高周波同軸C01形コネクタ 電子19818
JIS C 5411:1976高周波同軸C01形コネクタ 電子19828
JIS C 5411:1976高周波同軸C01形コネクタ 電子19868
JIS C 5411:1976高周波同軸C01形コネクタ 電子19898
JIS C 5411:1976高周波同軸C01形コネクタ 電子19908
JIS C 5411:1976高周波同軸C01形コネクタ電子 部品編19929
JIS C 5411:1976高周波同軸C01形コネクタ電子 部品編19939
JIS C 5411:1976高周波同軸C01形コネクタ電子 部品編19959
JIS C 5411:1995高周波同軸C01形コネクタ電子 部品編19979
JIS C 5411:1995高周波同軸C01形コネクタ電子 部品編19989
JIS C 5411:1995高周波同軸C01形コネクタ電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5411:1995高周波同軸C01形コネクタ電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5411:1995高周波同軸C01形コネクタ電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5411:1995高周波同軸C01形コネクタ電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5411:1995高周波同軸C01形コネクタ電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5412:1976高周波同軸C02形コネクタ 電子 部品編19919
JIS C 5412:1976高周波同軸C02形コネクタ 電子19818
JIS C 5412:1976高周波同軸C02形コネクタ 電子19828
JIS C 5412:1976高周波同軸C02形コネクタ 電子19868
JIS C 5412:1976高周波同軸C02形コネクタ 電子19898
JIS C 5412:1976高周波同軸C02形コネクタ 電子19908
JIS C 5412:1976高周波同軸C02形コネクタ電子 部品編19929
JIS C 5412:1976高周波同軸C02形コネクタ電子 部品編19939
JIS C 5412:1976高周波同軸C02形コネクタ電子 部品編19959
JIS C 5412:1995高周波同軸C02形コネクタ電子 部品編19979
JIS C 5412:1995高周波同軸C02形コネクタ電子 部品編19989
JIS C 5412:1995高周波同軸C02形コネクタ電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5412:1995高周波同軸C02形コネクタ電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5412:1995高周波同軸C02形コネクタ電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5412:1995高周波同軸C02形コネクタ電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5412:1995高周波同軸C02形コネクタ電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5413:1976高周波同軸C03形コネクタ 電子 部品編19919
JIS C 5413:1976高周波同軸C03形コネクタ 電子19818
JIS C 5413:1976高周波同軸C03形コネクタ 電子19828
JIS C 5413:1976高周波同軸C03形コネクタ 電子19868
JIS C 5413:1976高周波同軸C03形コネクタ 電子19898
JIS C 5413:1976高周波同軸C03形コネクタ 電子19908
JIS C 5413:1976高周波同軸C03形コネクタ電子 部品編19929
JIS C 5413:1976高周波同軸C03形コネクタ電子 部品編19939
JIS C 5413:1976高周波同軸C03形コネクタ電子 部品編19959
JIS C 5413:1995高周波同軸C03形コネクタ電子 部品編19979
JIS C 5413:1995高周波同軸C03形コネクタ電子 部品編19989
JIS C 5413:1995高周波同軸C03形コネクタ電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5413:1995高周波同軸C03形コネクタ電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5413:1995高周波同軸C03形コネクタ電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5413:1995高周波同軸C03形コネクタ電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5413:1995高周波同軸C03形コネクタ電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5414:1976高周波同軸C04形コネクタ 電子 部品編19919
JIS C 5414:1976高周波同軸C04形コネクタ 電子19818
JIS C 5414:1976高周波同軸C04形コネクタ 電子19828
JIS C 5414:1976高周波同軸C04形コネクタ 電子19868
JIS C 5414:1976高周波同軸C04形コネクタ 電子19898
JIS C 5414:1976高周波同軸C04形コネクタ 電子19908
JIS C 5414:1976高周波同軸C04形コネクタ電子 部品編19929
JIS C 5414:1976高周波同軸C04形コネクタ電子 部品編19939
JIS C 5414:1976高周波同軸C04形コネクタ電子 部品編19959
JIS C 5414:1995高周波同軸C04形コネクタ電子 部品編19979
JIS C 5414:1995高周波同軸C04形コネクタ電子 部品編19989
JIS C 5414:1995高周波同軸C04形コネクタ電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5414:1995高周波同軸C04形コネクタ電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5414:1995高周波同軸C04形コネクタ電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5414:1995高周波同軸C04形コネクタ電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5414:1995高周波同軸C04形コネクタ電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5415:1976高周波同軸C05形コネクタ 電子 部品編19919
JIS C 5415:1976高周波同軸C05形コネクタ 電子19818
JIS C 5415:1976高周波同軸C05形コネクタ 電子19828
JIS C 5415:1976高周波同軸C05形コネクタ 電子19868
JIS C 5415:1976高周波同軸C05形コネクタ 電子19898
JIS C 5415:1976高周波同軸C05形コネクタ 電子19908
JIS C 5415:1976高周波同軸C05形コネクタ電子 部品編19929
JIS C 5415:1976高周波同軸C05形コネクタ電子 部品編19939
JIS C 5415:1976高周波同軸C05形コネクタ電子 部品編19959
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JIS C 5415:1995高周波同軸C05形コネクタ電子 部品編19989
JIS C 5415:1995高周波同軸C05形コネクタ電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5415:1995高周波同軸C05形コネクタ電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5415:1995高周波同軸C05形コネクタ電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5415:1995高周波同軸C05形コネクタ電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5415:1995高周波同軸C05形コネクタ電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5419:1976高周波同軸C11形コネクタ 電子 部品編19919
