JEITA

電子情報技術産業協会(電子情報技術産業協会規格)

発行元の規格情報:  http://www.jeita.or.jp(一般社団法人 電子情報技術産業協会)

所蔵規格一覧

 
規格番号タイトル備考ファイルNO
EIAJ AE-2001A:1995制御用シリアルインタフェース(物理層)の接続標準 NO.1
EIAJ AE-4006A:2001ボルト締めランジュバン型超音波振動子の振動特性の測定法 NO.1
EIAJ AE-5007:1994医用タッチプルーフ形電極リードコネクタ NO.1
EIAJ AE-5008:1995医用電気機器の個別規格の様式 NO.1
JEITA AE-5009:2011眼振計 NO.1
JEITA AE-5010:2012機能検査オキシメータ 安全と基本性能に関する個別要求事項 NO.1
EIAJ AE-5201A:2002小電力医用テレメータの運用規定 NO.1
EIAJ AE-6008:1997リアルタイムパルス反射法超音波診断装置の性能試験方法 NO.1
JEITA AER-4001:2001超音波洗浄機用振動子の測定法 NO.1
JEITA AER-4002:2003フェライト磁歪振動子の測定法及び形状 NO.1
EIAJ AER-6002:1998超音波画像診断装置のEMC試験方法 NO.1
JEITA AER-6009:2005超音波振動子表面温度測定法 NO.1
EIAJ AEX-2001:1995ファジィ推論エンジン性能・仕様表現要領 NO.1
EIAJ AEX-2002:1996ファジィシステム記述言語標準仕様 NO.1
JEITA CP-1104A:2005AV機器の表示用語及び図記号付録CD-ROMあり公開
JEITA CP-1104A-1:2010AV機器の表示用語及び図記号(追補1) NO.1
JEITA CP-1105:2009AV機器のオーディオ信号に関する特性表示方法 NO.1
JEITA CP-1203A:2007AV機器のアナログ信号の接続要件 NO.1
JEITA CP-1205A:2001赤外線空間伝送システムの副搬送波周波数割当 NO.1
JEITA CP-1208:2004赤外線アナログ音声・映像伝送システム NO.2
JEITA CP-1209:2004赤外線空間データ伝送システム NO.2
JEITA CP-1212:2002デジタルオーディオ用オプティカルインタフェース(民生用)旧EIAJ CP-1201改正NO.2
JEITA CP-1221:2007可視光通信システム NO.2
JEITA CP-1222:2007可視光IDシステム NO.2
JEITA CP-1301:2006AV機器のオーディオ信号に関する測定方法 NO.2
EIAJ CP-2102:1992オーディオアンプの定格及び性能の表示旧STC-019NO.2
EIAJ CP-2150:2000ディジタルオーディオ機器の測定方法 NO.2
EIAJ CP-2201:1994AMステレオ放送受信機試験方法 NO.2
EIAJ CP-2301A:2000DATレコーダの測定方法 NO.2
EIAJ CP-2302A:2000DATレコーダ測定用テープレコード NO.2
EIAJ CP-2303A:2000DATレコーダの特殊性能試験方法 NO.2
EIAJ CP-2304A:2000DATレコーダ特殊性能試験用テープレコード NO.2
EIAJ CP-2307:1999DATカセットシステム 薄手テープ及びカセット認識穴 NO.2
EIAJ CP-2313A:1997定格及び性能の表示(カセット式テープレコーダ) NO.2
EIAJ CP-2316:2005磁気テープアナログ録音再生システム NO.2
JEITA CP-2318:2010放送用音声ファイルフォーマット NO.2
JEITA CP-2319:2012放送用音声ポン出しプレイリストフォーマット NO.3
JEITA CP-2402A:2002CDプレーヤの測定方法 NO.3
JEITA CP-2403A:2002CDプレーヤの測定用ディスク NO.3
JEITA CP-2404:2001ミニディスクレコーダの測定方法 NO.3
JEITA CP-2903B:2012防磁形スピーカシステムの分類及び測定方法 NO.3
JEITA CP-2905B:2003ポータブル・オーディオ機器の電池持続時間の測定方法 NO.3
JEITA CP-3202B:2009ビデオカメラ及びビデオ一体型カメラ仕様標準 NO.3
JEITA CP-3203:2002ビデオカメラ用テストチャート仕様書 NO.3
JEITA CP-3351:2002DVDプレーヤの測定方法 NO.3
JEITA CP-3451B:2010ディジタルスチルカメラ用画像ファイルフォーマット規格Exif 2.21 統合版本体CD-ROM
CIPA DC-008-2010
書庫
JEITA CP-3451B:2010Exchangeable image file format for digital still cameras: Exif Unified Version 2.3英文のみ
本体CD-ROM
CIPA DC-008-2010
書庫
JEITA CP-3461B:2010カメラファイルシステム規格DCF2.0統合版本体CD-ROM
CIPA DC-009-2010
書庫
JEITA CP-3461B:2010Design rule for Camera File system:DCF Unified Version 2.0英文のみ
本体CD-ROMCIPA DC-009-2010
書庫
JEITA CP-3901A:2010デジタルカラー写真プリント画像保存性試験方法本体CD-ROM
英文別記
中文別記
書庫
Digital Color Photo Print Stability Evaluation
数?彩色照片印刷物的保存性??方法
JEITA CP-4104A:2005テレビ機器の操作方向 NO.3
JEITA CP-4108B:2012ハイビジョンディスプレイ試験方法 NO.3
EIAJ CP-4120:2000Interface between Digital Tuner and Television Receiver D-ConnectorEIAJ CP-4120の英訳版NO.3
JEITA CP-4120A:2010デジタルチューナとテレビジョン受信機のD端子接続 NO.3
JEITA CP-4401B:2010CSデジタルテレビ放送受信機の試験方法 NO.3
JEITA CP-5102B:2006衛星放送受信アンテナ試験方法(機械的及び環境的性能) NO.3
JEITA CP-5104C:2011衛星放送受信アンテナ試験方法(電気的性能) NO.3
JEITA CP-5110A:2012デジタル衛星放送受信信号のCN比測定方法 NO.3
JEITA CP-5111:2009地上デジタルテレビジョン受信信号の測定方法 NO.3
JEITA CP-5112:2011地上・衛星テレビジョン放送及びFM放送の受信アンテナ性能表示方法 NO.4
JEITA CP-5113:2011地上デジタルテレビジョン放送及びFM放送受信アンテナ試験方法 NO.4
JEITA CP-5205B:2011ホーム受信システム機器の測定方法 NO.4
JEITA CP-5206C:2011ホーム受信システム機器の性能表示方法 NO.4
JEITA CP-5207A:2009衛星放送IF伝送システム測定方法 NO.4
JEITA CP-6101:2012デジタルモニタインタフェース GVIF NO.4
EIAJ CPR-1202:1995アスペクト比の異なる映像信号の識別信号と伝送方法(Ⅰ) NO.4
EIAJ CPR-1204:1997VBIを用いたビデオID信号伝送方法(525ラインシステム) NO.4
EIAJ CPR-1204-1:1998VBIを用いたビデオID信号伝送方法(525Pシステム)(追補) NO.4
EIAJ CPR-1204-2:2000VBIを用いたビデオID信号伝送方法(750p、1125iシステム) NO.4
JEITA CPR-1205:2002デジタルオーディオインタフェース関連規格ガイド旧EIAJ CP-1201改正NO.4
JEITA CPR-1206:2011CSデジタル放送向けHD録画デジタルインタフェース技術レポート NO.4
JEITA CPR-1206-1:2012CSデジタル放送向けHD録画デジタルインタフェース技術レポート(追補1) NO.4
EIAJ CPR-1901:1992音声受信機・テレビジョン受信機及び関連機器の妨害波の許容値及び測定方法旧CPC-002改正NO.4
EIAJ CPR-1902:1997AV機器用コネクタのピンアサインメント(コネクタピンの信号割り付け) NO.4
EIAJ CPR-2202:1992緊急警報受信機試験方法旧CPZ-001NO.4
EIAJ CPR-2204:1993チューナの定格及び性能の表示旧STC-018改正NO.4
EIAJ CPR-2312:1991カセット式テープレコーダの連続動作性能および耐久性 NO.5
JEITA CPR-2601:2010メモリオーディオの音質表示 NO.5
JEITA CPR-3104:2012録画基準画像 NO.5
JEITA CPR-3451A:2010デジタルカメラ(ビデオ/スチル)の動画及び音声の圧縮記録表示方法 NO.5
JEITA CPR-4101A:2005衛星放送受信機の表示と定格 NO.5
JEITA CPR-5103A:2006衛星放送受信アンテナのニアフィールド測定法 NO.5
JEITA CPR-5104A:2009CSデジタル放送受信用アンテナの定格と所要性能 NO.5
JEITA CPR-5105A:2011BS・110度CS放送受信アンテナの定格と所要性能 NO.5
JEITA CPR-5106A:2011地上デジタルテレビジョン放送受信アンテナの電気特性 NO.5
JEITA CPR-5204F:2011ホーム受信システム機器 NO.5
JEITA CPR-6101:2012ディスプレイモニタインタフェース概要 NO.5
JEITA CPX-1209:2001赤外線高速リモコンシステム 公開
JEITA ED-2502B:2011液晶表示デバイスの画面サイズ呼称方法英訳併記NO.5
Defining method of display size for Liquid Crystal Display devices
JEITA ED-2511B:2007液晶表示デバイスに関する用語及び文字記号 NO.5
JEITA ED-2521B:2009液晶表示パネル及びその構成材料の測定方法 NO.5
EIAJ ED-2522:1995マトリクス形液晶表示モジュール測定方法(バックライトを用いる液晶表示モジュール) NO.5
EIAJ ED-2523:2001反射型液晶表示モジュール測定方法(マトリクス型液晶表示モジュール) NO.5
EIAJ ED-2531B:2004液晶表示デバイスの環境試験方法 NO.5
EIAJ ED-2700:1997カラープラズマディスプレイデバイスの画面サイズ呼称方法英訳併記NO.6
Defining method of display size for Colour Plasma Display Device
EIAJ ED-2701:2003カラープラズマディスプレイデバイスに関する用語及び文字記号英訳併記NO.6
Terminology and letter symbols for Colour Plasma Display Devices
JEITA ED-2702:2011プラズマディスプレイデバイスに関する用語及び文字記号英訳併記NO.6
Terminology and letter symbols for Plasma Display Devices
EIAJ ED-2710A:2002カラープラズマディスプレイモジュール測定方法英訳併記NO.6
Measuring methods for colour plasma display modules
JEITA ED-2712:2009プラズマディスプレイモジュール測定方法(Ⅱ)-セル欠点、焼付き、輝度寿命-英訳併記NO.6
Measuring methods for plasma display modules(Ⅱ) -Cell defectImage sticking and Luminance lifetime-"
JEITA ED-2713:2010プラズマディスプレイモジュール測定方法(Ⅲ)-動画表示消費電力、パネル発光効率-英訳併記NO.6
Measuring methods for plasma display modules(Ⅲ) -Module power consumption using video signal and panel luminous efficacy-
JEITA ED-2714:2011プラズマディスプレイモジュール測定方法(Ⅳ)-視野角、ストリーキング、フリッカ、動画解像度-英訳併記NO.6
Measuring methods for plasma display modules(Ⅳ) -Viewing angle Image streaking Flicker and Moving picture resolution-
JEITA ED-2715:2011プラズマディスプレイモジュール測定方法(Ⅴ)-音響ノイズ-英訳併記NO.6
Measuring methods for plasma display modules(Ⅳ) -Acoustic noise-
EIAJ ED-2720:2004プラズマディスプレイモジュールのメカニカルインタフェース英訳併記NO.6
Mechanical interface for plasma display modules
JEITA ED-2721:2008プラズマディスプレイモジュールの電気インタフェース英訳併記NO.6
Electrical interface for plasma display modules
JEITA ED-2730:2006プラズマディスプレイモジュールの環境試験方法英訳併記NO.6
Climatic and mechanical testing methods for plasma display modules
JEITA ED-2731:2012プラズマディスプレイモジュール環境試験方法(Ⅱ)-パネル強度-英訳併記NO.6
Climatic and mechanical testing methods for plasma display modules(Ⅱ)-Panel strength-
EIAJ ED-2800:2003有機ELデバイスに関する用語及び文字記号英訳併記NO.7
Terms definition and Letter symbols for Organic EL Devices
EIAJ ED-2810:2005有機ELディスプレイモジュール測定方法英訳併記NO.7
Measuring methods for Organic EL display modules
EIAJ ED-4002A:2006個別半導体デバイス用語 NO.7
EIAJ ED-4352:1995マイクロ波半導体電力増幅器測定方法 NO.7
EIAJ ED-4353:1993マイクロ波半導体集積回路(周波数変換器)測定方法 NO.7
EIAJ ED-4354:1993マイクロ波半導体集積回路(周波数分周器)測定方法 NO.7
EIAJ ED-4357A:2000マイクロ波トランジスタ測定方法 NO.7
EIAJ ED-4358:1999マイクロ波半導体スイッチ測定方法英訳併記NO.7
Measuring methods of microwave semiconductor switch
EIAJ ED-43592005マイクロ波半導体デバイスの特性及び測定方法本体CD-ROM
英訳別記
書庫
Measuring Methods of Microwave Semiconductor Devices
EIAJ ED-4511A:2002整流ダイオードの定格・特性及び試験方法 NO.7
EIAJ ED-4521:19943端子サイリスタの定格・特性及び試験方法 NO.7
EIAJ ED-4522:1995ターンオフサイリスタの定格・特性及び試験方法 NO.7
EIAJ ED-4541A:1999パワートランジスタの定格・特性及び試験方法英訳併記NO.7
Essential ratings characteristics and testing methods for high power transistors
EIAJ ED-4561A:1999電界効果パワートランジスタの定格・特性及び試験方法英訳併記NO.7
Essential ratings characteristics and testing methods for high power field effect transistors
EIAJ ED-4562A:2000絶縁ゲートバイポーラトランジスタの定格・特性及び試験方法 NO.8
EIAJ ED-4701/001:2001半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(基本事項)英訳併記NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (General)
EIAJ ED-4701/100:2001半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験Ⅰ)英訳併記NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test Ⅰ)
EIAJ ED-4701/200:2001半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(寿命試験Ⅱ)英訳併記NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Life test Ⅱ)
EIAJ ED-4701/300:2001半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ)英訳併記NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)
EIAJ ED-4701/300-1:2003半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ)(追補1)英訳併記NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)(Amendment 1)
EIAJ ED-4701/300-2:2004半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ)(追補2)英訳併記NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)(Amendment 2)
EIAJ ED-4701/300-3:2006半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ)(追補3)英訳併記NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)(Amendment 3)
JEITA ED-4701/300-4:2010半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅰ)(追補4)英訳併記NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅰ)(Amendment 4)
EIAJ ED-4701/303:2008半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(はんだ付け性試験)英訳併記NO.8
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Solderability)
EIAJ ED-4701/400:2001半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅱ)英訳併記NO.9
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅱ)
EIAJ ED-4701/400-1:2005半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(強度試験Ⅱ)(追補1)英訳併記NO.9
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Stress test Ⅱ)(Amendment 1)
EIAJ ED-4701/500:2001半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法(その他の試験)英訳併記NO.9
Environmental and endurance test methods for semiconductor devices (Miscellaneous)
JEITA ED-4702B:2009表面実装半導体デバイスの機械的強度試験方法英訳併記NO.9
Mechanical stress test methods for semiconductor surface mounting devices
EIAJ ED-4703:1994半導体デバイスの工程内評価及び構造解析方法 NO.9
EIAJ ED-4703-1:1995半導体デバイスの工程内評価及び構造解析方法(追補1) NO.9
JEITA ED-4704A:2011半導体デバイスのウエハープロセスの信頼性試験方法英訳併記NO.9
Wafer Level Reliability test methods for semiconductor devices
JEITA ED-4705:2009FLASHメモリの信頼性試験方法英訳併記NO.9
Testing Standards for Reliability of Flash Memory
EIAJ ED-4901A:1996LED及びフォトカプラ用語英訳併記NO.9
Terms and Definitions for LEDs and Photocouplers
JEITA ED-4912:2008発行ダイオード NO.9
EIAJ ED-4921A:1998フォトカプラ測定方法英訳併記NO.10
Measuring methods for Photocouplers
EIAJ ED-5101A:2003音声出力用集積回路測定方法 NO.10
EIAJ ED-5102A:2003テレビジョン受信機用集積回路測定方法 NO.10
EIAJ ED-5103A:2003リニア集積回路測定方法(演算増幅器及びコンパレータ) NO.10
EIAJ ED-5301:1996固体撮像素子測定方法 NO.10
EIAJ ED-5302:2001I/Oインタフェースモデル記述標準(IMIC)英訳併記NO.10
Standard for I/O Interface Model for Integrated Circuits(IMIC)
EIAJ ED-5511:1995シンクロナス・グラフィックRAM及びシンクロナス・ビデオRAM標準機能仕様 NO.10
EIAJ ED-5512:19963.3Vスタブ直列終端型論理(SSTL_3)標準機能仕様(電源電圧3.3Vデジタル集積回路インタフェース標準)英訳併記
(付属書を除く)
NO.10