JIS C 5419:1976高周波同軸C11形コネクタ 電子19818
JIS C 5419:1976高周波同軸C11形コネクタ 電子19828
JIS C 5419:1976高周波同軸C11形コネクタ 電子19868
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JIS C 5419:1976高周波同軸C11形コネクタ 電子19908
JIS C 5419:1976高周波同軸C11形コネクタ電子 部品編19929
JIS C 5419:1976高周波同軸C11形コネクタ電子 部品編19939
JIS C 5419:1976高周波同軸C11形コネクタ電子 部品編19959
JIS C 5419:1995高周波同軸C11形コネクタ電子 部品編19979
JIS C 5419:1995高周波同軸C11形コネクタ電子 部品編19989
JIS C 5419:1995高周波同軸C11形コネクタ電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5419:1995高周波同軸C11形コネクタ電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5419:1995高周波同軸C11形コネクタ電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5419:1995高周波同軸C11形コネクタ電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5419:1995高周波同軸C11形コネクタ電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5420:1971印刷配線板用コネクタ通則 電子 部品編19919
JIS C 5420:1971印刷配線板用コネクタ通則 電子19818
JIS C 5420:1971印刷配線板用コネクタ通則 電子19828
JIS C 5420:1971印刷配線板用コネクタ通則 電子19868
JIS C 5420:1971印刷配線板用コネクタ通則 電子19898
JIS C 5420:1971印刷配線板用コネクタ通則 電子19908
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子 部品編19929
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子 部品編19939
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子 部品編19959
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子 部品編19979
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子 部品編19989
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5420:1991プリント配線板用コネクタ通則電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5432:1976電子機器用丸形コネクタ 電子 部品編19919
JIS C 5432:1976電子機器用丸形コネクタ 電子19818
JIS C 5432:1976電子機器用丸形コネクタ 電子19828
JIS C 5432:1976電子機器用丸形コネクタ 電子19868
JIS C 5432:1976電子機器用丸形コネクタ 電子19898
JIS C 5432:1976電子機器用丸形コネクタ 電子19908
JIS C 5432:1976電子機器用丸形コネクタ電子 部品編19929
JIS C 5432:1976電子機器用丸形コネクタ電子 部品編19939
JIS C 5432:1994電子機器用丸形R01コネクタ電子 部品編19959
JIS C 5432:1994電子機器用丸形R01コネクタ電子 部品編19979
JIS C 5432:1994電子機器用丸形R01コネクタ電子 部品編19989
JIS C 5432:1994電子機器用丸形R01コネクタ電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5432:1994電子機器用丸形R01コネクタ電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5432:1994電子機器用丸形R01コネクタ電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5432:1994電子機器用丸形R01コネクタ電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5432:1994電子機器用丸形R01コネクタ電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5433:1976電子機器用角形コネクタ 電子 部品編19919
JIS C 5433:1976電子機器用角形コネクタ 電子19818
JIS C 5433:1976電子機器用角形コネクタ 電子19828
JIS C 5433:1976電子機器用角形コネクタ 電子19868
JIS C 5433:1976電子機器用角形コネクタ 電子19898
JIS C 5433:1976電子機器用角形コネクタ 電子19908
JIS C 5440:1980信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 電子 部品編19919
JIS C 5440:1980信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 電子19818
JIS C 5440:1980信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 電子19828
JIS C 5440:1980信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 電子19868
JIS C 5440:1980信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 電子19898
JIS C 5440:1980信頼性保証制御用小形電磁継電器通則 電子19908
JIS C 5440:1980信頼性保証制御用小形電磁継電器通則電子 部品編19929
JIS C 5440:1980信頼性保証制御用小形電磁継電器通則電子 部品編19939
JIS C 5440:1980信頼性保証制御用小形電磁継電器通則電子 部品編19959
JIS C 5441:1973電子機器用スイッチの試験方法 電子19818
JIS C 5441:1973電子機器用スイッチの試験方法 電子19828
JIS C 5441:1985電子機器用スイッチの試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5441:1985電子機器用スイッチの試験方法 電子19868
JIS C 5441:1985電子機器用スイッチの試験方法 電子19898
JIS C 5441:1985電子機器用スイッチの試験方法 電子19908
JIS C 5441:1985電子機器用スイッチの試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5441:1992電子機器用スイッチの試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子Ⅰ 試験200121
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子Ⅰ 試験200221
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子Ⅰ 試験200321
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子Ⅰ 試験200421
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5441:1994電子機器用スイッチの試験方法電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5441:2006電子機器用スイッチの試験方法(追補1)電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5441:2006電子機器用スイッチの試験方法(追補1)電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5442:1978制御用小形電磁継電器の試験方法 電子19818