Stub Series Terminated Logic for 3.3Volts (SSTL_3) (A 3.3V Supply Voltage based Interface Standard for Digital Ics)
EIAJ ED-5513:19982.5Vスタブ直列終端型論理(SSTL_2)標準機能仕様(電源電圧2.5Vデジタル集積回路インタフェース標準) NO.10
Stub Series Terminated Logic for 2.5Volts (SSTL_2) (A 2.5V Supply Voltage based Interface Standard for Digital Ics) 
EIAJ ED-5514:1998プロセッサ搭載メモリ・モジュール(PEMM)動作仕様標準英訳併記NO.10
Processor Enhanced Memory Module (PEMM) Standard for Processor Enhanced Memory Module Functional Specifications
EIAJ ED-5515:19982.5Vスタブ直列終端型論理(SSTL_2)差動入力信号規格英訳併記NO.10
Stub Series Terminated Logic for 2.5Volts (SSTL_2)Differential Input Signal Specifications
JEITA ED-7300A:2008半導体パッケージ外形規格作成に関する基本事項英訳併記NO.10
Recommended practice on standard for the preparation of outline drawings of semiconductor package
JEITA ED-7301A:2007集積回路パッケージ個別規格作成マニュアル英訳併記NO.11
Manual for preparation of individual standards of integrated circuits packages
JEITA ED-7302A:2007集積回路パッケージデザインガイド作成マニュアル英訳併記NO.11
Manual for preparation of design guides of integrated circuits packages
JEITA ED-7303C:2008集積回路パッケージの名称及びコード英訳併記NO.11
Names and Codes for Integrated Circuits Packages
EIAJ ED-7304:1997BGA規定寸法の測定方法英訳併記NO.11
Measuring Method for Package Dimensions of Ball Grid Array (BGA)
EIAJ ED-7304-1:1997SOP規定寸法の測定方法英訳併記NO.11
Measuring Method for Package Dimensions of Small Outline Package (SOP)
JEITA ED-7305A:2012集積回路パッケージ外形指標(ガルウイングリード)英訳併記NO.11
Unit Design Guide for the Preparation of Package Outline Drawing of Integrated Circuits(Gullwing-Lead)
JEITA ED-7306:2007昇温によるパッケージ反りの測定方法と最大許容値英訳併記NO.11
Measurement methods of package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage
EIAJ ED-7311-1:1997集積回路パッケージ個別規格[TSOP(1)]英訳併記NO.11
Standard of integrated circuits package[TSOP(1)]
EIAJ ED-7311-10A:1998集積回路パッケージ個別規格[P-BGA(キャビティダウンタイプ)]英訳併記NO.11
Standard of integrated circuits package 〔P-BGA(cavity down type)〕
EIAJ ED-7311-11A:1998集積回路パッケージ個別規格(119/153ピンP-BGA)英訳併記NO.11
Standard of integrated circuits package (119/153pin P-BGA)
EIAJ ED-7311-12:1998集積回路パッケージ個別規格〔52/64/80/100ピンロープロファイルクワッドフラットパッケージ(ヒートシンク露出タイプ)〕英訳併記NO.11
Standard of integrated circuits package (52pins 64pins 80pins and 100pins Low-profile Quad Flat Package with Exposed Heatsink)
EIAJ ED-7311-13A:2002集積回路パッケージ個別規格(P-SON)英訳併記NO.11
Standard of integrated circuits package (P-SON)
EIAJ ED-7311-16A:2003集積回路パッケージ個別規格(C-LGA)英訳併記NO.11
Standard of integrated circuits package (C-LGA)
EIAJ ED-7311-17:2001集積回路パッケージ個別規格(P-ZIP)英訳併記NO.11
Standard of integrated circuits package (P-ZIP)
EIAJ ED-7311-18:2002集積回路パッケージ個別規格(P-ILGA)英訳併記NO.11
Standard of integrated circuits package (P-ILGA)
EIAJ ED-7311-19:2002集積回路パッケージ個別規格(P-SOP)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package (P-SOP)
EIAJ ED-7311-2:1997集積回路パッケージ個別規格[TSOP(2)]英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package[TSOP(2)]
EIAJ ED-7311-20:2002集積回路パッケージ個別規格(P-SSOP)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package (P-SSOP)
EIAJ ED-7311-21:2002集積回路パッケージ個別規格(P-HSOP)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package (P-HSOP)
EIAJ ED-7311-22:2002集積回路パッケージ個別規格(P-QFN)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package (P-QFN)
EIAJ ED-7311-23:2002集積回路パッケージ個別規格(PGA)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package (PGA)
EIAJ ED-7311-3A:1999集積回路パッケージ個別規格(1.0mmピッチ T-BGA)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package 〔Tape Ball Grid Array1.0mm pitch(T-BGA)〕
EIAJ ED-7311-4A:1999集積回路パッケージ個別規格(1.27mmピッチ T-BGA)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package 〔Tape Ball Grid Array1.27mm pitch(T-BGA)〕
EIAJ ED-7311-5A:2000集積回路パッケージ個別規格(SRAM/Flash用FBGA)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package〔SRAM/Flash Fine-pitch Ball Grid Array(FBGA)〕
EIAJ ED-7311-6:1998集積回路パッケージ個別規格(60/90ピンFBGA)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package〔60/90pins Fine-pitch Ball Grid Array(FBGA)〕
EIAJ ED-7311-7:1998集積回路パッケージ個別規格(0.5mmピッチP-FBGA)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package〔Plastic Fine pitch Ball Grid Array0.5mm pitch(P-FBGA)〕
EIAJ ED-7311-8:1998集積回路パッケージ個別規格(0.8mmピッチP-FBGA)英訳併記NO.12
Standard of integrated circuits package〔Plastic Fine pitch Ball Grid Array0.8mm pitch(P-FBGA)〕
EIAJ ED-7311-9A:1998集積回路パッケージ個別規格[P-BGA(キャビティアップタイプ)]英訳併記NO.13
Standard of integrated circuits package [P-BGA(cavity up type)]
EIAJ ED-7311-A:2002集積回路パッケージ個別規格(P-QFP)英訳併記NO.13
Standard of integrated circuits package (P-QFP)
JEITA ED-7316:2008集積回路パッケージデザインガイド ファインピッチ・ボールグリッドアレイ及びファインピッチ・ランドグリッドアレイ(FBGA and FLGA)英訳併記NO.13
Design guide for semiconductor packages Fine-pitch Ball Grid Array and Fine-pitch Land Grid Array (FBGA and FLGA)
JEITA ED-7324:2012集積回路パッケージデザインガイド プラスチッククワッドフラットノンリードパッケージ(P-QFN)英訳併記NO.13
Design guideline of integrated circuits for Plastic Quad Flat Non-leaded package(P-QFN)
JEITA ED-7735:2010集積回路パッケージデザインガイドシリコン・ファインピッチ・ボールグリッドアレイ及びシリコン・ファインピッチ・ランドグリッドアレイ(S-FBGA and S-FLGA)英訳併記NO.13
Design guide for semiconductor packages Silicon Fine-pitch Ball Grid Array and Silicon Fine-pitch Land Grid Array(S-FBGA and S-FLGA)
EIAJ ED-7401-1-4:1995半導体パッケージ規定寸法の測定方法(集積回路)英訳併記NO.13
Method of Measuring Semiconductor Device Package Dimensions (Integrated Circuits)
EIAJ ED-7500A:1996半導体デバイスの標準外形図(個別半導体)英訳併記NO.13
Standards for the Dimensions of Semiconductor Devices(Discrete Semiconductor Devices)
EIAJ ED-7500A-1:2002半導体デバイスの標準外形図(個別半導体)追補1英訳併記NO.13
Standards for the Dimensions of Semiconductor Devices(Discrete Semiconductor Devices)
JEITA ED-7500A-2:2006半導体デバイスの標準外形図(個別半導体)追補2英訳併記NO.13
Standards for the Dimensions of Semiconductor Devices(Discrete Semiconductor Devices)
JEITA ED-7502:2006個別半導体パッケージ個別規格作成マニュアル英訳併記NO.13
Manual for the preparation of outline drawings of discrete semiconductor packages
EIAJ ED-7611:2001TSOP用トレイEIAJ EDX-7611改正
英訳併記
NO.13
Tray for Thin Small Outline Packages
EIAJ ED-7613:2002BGAパッケージ用トレイ英訳併記NO.13
Tray for Ball Grid Array Packages
EIAJ ED-7614:2001QFP用トレイ英訳併記NO.13
Tray for Quad Flat Packages
EIAJ ED-7616:2003QFJ用トレイ英訳併記NO.14
Tray for Quad Flat J-Lead Packages
EIAJ ED-7631:2001半導体製品出荷用マガジンに於けるリサイクルのための表示方法英訳併記NO.14
Marking method for recycle of semiconductor device packing magazines
JEITA ED-7701A:2012半導体ソケット用語(BGALGAFBGA及びFLGA)英訳併記NO.14
Glossary of semiconductor socket for BGA,LGA,FBGA,and FLGA
JEITA ED-7702A:2012テスト・アンド・バーンイン・ソケット試験方法英訳併記NO.14
Test Methods for Test and Burn-In Socket
JEITA ED-7715:2006半導体ソケット個別規格オープントップ[54/64ピンTSOP(タイプ2)]英訳併記NO.14
Standard for open-top type socket[54/66 Pin Thin Small Outline Package(Type2)]
JEITA ED-7716:2006半導体ソケット個別規格オープントップ(メモリ用FBGA)英訳併記NO.14
Standard for open-top type socket [Fine-pitch Ball Grid Array (FBGA) for Memory IC]
EIAJ EDR-2001:2000電子ディスプレイデバイス技術ガイド(CRTLCD及びPDPの解説・用語)" NO.14
JEITA EDR-4101:2011リードレス形シリコンダイオード NO.14
JEITA EDR-4102:2011小信号ダイオード,小信号トランジスタ及び個別半導体デバイスの形名 NO.14
EIAJ-4301:1994マイクロ波半導体素子測定用供試素子マウントに関する一般的注意事項 NO.14
JEITA EDR-4701C:2010半導体デバイスの取扱いガイド英訳併記NO.14
Handing Guidance for Semiconductor Devices
EIAJ EDR-4702:1996半導体デバイスの品質・信頼性試験方法規格対照表 NO.14
JEITA EDR-4703A:2008ベアダイの品質ガイドライン英訳併記NO.14
Quality Guidelines for Bare Die
JEITA EDR-4704A:2007半導体デバイスの加速寿命試験運用ガイドライン英訳併記NO.15
Application guide of the accelerated life test for semiconductor devices
EIAJ EDR-4705:2005JEITAソフトエラー試験ガイドライン英訳併記NO.15
JEITA SER Testing Guideline
EIAJ EDR-4706:2006FLASHメモリの信頼性ガイドライン英訳併記NO.15
Guide for the Reliability Specification of FLASH Memory
JEITA EDR-4707:2008LSIの故障メカニズム及び試験方法に関する調査報告英訳併記NO.15
Report on Failure Mechanism of LSI and reliability test method
JEITA EDR-4708:2011半導体集積回路 信頼性認定ガイドライン英訳併記NO.15
Guideline for LSI Reliability Qualification Plan
EIAJ EDR-5202:1999ASIC基本性能評価ガイドライン英訳併記NO.15
ASIC performance evaluation guideline
EIAJ EDR-5504:1996シリコンディスクRAM無し用途64Mビット級フラッシュメモリ仕様検討報告 NO.15
EIAJ EDR-7311A:2002集積回路パッケージデザインガイド プラスチッククワッドフラットパッケージ(P-QFP)英訳併記NO.15
Design guideline of integrated circuits for Plastic Quad Flat Package(P-QFP)
EIAJ EDR-7312:1996集積回路パッケージデザインガイド 薄形スモールアウトラインパッケージ(タイプⅠ)(TSOP(Ⅰ))英訳併記NO.15
Design guideline of integrated circuits for Thin Small Outline Package(Type1)(TSOP(Ⅰ))
EIAJ EDR-7313:1996集積回路パッケージデザインガイド 薄形スモールアウトラインパッケージ(タイプⅡ)(TSOP(Ⅱ))英訳併記NO.15
Design guideline of integrated circuits for Thin Small Outline Package(TypeⅡ)(TSOP(Ⅱ))
EIAJ EDR-7314A:2002集積回路パッケージデザインガイド シュリンクススモールアウトラインパッケージ(P-SSOP)英訳併記NO.15
Design guideline of integrated circuits for Plastic Shrink Small Outline Package(P-SOOP)
JEITA EDR-7315B:2006集積回路パッケージデザインガイド ボールグリッドアレイ(BGA)英訳併記NO.15
Design guide for semiconductor packages Ball Grid Array(BGA)
EIAJ EDR-7317:1998集積回路パッケージデザインガイド 縦形表面実装パッケージ(SVP)EIAJ ED-7424改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Surface Vertical Package(SVP)
EIAJ EDR-7318A:2002集積回路パッケージデザインガイド プラスチックスモールアウトラインノンリードパッケージ(P-SON)英訳併記NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Small Outline Non-leaded package(P-SON)
EIAJ EDR-7319:1998集積回路パッケージデザインガイド クワッドフラットJ-リードパッケージ(QFJ)旧ED7407改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits For Quad Flat J-lead Package(QFJ)
EIAJ EDR-7320:1998集積回路パッケージデザインガイド スモールアウトラインパッケージ(SOP)旧ED7402-1改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Small Outline Packages(SOP)
EIAJ EDR-7321:1999集積回路パッケージデザインガイド クワッドフラットI-リードパッケージ(QFI)旧ED-7409改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Quad Flat I-lead package(QFI)
EIAJ EDR-7322:1999集積回路パッケージデザインガイド プラスチックデュアルインラインパッケージ(DIP)旧ED-7403-1改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Dual Inline Package(DIP)
EIAJ EDR-7323A:2002集積回路パッケージデザインガイド ピングリッドアレイ(PGA)英訳併記NO.16
Design guideline of integrated circuits for Pin Grid Array(PGA)
EIAJ EDR-7325:1999集積回路パッケージデザインガイド クワッドフラットノンリードパッケージ(QFN)旧ED-7412改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Quad Flat Non-lead packages(QFN)
EIAJ EDR-7326A:2002集積回路パッケージデザインガイド ヒートシンク付スモールアウトラインパッケージ(P-HSOP)英訳併記NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Small Outline Package with Heat sink(P-HSOP)
EIAJ EDR-7327:2001集積回路パッケージデザインガイド シングル・インライン・パッケージ(SIP)旧EIAJ ED-7413改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Single Inline Package(SIP)
EIAJ EDR-7328:2001集積回路パッケージデザインガイド ジグザグインラインパッケージ(P-ZIP)旧EIAJ ED-7405,ED-7405-1改正
英訳併記
NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Zigzag Inline Package(P-ZIP)
EIAJ EDR-7329:2002集積回路パッケージデザインガイド プラスチックインタースティシャルランドグリッドアレイパッケージ(P-ILGA)英訳併記NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Interstitial Land Grid Array package(P-ILGA)
EIAJ EDR-7330:2002集積回路パッケージデザインガイド プラスチックスモールアウトラインJリードパッケージ(P-SOJ)英訳併記NO.16
Design guideline of integrated circuits for Plastic Outline J-Lead package(P-SOJ)