JIS C 5442:1978制御用小形電磁継電器の試験方法 電子19868
JIS C 5442:1978制御用小形電磁継電気の試験方法 電子19828
JIS C 5442:1986制御用小形電磁継電器の試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5442:1986制御用小形電磁継電器の試験方法 電子19898
JIS C 5442:1986制御用小形電磁継電器の試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5442:1986制御用小形電磁継電器の試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5442:1986制御用小形電磁継電器の試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5442:1986制御用小形電磁継電気の試験方法 電子19908
JIS C 5442:1996制御用小型電磁リレーの試験方法電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5442:1996制御用小形電磁リレーの試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5442:1996制御用小形電磁リレーの試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5442:1996制御用小形電磁リレーの試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5442:1996制御用小形電磁リレーの試験方法電子Ⅰ 試験200121
JIS C 5442:1996制御用小形電磁リレーの試験方法電子Ⅰ 試験200221
JIS C 5442:1996制御用小形電磁リレーの試験方法電子Ⅰ 試験200321
JIS C 5442:1996制御用小形電磁リレーの試験方法電子Ⅰ 試験200421
JIS C 5442:1996制御用小形電磁リレーの試験方法電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5443:1997電子機器用スイッチの品目別通則電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5443:1997電子機器用スイッチ品目別通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5443:1997電子機器用スイッチ品目別通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5443:1997電子機器用スイッチ品目別通則電子Ⅰ 試験200121
JIS C 5443:1997電子機器用スイッチ品目別通則電子Ⅰ 試験200221
JIS C 5443:1997電子機器用スイッチ品目別通則電子Ⅰ 試験200321
JIS C 5443:1997電子機器用スイッチ品目別通則電子Ⅰ 試験200421
JIS C 5443:1997電子機器用スイッチ品目別通則電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5444:2000電子機器用表面実装スイッチの試験方法電子Ⅰ 試験200121
JIS C 5444:2000電子機器用表面実装スイッチの試験方法電子Ⅰ 試験200221
JIS C 5444:2000電子機器用表面実装スイッチの試験方法電子Ⅰ 試験200321
JIS C 5444:2000電子機器用表面実装スイッチの試験方法電子Ⅰ 試験200421
JIS C 5444:2000電子機器用表面実装スイッチの試験方法電子Ⅲ-2 部品201123-2
JIS C 5444:2000電子機器用表面実装スイッチの試験方法電子Ⅲ-2200723-2
JIS C 5501:1978コーンスピーカ 電子19818
JIS C 5501:1978コーンスピーカ 電子19828
JIS C 5502:1977マイクロホン 電子19818
JIS C 5502:1977マイクロホン 電子19828
JIS C 5502:1981マイクロホン 公害関係198910
JIS C 5502:1981マイクロホン 公害関係199010
JIS C 5502:1981マイクロホン    公害関係198210
JIS C 5502:1991マイクロホン 公害関係199110
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定199210
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定199310
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定199410
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定199510
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定199610
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定199710
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定199810
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定199910
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定200010
JIS C 5502:1991マイクロホン環境測定Ⅰ 大気・騒音・振動200152
JIS C 5503:1967ピックアップ 電子19818
JIS C 5503:1967ピックアップ 電子19828
JIS C 5504:1977ホーンスピーカ 電子19818
JIS C 5504:1977ホーンスピーカ 電子19828
JIS C 5508:1978小形イヤホン 電子19818
JIS C 5508:1978小形イヤホン 電子19828
JIS C 5509:1977磁気録音テープ プラスチック198111
JIS C 5509:1977磁気録音テープ プラスチック198211
JIS C 5509:1977磁気録音テープ プラスチック198511
JIS C 5509:1977磁気録音テープ プラスチック198911
JIS C 5509:1977磁気録音テープ プラスチック199011
JIS C 5509:1977磁気録音テープ プラスチック199111
JIS C 5510:1970磁気録音テープ用リール プラスチック198111
JIS C 5510:1970磁気録音テープ用リール プラスチック198211
JIS C 5510:1970磁気録音テープ用リール プラスチック198511
JIS C 5510:1970磁気録音テープ用リール プラスチック198911
JIS C 5510:1970磁気録音テープ用リール プラスチック199011
JIS C 5510:1970磁気録音テープ用リール プラスチック199111
JIS C 5512:2000補聴器医療機器Ⅲ 機器・装置・システム/光学機器/家庭用機器201173-3
JIS C 5512:2000補聴器高齢者・障害者 アクセシブル・デザイン200438
JIS C 5512:2000補聴器高齢者・障害者 アクセシブル・デザイン200738
JIS C 5512:2000補聴器高齢者・障害者 アクセシブル・デザイン201138
JIS C 5512:2000補聴器高齢者・障害者 高齢者・障害者配慮設計/用語/車いす/義足/義肢/装具/その他200238
JIS C 5512:2000補聴器高齢者・障害者 高齢者・障害者配慮設計/用語/車いす/義足/義肢/装具/その他200338
JIS C 5512:2000補聴器福祉200138
JIS C 5512:2015補聴器医療機器Ⅲ 機器・装置・システム/光学機器/家庭用機器201573-3
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン 公害関係198210
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン 公害関係198910
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン 公害関係199010