EIAJ EDR-7331:2002集積回路パッケージデザインガイド クワッドテープキャリヤパッケージ及びそのキャリア(QTP and Carrier)英訳併記NO.17
Design guideline of integrated circuits for Quad Tape Carrier packages and Carrier(QTP and Carrier)
EIAJ EDR-7332:2002集積回路パッケージデザインガイド デュアルテープキャリアパッケージ(タイプ1,タイプ2)(DTP(1)DTP(2))英訳併記NO.17
Design guideline of integrated circuits for Dual Tape Carrier packages (Type 1,Type 2 ,)(DTP(1),DTP(2))
JEITA EDR-7333:2008積層パッケージデザインガイド ファインピッチ・ボールグリッドアレイ及びファインピッチ・ランドグリッドアレイ(P-PFBGA and P-PFLGA)英訳併記NO.17
Design Guide for Stacked Packages Fine-pitch Ball Grid Array and Fine-pitch Land Grid Array (P-PFBGA and P-PFLGA)
JEITA EDR-7334:2008代表的熱変形測定方式の比較評価結果英訳併記NO.17
Evaluation results of typical measurement methods of temperature dependent warpage
JEITA EDR-7335:2010半導体パッケージ用語集(第一部 パッケージ名称及び部位名称) NO.17
JEITA EDR-7336:2010半導体製品におけるパッケージ熱特性ガイドライン NO.17
EIAJ EDR-7602:2000集積回路用トレイデザインガイド英訳併記NO.17
Design guideline of tray integrated circuits
EIAJ EDR-7603:2000BGA用低スタックトレイデザインガイド英訳併記NO.17
Design guideline of low stacking profile tray for Ball Grid Array packages
EIAJ EDR-7604:2004トレイ測定法テクニカルレポート英訳併記NO.17
Technical Report for Measuring Method of Tray
EIAJ EDR-7605:2004半導体包装の鉛フリー表示方法ガイド英訳併記NO.17
Making guideline of packing for lead-free semiconductor device
EIAJ EDR-7711:1999半導体ソケットデザインガイド オープントップタイプボールグリッドアレイ(BGA)英訳併記NO.17
Design guideline of open-top type socket for Ball Grid Array(BGA)
JEITA EDR-7712:2001半導体ソケットデザインガイド オープントップタイプ ファインピッチ・ボールグリッドアレイ/ファインピッチ・ランドグリッドアレイ(FBGA/FLGA)"英訳併記NO.17
Design guideline of open-top type socket for Fine-pitch Ball Grid Array and Land Grid Array(FBGA/FLGA)
JEITA EDR-7713:2002半導体ソケットデザインガイドクラムシェルタイプ ファインピッチ・ボールグリッドアレイ/ファインピッチ・ランドグリッドアレイ(FBGA/FLGA)英訳併記NO.17
Design guideline of clamshell type socket for Fine-pitch Ball Grid Array and Fine-pitch Land Grid Array (FBGA/FLGA)
JEITA EDR-7714:2008半導体ソケットデザインガイド クラムシェルタイプ ボールグリッドアレイ/ランドグリッドアレイ(BGA/LGA)英訳併記NO.17
Design guideline of clamshell type socket for Ball Grid Array and Land Grid Array (BGA/LGA)
JEITA EDR-7717:2010半導体ソケット位置決めシミュレーション技術レポート[FLGAタイプソケット] NO.18
JEITA EDX-7311-24:2008パッケージ積層時の昇温による反り測定方法と最大積層許容値英訳併記NO.18
Measurement methods and maximum warpage allowance for soldering stacked packages at elevated temperature
JEITA EM-3501:2002シリコン単結晶の結晶方位の測定方法旧JEIDA-18-2000
英訳付属
NO.18
JEITA EM-3501:2000Standard methods for determining the orientation of a semiconductor silicon single crystal
JEITA EM-3503:2002赤外吸収によるシリコン結晶中の置換型炭素原子濃度の標準測定法旧JEIDA-56-1998
英訳付属
NO.18
Standard test method for substitutional atomic carbon content of silicon by infrared absorption 
JEITA EM-3506:2003短波長励起マイクロ波光導電減衰法によるシリコンエピタキシャルウェーハ(p/p+n/n+)のエピ層の再結合ライフタイム測定方法英訳付属NO.18
The measurement method for recombination lifetime of the epilayer of the silicon epitaxial wafer (p/p+n/n+) by the short wavelength excitation microwave photoconductive decay method"
JEITA EM-3508:2005熱処理CZシリコンウェーハの内部微小欠陥密度及び無欠陥幅の計測方法英訳付属NO.18
Test Method for Bulk Micro Defect Density and Denuded Zone Width in Annealed Silicon Wafers
JEITA EM-3509:2005表面起電力法によるシリコンウェーハの少数キャリア拡散長測定のための試料の前処理法英訳付属NO.18
Sample preparation method for minority carrier diffusion length measurement in silicon wafers by surface photovoltage method
JEITA EM-3510:2007シリコン・ウェーハのエッジ・ロールオフの測定方法 NO.18
JEITA EM-3511:2009表面光起電力法を利用したp型シリコンウェーハ中のFe濃度測定法英訳付属NO.18
Method for measuring Fe concentration in p-type silicon wafers by using surface photovoltage method
JEITA EM-3512:2009シリコン結晶中の窒素濃度測定法 NO.18
JEITA EM-3601A:2004高純度多結晶シリコン標準品規格英訳付属NO.18
Standard specification for high purity polycrystalline silicon
JEITA EM-3602:2002シリコン鏡面ウェーハの寸法規格に関する標準仕様旧JEIDA-27-1999
英訳付属
NO.18
Standard specification for dimensional properties of silicon wafers with specular surfaces
JEITA EM-3603B:2006SOIウェーハの規格と標準測定法方法英訳付属NO.18
Standard of SOI wafers and metrogy
JEITA EM-3604:2005厚膜SOIウェーハ標準仕様英訳付属NO.19
Standard specification for thick film SOI wafers
JEITA EM-4501:2010圧電セラミック振動子の電気的試験方法旧EMAS-6100NO.19
JEITA EM-4502:2012磁気シールドルームの超低周波(1Hz以下)環境変動磁気ノイズに対する遮蔽性能評価法 NO.19
EMAS-4202:2000ガラスビート法によるチタン酸バリウムのBa/Tiモル比の蛍光X線分析方法 NO.19
EMAS-4203:2000ブリケット法によるチタン酸バリウムのBa/Tiモル比の蛍光X線分析方法 NO.19
EMAS/P-5007:2001縦置き薄型トランス用フェライト磁心(BM形)の寸法 NO.19
EMAS-9101:1995吸水率、見掛気孔率、かさ密度及び見掛密度※EMAS-9101~9012合冊NO.19
EMAS-9102:1995表面粗さ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9103:1995曲げ強さ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9104:1995弾性率※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9105:1995硬さ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9106:1995平均線膨張係数※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9107:1995熱衝撃耐力※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9108:1995熱拡散率、比熱容量及び熱伝導率※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9109:1995体積抵抗率及び表面抵抗率※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9110:1995絶縁破壊の強さ※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9111:1995比誘電率及び誘電正接※EMAS-9101~9012合冊
EMAS-9112:1995形状特性※EMAS-9101~9012合冊
JEITA EMR-3001:2004エッジロールオフがCMPのパフォーマンスに与えるインパクトに関する調査研究報告書英訳付属NO.19
The Impact of Edge roll-off on CMP performance
JEITA ET-2301B:2009CATVシステム・機器測定方法 NO.19
JEITA ET-2303B:2008CATV施設のシンボルマーク NO.19
JEITA ET-2306A:2004デジタルCATVシステム・機器測定方法 NO.19
JEITA ET-2502A:2010DCプラグ・ジャックを用いる機器に関する表示事項及び表示方法英訳付属NO.19