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン 公害関係199110
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン 電子19828
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定199210
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定199310
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定199410
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定199510
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定199610
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定199710
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定199810
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定199910
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定200010
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定Ⅰ 大気・騒音・振動200152
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定Ⅰ 大気・騒音・振動200252
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定Ⅰ 大気・騒音・振動200352
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定Ⅰ 大気・騒音・振動200452
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定Ⅰ 大気・騒音・振動200752
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン環境測定Ⅰ-2 騒音・振動201152-2
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン計測標準199246
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン計測標準199546
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン計測標準200144
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン計測標準200244
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン計測標準200344
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン計測標準200444
JIS C 5515:1981標準コンデンサマイクロホン計測標準200744
JIS C 5516:2015音声に近い試験信号による補聴器の信号処理特性の測定方法医療機器Ⅲ 機器・装置・システム/光学機器/家庭用機器201573-3
JIS C 5530:1978コーンスピーカ通則 電子19818
JIS C 5530:1978コーンスピーカ通則 電子19828
JIS C 5531:1978コーンスピーカ試験方法 電子19818
JIS C 5531:1978コーンスピーカ試験方法 電子19828
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語 電子19868
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語 電子19898
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語 電子19908
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子Ⅲ 部品200123
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子Ⅲ 部品200323
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子Ⅲ 部品200423
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子Ⅲ-1 部品201123-1
JIS C 5602:1986電子機器用受動部品用語電子Ⅲ-1200723-1
JIS C 5603:1987プリント配線板用語 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5603:1987プリント配線板用語 電子19898
JIS C 5603:1987プリント配線板用語 電子19908
JIS C 5603:1987プリント配線板用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5603:1987プリント配線板用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5603:1993プリント回路用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5603:1993プリント回路用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5603:1993プリント回路用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5603:1993プリント回路用語電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5603:1993プリント回路用語電子Ⅰ 試験200121
JIS C 5603:1993プリント回路用語電子Ⅰ 試験200221
JIS C 5603:1993プリント回路用語電子Ⅰ 試験200321
JIS C 5603:1993プリント回路用語電子Ⅰ 試験200421
JIS C 5603:1993プリント回路用語電子Ⅲ-2 部品201123-2
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JIS C 5620:1973パルス技術用語 電気計測198942
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JIS C 5620:1973パルス技術用語電気計測199942
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JIS C 5721:1991電子機器用金属皮膜固定抵抗器-形状05、等級A 電子 部品編19919
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JIS C 5722:1976信頼性保証金属皮膜固定抵抗器(特性C及びE) 電子19818
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JIS C 5723:1991電子機器用金属皮膜固定抵抗器-形状14、等級A 電子 部品編19919
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JIS C 5724:1991電子機器用金属皮膜固定抵抗器-形状14、等級C 電子 部品編19919
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JIS C 5725:1991電子機器用金属皮膜固定抵抗器-形状92、等級C 電子 部品編19919
JIS C 5725:1991電子機器用金属皮膜固定抵抗器-形状92、等級C電子 部品編19929
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JIS C 5730:1977信頼性保証固定体抵抗器通則 電子19818
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JIS C 5732:1977信頼性保証固定体抵抗器(方式1の等級X) 電子19818
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JIS C 5740:1977信頼性保証電力形巻線固定抵抗器通則 電子19818