Designation items and methods for equipment using low voltage d.c. power supply plugs and jacks
JEITA ET-5101:20103D単独図規格 -データムと座標系、寸法表記の省略、形状の簡略化について- NO.19
JEITA ET-7001:2005電気・電子機器用材料、電子部品及び実装済み基板に対する特定の化学物質の含有及び非含有の表示 NO.20
JEITA ET-7102:2003ラジアルリード線端子部品のテーピング NO.20
JEITA ET-7103A:2009表面実装部品のプレスキャリアテーピング NO.20
JEITA ET-7200C:2010自動実装用部品のテーピングに用いるリユースリール NO.20
EIAJ ET-7201A:1996表面実装部品用リユースバルクケース英訳付属NO.20
Reusable bulk case for surface mounting devices
JEITA ET-7304A:2010ハロゲンフリーはんだ材料の定義 NO.20
JEITA ET-7305:2010錫ウィスカ抑制鉛フリー材料選定のガイドライン付録CD-ROMありNO.20
EIAJ ET-7404:1997ソルダペーストを用いた表面実装部品のはんだ付け性試験方法(平衡法) NO.20
EIAJ ET-7405:1998表面実装部品の耐超音波洗浄性試験方法旧RCX-0103
英訳併記
NO.20
Test Methods of Ultrasonic Cleaning Exposure of Surface Mounting Devices
JEITA ET-7407A:2010CSP・BGAパッケージの実装状態での環境及び耐久性試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-101A:2010表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第101部:引きはがし強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-102A:2010表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第102部:横押しせん断強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-103A:2010表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第103部:トルクせん断強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-104A:2010表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第104部:限界曲げ強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-105A:2010表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第105部:繰返し曲げ強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-106A:2010表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第106部:繰返し落下衝撃強度試験方法 NO.20
JEITA ET-7409-107:2010表面実装部品のはんだ接合耐久性試験方法-第107部:繰返し鋼球落下衝撃強度試験方法 NO.21
JEITA ET-7409/201:2005表面実装技術-はんだ接合耐久性試験方法-鉛フリーはんだによる挿入実装(リード端子)部品のはんだ接合部の引張り強度試験方法 NO.21
JEITA ET-7409/202:2005表面実装技術-はんだ接合耐久性試験方法-鉛フリーはんだによる挿入実装(リード端子)部品のはんだ接合部のクリープ強度試験方法 NO.21
JEITA ET-7409A:2008表面実装部品又はリード端子部品のはんだ接合部における接合耐久性試験方法の選定方法 NO.21
JEITA ET-7411:2009環境試験方法-電気・電子-極小表面実装部品のはんだ付け性試験方法(平衡法) NO.21
JEITA ET-7501:2003表面実装用部品のランドパターン設計指針:一般要求事項 NO.21
JEITA ET-7501/101:2003表面実装用部品のランドパターン設計指針:個別規格 品種別要求事項(角形端子、円筒形端子、内向きL型リボン端子、平面端子) NO.21
JEITA ET-7501/105:2006表面実装用部品のランドパターン設計指針:個別規格 品種別要求事項(4方向Jリード) NO.21
JEITA ET-7502:2008配線基板及びアセンブリ基板の設計構想-CADライブラリ作成のための電子部品の基準点/配置角度 NO.21
EIAJ ETR-7001:1998表面実装用語英訳併記NO.21
Terms and definitions for Surface Mount Technology
EIAJ ETR-7002:1996表面実装部品のテーピングに用いるリユースリールの回収及び再使用を推進するためのガイドライン NO.21
EIAJ ETR-7005:1997表面実装部品用バルクケースに関する調査報告書 NO.21
EIAJ ETR-7009:2000表面実装部品用リュースバルクケース使用上のガイドライン NO.21
JEITA ETR-7011:2001電子部品容器包装のリユース/リサイクル表示ガイド NO.21
JEITA ETR-7013A:2009バルク実装普及のためのガイダンス NO.22
JEITA ETR-7014:2002抵抗器バルク実装の調査研究報告 NO.22
JEITA ETR-7015:2002表面実装部品用小形バルクケースの評価報告 NO.22
JEITA ETR-7016:2002バルク部品・フィーダ整合化の調査研究報告 NO.22
JEITA ETR-7016-1:2003バルク部品・フィーダ整合化の調査研究報告 追補 1 NO.22
JEITA ETR-7017:2003表面実装部品の連続テープによるパッケージングの課題調査報告 NO.22
JEITA ETR-7021:2004電子・電気機器用材料、電子部品及び実装済み基板に対する鉛フリー表示のためのガイダンス NO.22
JEITA ETR-7022:2004表面実装部品のテーピングに係わるガイダンス NO.22
JEITA ETR-7023:2007第2世代フロー用はんだ標準化プロジェクト活動結果報告付録CD-ROMありNO.22
JEITA ETR-7024:2007鉛フリーはんだ接合部の信頼性に対するボイド許容基準の標準化に関する調査報告付録CD-ROMありNO.22
JEITA ETR-7025:2009表面実装部品のW8P1テーピング仕様に関する技術レポート NO.22
JEITA ETR-7026:2007自動実装用部品の容器包装用語 NO.22
JEITA ETR-7027:2011第2世代リフロー用ソルダペースト標準化プロジェクト活動中間報告 NO.22
EIAJ ETX-7112:2000表面実装部品用リュースバルクケース大形ケース NO.23
JEITA IT-1002A:2011情報システムの設備環境基準 NO.23
JEITA IT-1004A:2011産業用情報処理・制御機器設置環境基準 NO.23
JEITA IT-3001A:2010情報処理装置及びシステムのイミュニティ試験方法と限度値 NO.23
JEITA IT-3002A:2010パーソナルコンピュータの瞬時電圧低下対策 NO.23
JEITA IT-3011:2003プリンタ用標準テストパターン付録CD-ROMありNO.23
JEITA IT-4001:2003音声合成システム性能評価方法旧 JEIDA-G24-2000NO.23
JEITA IT-4003:2005日本語音声認識用読み記号 NO.23
JEITA IT-4005:2008音声認識エンジン性能評価方法のガイドライン NO.23
JEITA IT-4006:2010日本語テキスト音声合成用記号 NO.23
JEITA IT-4007:2012音声認識応用システムのための音声コマンド設計ガイドライン NO.23
JEITA IT-4011:2004光学式文字認識のための手書き文字(英小文字) NO.23
JEITA ITR-1001C:2011情報システムの設備ガイド NO.23
JEITA ITR-1005A:2011情報システム用接地に関するガイドライン NO.24
JEITA ITR-1006A:2011情報システム室の消火設備ガイドライン NO.24
EIAJ RC-0901:1992電子部品の製造年月及び製造年週表示記号 NO.24
JEITA RC-2002:2006電気・電子機器用表面実装用(SMD)コンデンサの低ESL測定方法 NO.24
JEITA RC-2003:2006電気・電子機器用リード線端子形コンデンサの低ESL測定方法 NO.24
EIAJ RC-2110:2001固定抵抗器の高周波特性測定方法 NO.24
EIAJ RC-2112:2000固定抵抗器の断続過負荷試験方法 NO.24
EIAJ RC-2121:1992角形厚膜チップコンダクタ NO.24
EIAJ RC-2123A:1998電子機器用固定抵抗器個別規格:電力形巻線固定抵抗器(角形)安定性クラス 5%-評価水準E NO.24
EIAJ RC-2125A:2001電子機器用固定抵抗器個別規格:絶縁形金属皮膜ヒューズ固定抵抗器-形状14 安定性クラス 5%-評価水準E NO.24
EIAJ RC-2127A:2010電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用円筒形金属皮膜コンダクタ-形状27 評価水準E NO.24
EIAJ RC-2128A:2010電子機器用固定抵抗器個別規格:放電用固定抵抗器-形状05及び形状14 安定化クラス10% -評価水準E NO.24
EIAJ RC-2129:2000表面実装用固定ネットワーク抵抗器(独立端子) NO.24
EIAJ RC-2130:2000表面実装用固定ネットワーク抵抗器(共通端子) NO.24
EIAJ RC-2131A:1998電子機器用固定抵抗器個別規格:円筒形炭素皮膜チップ固定抵抗器-形状27 安定性クラス 5%-評価水準E NO.24
EIAJ RC-2132A:1998電子機器用固定抵抗器個別規格:円筒形金属皮膜チップ固定抵抗器-形状27 安定性クラス1%-評価水準E NO.24
JEITA RC-2133C:2010電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用角形金属皮膜固定抵抗器-形状73 安定化クラス 1%-評価水準E NO.24
JEITA RC-2134C:2010電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用角形金属系混合皮膜固定抵抗器-形状73安定化クラス5%-評価水準E NO.24
EIAJ RC-2135:1995正温度特性金属皮膜固定抵抗器 NO.25