JIS C 5740:1977信頼性保証電力形巻線固定抵抗器通則 電子19828
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JIS C 5810:1976信頼性保証固定コンデンサ通則 電子19818
JIS C 5810:1976信頼性保証固定コンデンサ通則 電子19828
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JIS C 5820:1976信頼性保証固定磁器コンデンサ通則 セラミックス198836
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JIS C 5821:1976信頼性保証固定磁器コンデンサ(種類Ⅰ) セラミックス198836
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JIS C 5821:1976信頼性保証固定磁器コンデンサ(種類Ⅰ) 電子19818
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JIS C 5830:1977信頼性保証電解コンデンサ通則 電子19818
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JIS C 5831:1979信頼性保証タンタル固体電解コンデンサ 電子 部品編19919
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JIS C 5832:1980信頼性保証アルミニウムはく形電解コンデンサ 電子19818
JIS C 5832:1980信頼性保証アルミニウムはく形電解コンデンサ 電子19828
JIS C 5832:1980信頼性保証アルミニウムはく形電解コンデンサ 電子19868
JIS C 5840:1977信頼性保証固定紙及びプラスチックフィルムコンデンサ通則 電子19818
JIS C 5840:1977信頼性保証固定紙及びプラスチックフィルムコンデンサ通則 電子19828
JIS C 5840:1982信頼性保証固定紙及びプラスチックフィルムコンデンサ通則 電子19868
JIS C 5841:1982信頼性保証プラスチックフィルムコンデンサ特性M 電子19868
JIS C 5842:1982信頼性保証プラスチックフィルムコンデンサ特性S 電子19868
JIS C 5850:1979信頼性保証固定マイカコンデンサ通則 電子19818
JIS C 5850:1979信頼性保証固定マイカコンデンサ通則 電子19828
JIS C 5850:1979信頼性保証固定マイカコンデンサ通則 電子19868
JIS C 5860:1990空間ビーム光用受動部品通則 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5860:1990空間ビーム光用受動部品通則 電子19908
JIS C 5860:1990空間ビーム光用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5860:1990空間ビーム光用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5860:1990空間ビーム光用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5860:1990空間ビーム光用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5860:1997空間ビーム光用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5860:1997空間ビーム光用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5860:1997空間ビーム光用受動部品通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5860:1997空間ビーム光用受動部品通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5860:1997空間ビーム光用受動部品通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5860:1997空間ビーム光用受動部品通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5860:1997空間ビーム光用受動部品通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5860:1997空間ビーム光用受動部品通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5860:2012空間ビーム光用受動部品通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5870:1990干渉フィルタ通則 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5870:1990干渉フィルタ通則 電子19908
JIS C 5870:1990干渉フィルタ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5870:1992干渉フィルタ通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5870:2009干渉フィルタ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5870:2009干渉フィルタ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5871:1992干渉フィルタ試験方法電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5871:2011干渉フィルタ試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5871:2011干渉フィルタ試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5872:1992空間ビーム光用光アイソレータ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5872:1992空間ビーム光用光アイソレータ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5872:1992空間ビーム光用光アイソレータ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5872:1992空間ビーム光用光アイソレータ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5872:1992空間ビーム光用光アイソレータ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5872:1992空間ビーム光用光アイソレータ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5872:1992空間ビーム光用光アイソレータ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5872:1992空間ビーム光用光アイソレータ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5872:1992空間ビーム光用光アイソレータ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5873:1992空間ビーム光用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5876-1:2009位相子通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5876-1:2009位相子通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5877-1:2009偏光子通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5877-1:2015偏光子-第1部:通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5877-2:2012偏光子試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5900:1987光伝送用受動部品通則 解説あり電子19908
JIS C 5900:1987光伝送用受動部品通則 光学198839
JIS C 5900:1987光伝送用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5900:1987光伝送用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5900:1987光伝送用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5900:1987光伝送用受動部品通則解説あり電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5900:1987光伝送用受動部品通則解説あり電子19898
JIS C 5900:1996光伝送用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5900:1996光伝送用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5900:1996光伝送用受動部品通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5900:1996光伝送用受動部品通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5900:1996光伝送用受動部品通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5900:1996光伝送用受動部品通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5900:1996光伝送用受動部品通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5900:2006光伝送用受動部品通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5900:2006光伝送用受動部品通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5900:2013光伝送用受動部品通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法 光学198839
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法 電子19898
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法 電子19908
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5901:1987光伝送用受動部品試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5901:20001光伝送用受動部品試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5901:2001光伝送用受動部品試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5901:2001光伝送用受動部品試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5901:2001光伝送用受動部品試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5901:2001光伝送用受動部品試験方法電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5901:2001光伝送用受動部品試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5901:2009光伝送用受動部品試験方法(追補1)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5901:2009光伝送用受動部品試験方法(追補1)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則 光学198839
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則 電子19898
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則 電子19908
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5910:1987光ブランチングデバイス通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5910:1999光ブランチングデバイス通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5910:1999光ブランチングデバイス通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5910:1999光ブランチングデバイス通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5910:1999光ブランチングデバイス通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5910:2006光ブランチングデバイス通則(波長選択性のないもの)電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5910:2006光ブランチングデバイス通則(波長選択性のないもの)電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5910-1:2014波長選択性のない光ブランチングデバイスー第1部:通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5910-3:2015波長選択性のない光ブランチングデバイスー第3部:シングルモード光ファイバピッグテール形1×N及びⅡ×N光部ランチングデバイス電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5912:2006波長スイッチ通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5912:2006波長スイッチ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5912:2006波長スイッチ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5914:2006光サーキュレータ通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5914:2006光サーキュレータ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5914:2013光サーキュレータ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5915:2009シングルモード光ファイバピッグテール型光サーキュレータ電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5915:2009シングルモード光ファイバピッグテール型光サーキュレータ電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5916:2006光伝送用分散補償器通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5916:2006光伝送用分散補償器通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5916:2012光伝送用分散補償器通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5916-3:2013光ファイバ形分散補償器電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5920:1988光減衰器通則 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5920:1988光減衰器通則 電子19898
JIS C 5920:1988光減衰器通則 電子19908