EIAJ RC-2136:1998電子機器用固定抵抗器個別規格:炭素皮膜固定抵抗器-形状14安定性クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2137:1998電子機器用固定抵抗器個別規格:金属皮膜固定抵抗器-形状14安定性クラス2%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2138:1998電子機器用固定抵抗器個別規格:酸化金属皮膜固定抵抗器-形状12及び形状14安定性クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2141:1998電子機器用固定抵抗器個別規格:電力形巻線固定抵抗器(平形ラグ端子)安定性クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2142:1998電子機器用固定抵抗器個別規格:電力形巻線固定抵抗器(円筒形リード線端子)安定性クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2143:1998電子機器用固定抵抗器個別規格:電力形巻線固定抵抗器(円筒形ラグ端子)安定性クラス5%-評価水準E NO.25
JEITA RC-2144:2010電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用低抵抗値角形固定抵抗器-形状73安定化クラス5%-評価水準E NO.25
JEITA RC-2145:2004電子機器用固定抵抗器個別規格:表面実装用正温度特性角形金属皮膜固定抵抗器-形状73安定化クラス5%-評価水準E NO.25
EIAJ RC-2161:1991電子機器用表面実装用半固定可変抵抗器の標準ランド寸法旧EIAJ RCF-2002改正NO.25
EIAJ RC-2162:1993二重軸可変抵抗器の軸受及びシャフトの形状寸法旧EIAJ RC-2684B改正NO.25
EIAJ RC-2163:1993電子機器用炭素系混合体可変抵抗器-絶縁シャフト形旧EIAJ RC-2656A改正NO.25
EIAJ RC-2164:1993電子機器用炭素系混合体半固定ポテンショメータ-特性CA、CB、LA、LB、MA and MB旧EIAJ RC-2657A改正NO.25
EIAJ RC-2165:1993電子機器用非巻線ねじ駆動形及び回転形半固定ポテンショメータ-特性Y旧EIAJ RC-2662A改正NO.25
EIAJ RC-2166:1993電子機器用スライド形可変抵抗器旧EIAJ RC-2648B改正NO.25
EIAJ RC-2181:1993電子機器用精密級ポテンショメータの試験方法 NO.25
EIAJ RC-2320:1992電子機器用固定磁器コンデンサ円筒形チップ旧RC-8006改正NO.26
EIAJ RC-2321:1992電子機器用固定磁器コンデンサ 種類3旧RC-3403改正NO.26
JEITA RC-2322A:2007電子機器用固定コンデンサ個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサの外形寸法 NO.26
EIAJ RC-2342A:2002コンデンサ用メタライズドポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム NO.26
EIAJ RC-2342A-1:2002コンデンサ用メタライズドポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム 追補1 NO.26
EIAJ RC-2348A:2002コンデンサ用メタライズドポリプロピレン(PP)フィルム NO.26
EIAJ RC-2348A-1:2004コンデンサ用メタライズドポリプロピレン(PP)フィルム 追補1 NO.26
EIAJ RC-2352:1999電子機器用固定コンデンサ第2部:個別規格(指針):固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準E NO.26
EIAJ RC-2361A:2000タンタル電解コンデンサ用タンタル焼結素子の試験方法 NO.26
EIAJ RC-2362A:1999電子機器用固定コンデンサ-第4部:個別規格(指針):固定アルミニウムTCNQ錯塩固体電解コンデンサ評価水準E英訳併記
(解説を除く)
NO.26
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Part 4:Detail specification(guidance):Fixed aluminium electrolytic capacitors with TCNQ complex solid electrolyte Assesment level E
EIAJ RC-2364A:1999アルミニウム電解コンデンサ用電極はくの試験方法旧RC-2364
英訳併記
NO.26
Test methods of electrode foil for aluminium electrolytic capacitors
JEITA RC-2365B:2007電子機器用固定コンデンサ-個別規格(指針):エレクトロニックフラッシュ用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準EZ英訳併記NO.26
Fixed capacitors for use in electronic equipment - Detail specification (guidance):Fixed aluminium electrolytic capacitors with non-solid electrolyte for use in electronic flash equipment Assessment level EZ
EIAJ RC-2366A:1998電子機器用固定コンデンサ-第4部:個別規格(指針):固定両極性アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準E NO.26
EIAJ RC-2369:2001アルミニウム電解コンデンサ用マトリックストレイ旧EIAJ RCX-2369改正NO.26
JEITA RC-2371A:2004電子機器用固定固体・非固体電解コンデンサの推奨外形寸法EIAJ RC-2371ANO.26
EIAJ RC-2372:1997電子機器用アルミニウム非固体電解コンデンサの気密性試験方法 NO.27
EIAJ RC-2375:2000電子機器用固定コンデンサ 個別規格 表面実装固定タンタルコンデンサ(拡張品)、形状I評価水準E NO.27
JEITA RC-2461:2007電子機器用固定コンデンサ-品種別通則:アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ NO.27
JEITA RC-2462:2012電気・電子機器用リチウムイオンキャパシタの電気的特性の試験方法 NO.27
EIAJ RC-2520A:2001電子機器用ラジアル端子形・アキシャル端子形インダクタ(二端子形高周波固定コイル) NO.27
JEITA RC-2530B:2009電子機器用及び通信機器用表面実装固定インダクタ NO.27
EIAJ RC-2590A:1994カップ形フェライト磁心の寸法 NO.27
EIAJ RC-2591A:1999ねじ形フェライト磁心RC-2591NO.27
EIAJ RC-2592A:1999高周波コイル及び中間周波変成器用マガジンRC-2592NO.27
EIAJ RC-2594:1995電子機器用電磁遅延線の試験方法 NO.27
EIAJ RC-2595:1994放送受信機用アンテナフェライト磁心の試験方法 NO.27
EIAJ RC-2720A:1996電子機器用トランスのピン寸法 NO.27
EIAJ RC-2723A:1996電子機器用トランスのリーケージフラックスの測定方法 NO.27
EIAJ RC-2724A:2001電子機器用トランスの鉄心積層板の寸法 NO.27
EIAJ RC-2726:1999スイッチング電源用変圧器試験方法 NO.27
EIAJ RC-2727:2001電子機器用トランスの騒音レベル測定方法旧EIAJ RC-2722NO.27
EIAJ RC-5121A:1997電子機器用ディップスイッチ品種別通則 NO.27
EIAJ RC-5123:1991電子機器用電源スイッチ NO.28
EIAJ RC-5125:1994電子機器用スライドスイッチ NO.28
EIAJ RC-5126:2001電子機器用タクティルプッシュスイッチ品種別通則 NO.28
EIAJ RC-5127A:2000電子機器用ディップロータリスイッチ NO.28
EIAJ RC-5129:1996電子機器用ロータリスイッチ品種別通則 NO.28
EIAJ RC-5130:1997電子機器用トグルスイッチ品種別通則 NO.28
EIAJ RC-5200:1993コネクタ用語 公開
EIAJ RC-5203A:1997Y/C(S映像)コネクタ NO.28
JEITA RC-5204A:2011CCTVカメラ用オートアイリスレンズコネクタ旧EIAJ RC-5204改正NO.28
JEITA RC-5220B:2005高周波同軸C12形コネクタ旧EIAJ RC-5220A改正NO.28
EIAJ RC-5221A:1999高周波同軸C13形コネクタ旧RC-5221改正NO.28
EIAJ RC-5222A:1999高周波同軸C14形コネクタ旧RC-5222改正NO.28
EIAJ RC-5223A:1999高周波同軸C15形コネクタ旧RC-5223改正NO.28
EIAJ RC-5224A:1997電子機器用ID形コネクタ旧RC-5224改正NO.28
EIAJ RC-5226:1993音響機器用丸形コネクタ旧EIAJ RC-6709A改正NO.28
JEITA RC-5231A:2010電子機器用ピンプラグ・ジャック NO.29
EIAJ RC-5232:1997デジタル携帯電話(PDC方式)I/Oコネクタ NO.29
EIAJ RC-5233:1999高周波同軸BNC75Ωコネクタ旧RCX-5233NO.29
EIAJ RC-5234:1999高周波同軸SMAコネクタ旧RCX-5234NO.29
EIAJ RC-5235:1999高周波同軸TNCコネクタ旧RCX-5235NO.29
EIAJ RC-5236:1999音響機器用ラッチロック式丸型コネクタ旧RCX-5232NO.29
EIAJ RC-5237:1999デジタル放送映像信号用(Y、Pb、Pr)接続用D端子コネクタ NO.29
JEITA RC-5238A:2007IMT-2000携帯電話用コネクタA旧EIAJ RC-5238改正NO.29
EIAJ RC-5239:2000IMT-2000携帯電話用コネクタB NO.29
EIAJ RC-5240:2003携帯電話用角形コネクタ NO.29
JEITA RC-5241:2007電子機器用コネクタのウィスカ試験方法 NO.29
JEITA RC-5242:2008携帯電話用複合I/Oコネクタ NO.29
EIAJ RC-5320A:1992外部電源プラグ・ジャック(直流低電圧用・極性統一形)旧 RC-5320改正
英訳併記
NO.29
Plugs and Jacks for coupling an external low voltage power supply (Unified polarity Type)
EIAJ RC-5321:1998直流低電圧電源出力用ジャックと対応プラグ英訳併記NO.29
Jacks for low voltage DC power supply output and mating Plugs
EIAJ RC-5322:1998車載機器用直流12/24V共用形外部電源プラグ・ジャック英訳併記NO.29
Plugs and Jacks for coupling DC 12/24V power to electronic equipment used in a car
EIAJ RC-5325A:20044極小形単頭プラグ・ジャック英訳併記NO.29
4-Pole miniature concentric plugs and jacks
EIAJ RC-5326:2003AV機器用ACイントレット NO.30