JIS C 5920:1988光減衰器通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5920:1988光減衰器通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5920:1988光減衰器通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5920:1988光減衰器通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5920:1997光減衰器通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5920:1997光減衰器通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5920:1997光減衰器通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5920:1997光減衰器通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5920:1997光減衰器通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5920:1997光減衰器通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5920:2005光減衰器通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5920:2005光減衰器通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5920:2005光減衰器通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5921:2009シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5921:2009シングルモード光ファイバピッグテール型固定光減衰器電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5925-1:2011WDNデバイス通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5925-3:2011シングルモード光ファイバピッグテール形C/LバンドWDNデバイス電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5925-3:2011シングルモード光ファイバピッグテール形C/LバンドWDNデバイス電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5925-4:2011シングルモード光ファイバピッグテール形980/1550nmDMデバイス電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5925-4:2011シングルモード光ファイバピッグテール形980/1550nmWWDMデバイス電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5925-5:2013シングルモード光ファイバピッグテール形中規模1×N DWDMデバイス電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5926-1:2014光伝送光フィルタ-第1部:通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5930:1988光スイッチ通則 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5930:1988光スイッチ通則 電子19898
JIS C 5930:1988光スイッチ通則 電子19908
JIS C 5930:1988光スイッチ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5930:1988光スイッチ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5930:1988光スイッチ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5930:1988光スイッチ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5930:1997光スイッチ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5930:1997光スイッチ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5930:1997光スイッチ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5930:1997光スイッチ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5930:1997光スイッチ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5930:1997光スイッチ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5930:2005光スイッチ通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5930:2005光スイッチ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5930:2005光スイッチ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法 電子19898
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法 電子19908
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5931:1988光スイッチ試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5932:1993光伝送用光アイソレータ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5932:1993光伝送用光アイソレータ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5932:1993光伝送用光アイソレータ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5932:1993光伝送用光アイソレータ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5932:1999光伝送用光アイソレータ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5932:1999光伝送用光アイソレータ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5932:1999光伝送用光アイソレータ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5932:1999光伝送用光アイソレータ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5932:2006光アイソレータ通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5932:2006光アイソレータ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5932:2012光アイソレータ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5933:1993光伝送用光アイソレータ試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5933:2012光アイソレータ試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5934:1999光伝送用レンズ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5934:1999光伝送用レンズ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5934:1999光伝送用レンズ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5934:1999光伝送用レンズ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5934:1999光伝送用レンズ通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5934:1999光伝送用レンズ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5934:1999光伝送用レンズ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5935:2005光伝送用レンズ試験方法電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5935:2005光伝送用レンズ試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5935:2005光伝送用レンズ試験方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5936-3:2011シングルモード光ファイバピッグテール形光アイソレータ電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5936-3:2011シングルモード光ファイバピッグテール形光アイソレータ電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5940:1989光伝送用半導体レーザ通則 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5940:1989光伝送用半導体レーザ通則 電子19898
JIS C 5940:1989光伝送用半導体レーザ通則 電子19908
JIS C 5940:1989光伝送用半導体レーザ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5940:1989光伝送用半導体レーザ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5940:1989光伝送用半導体レーザ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5940:1989光伝送用半導体レーザ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5940:1997光伝送用半導体レーザ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5940:1997光伝送用半導体レーザ通則電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5940:1997光伝送用半導体レーザ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5940:1997光伝送用半導体レーザ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5940:1997光伝送用半導体レーザ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5940:1997光伝送用半導体レーザ通則電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5940:1997光伝送用半導体レーザ通則電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5940:1997光伝送用半導体レーザ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5940:1997光伝送用半導体レーザ通則電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1
JIS C 5941:1989光伝送用半導体レーザ試験方法 電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19918
JIS C 5941:1989光伝送用半導体レーザ試験方法 電子19898
JIS C 5941:1989光伝送用半導体レーザ試験方法 電子19908
JIS C 5941:1989光伝送用半導体レーザ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19928
JIS C 5941:1989光伝送用半導体レーザ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19938
JIS C 5941:1989光伝送用半導体レーザ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19958
JIS C 5941:1989光伝送用半導体レーザ試験方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19978
JIS C 5941:1997光伝送用半導体レーザ測定方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19988
JIS C 5941:1997光伝送用半導体レーザ測定方法電子 試験方法・オプトエレクトロニクス編19998
JIS C 5941:1997光伝送用半導体レーザ測定方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200122
JIS C 5941:1997光伝送用半導体レーザ測定方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200222
JIS C 5941:1997光伝送用半導体レーザ測定方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200322
JIS C 5941:1997光伝送用半導体レーザ測定方法電子Ⅱ オプトエレクトロニクス200422
JIS C 5941:1997光伝送用半導体レーザ測定方法電子Ⅱ-1200722-1
JIS C 5941:1997光伝送用半導体レーザ測定方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201122-1
JIS C 5941:1997光伝送用半導体レーザ測定方法電子Ⅱ-1オプトエレクトロニクス201522-1

他のJIS規格

JIS A
 0001~  1120~  1210~  1530~  5006~  5506~  5760~  7201~  8905~
JIS B
 0001~  0122~  0206~  0410~  0711~  1058~  1181~  1451~  1706~  2238~  2701~  4110~  4301~  4631~  5111~  6210~  7091~  7450~  7731~  8248~  8367~  8611~  9704~
JIS C
 0010~  0365~  1400~  2260~  2814~  3651~  4606~  5261~  5942~  6122~  6481~  7032~  8106~  8360~  8940~
JIS D
 0001~  1021~  2610~  4601~  6011~
JIS E
 1001~
JIS F
 0050~
JIS G
 0201~  0575~  1301~  3115~  3300~  3460~  3535~  4110~  5101~
JIS H
 0001~  1321~  2102~  3250~  4460~  6101~  8683~
JIS K
 0001~  0065~  0120~  0555~  2241~  3805~  5601~  6250~  6365~  6730~  6785~  6899~  7040~  7130~  7251~  8101~  8302~  8521~  8700~  8890~  9101~
JIS L
 0001~  1060~
JIS M
 0101~
JIS P
 0001~
JIS Q
 0002~
JIS R
 0301~  2301~  3646~  6215~
JIS S
 0011~
JIS T
 0101~  7311~
JIS W
 0601~
JIS X
 0001~  0301~  4160~  6001~  6330~
JIS Z
 0015~  1524~  1710~  2250~  2500~  3081~  3181~  3421~  4701~  8105~  8310~  8701~  8801~  9050~
JIS TR/TS
 TR/TS