JEITA RC-5327:20094極超小形単頭プラグ・ジャック NO.30
EIAJ RC-5720C:2006デジタルオーディオ機器用光コネクタ英訳併記NO.30
Connectors for Optical Fiber Cables for Digital Audio Equipment
EIAJ RC-6600:1990熱転写リボンカセットの形状と寸法の標準 NO.30
JEITA RC-8100B:2009音響機器通則 NO.30
JEITA RC-8101C:2008音響機器用語 NO.30
JEITA RC-8102B:2009音響機器用フェライト磁石の標準寸法 NO.30
JEITA RC-8103B:2009音響機器用鋳造磁石の標準寸法 NO.30
JEITA RC-8104B:2011音声通信用マイクロホン及びイヤホン NO.30
JEITA RC-8105B:2009音響機器用希土類磁石の標準寸法 NO.30
JEITA RC-8124B:2012スピーカシステム NO.30
JEITA RC-8125A:2009圧電スピーカ NO.30
JEITA RC-8126A:2012増幅器内蔵スピーカシステム NO.30
JEITA RC-8127A:2012ダイナミックスピーカ NO.30
JEITA RC-8140A:2010ヘッドホン及びイヤホン NO.30
JEITA RC-8141A:2008音楽鑑賞用ヘッドホン NO.30
EIAJ RC-8160A:2002マイクロホン NO.30
JEITA RC-8162B:2005マイクロホンの電源供給方式 NO.31
JEITA RC-8163B:2010マイクロホン・イヤホンコード試験方法 NO.31
JEITA RC-8180C:2010サウンダ及びブザー NO.31
JEITA RC-9130B:2007スイッチング電源通則(AC-DC) NO.31
JEITA RC-9131B:2007スイッチング電源試験方法(AC-DC) NO.31
EIAJ RC-9141:1995スイッチング電源試験方法(DC-DC) NO.31
EIAJ RC-9143:1997スイッチング電源通則(DC-DC) NO.31
EIAJ RC-9160A:1997単一出力形直流安定化電源(リニア方式)試験方法 NO.31
JEITA RCR-1001A:2007電気・電子機器用部品の安全アプリケーションガイド NO.31
JEITA RCR-2001:2003評価水準EZに関するガイダンス NO.31
JEITA RCR-2002A:2006表面実装(SMD)端子形コンデンサの低ESR/ESL測定方法の技術報告書 NO.31
JEITA RCR-2003:2005電気・電子機器用リード線端子形アルミニウム電解コンデンサの低ESR/ESL測定方法の技術報告書 NO.31
JEITA RCR-2004:2009ねじ端子形アルミニウム電解コンデンサの低ESL測定方法技術報告書 NO.31
EIAJ RCR-2112:1999低抵抗値の測定方法について NO.31
EIAJ RCR-2113:2002固定抵抗器の高周波特性測定方法の検証 NO.32
EIAJ RCR-2121A:2002電子機器用固定抵抗器の使用上の注意事項ガイドライン(固定抵抗器の安全アプリケーションガイド) NO.32
EIAJ RCR-2121A:2006Guideline of notabilia for fixed resistors for use in electronic equipment (Safety Application Guide for fixed resistors for use in electronic equipment)EIAJ RCR-2121Aの英訳NO.32
EIAJ RCR-2191A:2002電子機器用ポテンショメータの使用上の注意事項ガイドライン(ポテンショメータの安全アプリケーションガイド) NO.32
EIAJ RCR-2191A:2006Safety Application Guide for potentiometers for use in electronic equipmentEIAJ RCR-2191Aの英訳NO.32
EIAJ RCR-2334A:2002電子機器用半固定磁器コンデンサの使用上の注意事項ガイドライン(半磁器コンデンサの安全アプリケーションガイド) NO.32
EIAJ RCR-2335A:2006Safety Application Guide for fixed ceramic capacitors for use in electronic equipment最新版英訳は未発行NO.32
JEITA RCR-2335B:2008電子機器用固定磁器コンデンサの安全アプリケーションガイド NO.32
JEITA RCR-2335B-1:2009電子機器用固定磁器コンデンサの安全アプリケーションガイド(追補1) NO.32
EIAJ RCR-2350B:2002電子機器用固定プラスチックフィルムコンデンサ使用上の注意事項ガイドライン(電子機器用固定プラスチックフィルムコンデンサの安全アプリケーションガイド) NO.32
EIAJ RCR-2350C:2007Safety Application Guide for fixed plastic film capacitors for use in electronic equipment日本語版は未発行NO.32
EIAJ RCR-2360A:2000汎用インバータ用アルミニウム電解コンデンサの信頼性に関する調査報告書 NO.32
EIAJ RCR-2367B:2002電子機器用固定アルミニウム電解コンデンサの使用上の注意事項ガイドライン(電子機器用固定アルミニウム電解コンデンサの安全アプリケーションガイド) NO.33
EIAJ RCR-2367C:2006Safety Application Guide for fixed aluminium electrolytic capacitors for use in electronic equipment日本語版は未発行NO.33
EIAJ RCR-2368B:2002電子機器用固定タンタル固体電解コンデンサの使用上の注意事項ガイドライン(電子機器用固定タンタル固体電解コンデンサの安全アプリケーションガイド) NO.33
JEITA RCR-2370B:2006Safety Application Guide for fixed electric double layer capacitors2370Cの英訳は未発行NO.33
JEITA RCR-2370C:2008電気二重層コンデンサ(EDLC)の安全アプリケーションガイド(電気二重層コンデンサの使用上の注意事項ガイドライン) NO.33
EIAJ RCR-2374:1999タンタルチップコンデンサの使用電圧についての検討実験報告書 NO.33
EIAJ RCR-2376:1998小形タンタルチップコンデンサの表示指針 NO.33
JEITA RCR-2501A:2006Safety Application Guide for high frequency coils for use in electric equipment2501Bの英訳は未発行NO.33
JEITA RCR-2501B:2009電子機器用高周波コイルの安全アプリケーションガイド NO.33
JEITA RCR-2502:2005電子機器用高周波コイル用語集 NO.33
EIAJ RCR-2701A:2001スイッチング電源トランス・コイル用語集本体CD-ROM書庫
EIAJ RCR-2702:2001トランスの安全アプリケーションガイド NO.33
JEITA RCR-4800:2009電気・電子機器用電流ヒューズの安全アプリケーションガイド NO.33
EIAJ RCR-5100:2002電子機器用スイッチの安全アプリケーションガイド NO.33
EIAJ RCR-5201:1998SMTコネクタのガイドライン NO.34
EIAJ RCR-5202A:2009電子機器用コネクタの安全アプリケーションガイド NO.34
JEITA RCR-9101B:2006スイッチング電源用語集本体CD-ROM書庫
JEITA RCR-9102B:2006スイッチング電源の部品点数法による信頼度予測推奨規準(スイッチング電源のMTBF JEITA推奨算出基準) NO.34
JEITA RCR-9103A:2006スイッチング電源の保守・点検指針 NO.34
EIAJ RCR-9105A:2003スイッチング電源の安全アプリケーションガイド NO.34
JEITA RCX-2326:2007電子機器用固定コンデンサ-表面実装用積層磁器コンデンサ種類2A NO.34
EIAJ RCX-9150:1993直流電源装置の高調波電流規準 NO.34
EIAJ TT-2503A:1999船内指令装置 NO.34
EIAJ TT-3001A:2004導波管及びフランジ NO.34
EIAJ TT-3004A:200250Ω同軸管 NO.34
EIAJ TT-3005A:200250Ω同軸管用フランジ NO.34
EIAJ TT-3006A:2002方形導波管 NO.34
EIAJ TT-3007A:2004偏平導波管 NO.34
EIAJ TT-3008A:2001円形導波管 NO.35
EIAJ TT-3009A:1999方形導波管用フランジ NO.35
EIAJ TT-3010A:2004偏平導波管用フランジ NO.35
EIAJ TT-3011A:2004円形導波管用フランジ NO.35
JEITA TT-4501C:2011トランジスタメガホンにおける通達距離及び電池持続時間の表示方法 NO.35
JEITA TT-4502B:2006拡声装置の整合基準 NO.35
JEITA TT-4503B:2008拡声用増幅器試験方法 NO.35
JEITA TT-4506A:2006CCTVカメラ用レンズマウント(C及びCS)の取り付けねじ及びフランジ焦点距離 NO.35
JEITA TT-4507A:2011拡声装置とプロオーディオ機器の表示用語 NO.35
EIAJ TT-5002:1992オシロスコープ試験方法 NO.35
EIAJ TT-5003:1994信号発生器の性能の表し方旧 MA-023BNO.35
EIAJ TT-5004:1994計測器用インタフェースシステムのためのコード、フォーマット、プロトコル及び共通コマンドANSI/IEEE Std 488.2-1987
翻訳規格
公開
EIAJ TT-5005:1997電子計測器環境試験規格及び試験方法 NO.35
EIAJ TT-5006:1998電子計測器用語規格 NO.36
JEITA TT-6001:2008ITS車載器標準仕様 NO.36
JEITA TT-6002A:2008ITS車載器DSRC部標準仕様 NO.36
JEITA TT-6003A:2008ITS車載器カーナビ部標準仕様 NO.36
JEITA TT-6004:2007ITS車載器用音声合成記号 NO.36
EIAJ TTR-3002A:2001方形フレキシブル導波管 NO.36
EIAJ TTR-3003A:2001長尺可とう導波管 NO.36
EIAJ TTR-3012A:2003方形導波管及びフランジの検査ゲージ NO.36
JEITA TTR-4601B:2008CCTV機器用語 NO.36
JEITA TTR-4602B:2007CCTV機器スペック規定方法 NO.36
JEITA TTR-4604A:2006CCTV機器スペック規定方法(周辺機器用) NO.36
JEITA TTR-4605A:2012CCTV機器スペック規定方法(ネットワークカメラ用)英訳併記NO.36
Guideline of Specification for Closed Circuit Television Equipment(For Network Camera)